မြင့်မားသော တိကျမှုရှိသော Spectroscopic Ellipsometer | ဖျက်ဆီးခြင်းမရှိသော ပါးလွှာသော ဖလင်အထူနှင့် အလင်းယိုင်ညွှန်းကိန်း တိုင်းတာခြင်းစနစ်
မှာယူမှု ညွှန်ကြားချက်များ
ထုတ်ကုန်၏ထူးခြားသောသဘောသဘာဝကြောင့် စာမျက်နှာတွင်ပြသထားသောဈေးနှုန်းသည် တကယ့်ဈေးနှုန်းမဟုတ်ဘဲ အပ်ငွေဈေးနှုန်းဖြစ်သည်။ ဈေးနှုန်းသိရှိလိုပါက ဖောက်သည်ဝန်ဆောင်မှုကို ဆက်သွယ်ပါ။
ကြိုတင်ဆက်သွယ်ခြင်းမရှိဘဲ တိုက်ရိုက်မှာယူမှုများကို ပို့ဆောင်ပေးမည်မဟုတ်ပါ။ ပူးပေါင်းဆောင်ရွက်မှုအတွက် ကျေးဇူးတင်ပါသည်။ ထုတ်ကုန်အချက်အလက်များအတွက် ထုတ်ကုန်လက်ကမ်းစာစောင်များရယူရန် ဖောက်သည်ဝန်ဆောင်မှုဌာနသို့ ဆက်သွယ်ပါ။
အဓိကတိုင်းတာမှုများ
ဖလင်အထူ (တစ်လွှာမှ အများအပြားအထိ)
အလင်းယိုင်ညွှန်းကိန်း (n) နှင့် မျိုးသုဉ်းကိန်း (k)
Optical Band Gap (ဥပမာ)
မျက်နှာပြင်ကြမ်းတမ်းမှု
နည်းပညာဆိုင်ရာ အဓိကအချက်များ
ကျယ်ပြန့်သောရောင်စဉ်အပိုင်းအခြား- စွယ်စုံသုံးပစ္စည်းခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုအတွက် UV မှ NIR အထိလွှမ်းခြုံမှု
အာရုံခံနိုင်စွမ်းမြင့်မားခြင်း- အလွန်ပါးလွှာသော ဖလင်များကို နာနိုမီတာအောက် စကေးအထိ တိုင်းတာနိုင်စွမ်း
ထိတွေ့မှုမရှိခြင်းနှင့် ဖျက်ဆီးခြင်းမရှိခြင်း- R&D နှင့် ထုတ်လုပ်မှုပတ်ဝန်းကျင်များတွင် အာရုံခံနိုင်သော နမူနာများအတွက် အသင့်တော်ဆုံးဖြစ်သည်။
အဆင့်မြင့် မော်ဒယ်လ်ဆော့ဖ်ဝဲ- အသုံးပြုရလွယ်ကူသော လုပ်ငန်းစဉ်များဖြင့် ရှုပ်ထွေးသော multi-layer stack analysis ကို ပံ့ပိုးပေးသည်
အပလီကေးရှင်းများ
ဤစနစ်ကို semiconductor ထုတ်လုပ်ခြင်း၊ optical coating၊ flat panel display များ၊ photovoltaic (solar cell) ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှု၊ ပစ္စည်းသိပ္ပံသုတေသနနှင့် biosensing တို့တွင် ကျယ်ကျယ်ပြန့်ပြန့် အသုံးပြုကြသည်။
ကျွန်ုပ်တို့ရဲ့ ဖြေရှင်းချက်ကို ဘာကြောင့် ရွေးချယ်သင့်တာလဲ
ခိုင်မာသော R&D စွမ်းရည်ရှိသော ပရော်ဖက်ရှင်နယ်ထုတ်လုပ်သူတစ်ဦးအနေဖြင့်၊ ကျွန်ုပ်တို့သည် စက်ရုံတိုက်ရိုက်ဈေးနှုန်း၊ စိတ်ကြိုက်ပြင်ဆင်နိုင်သော ဖွဲ့စည်းမှုများနှင့် သီးသန့်နည်းပညာပံ့ပိုးမှုကို ပေးဆောင်ပါသည်။ ဓာတ်ခွဲခန်းခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုအတွက် benchtop စနစ် သို့မဟုတ် ထုတ်လုပ်မှုစောင့်ကြည့်ခြင်းအတွက် inline solution လိုအပ်သည်ဖြစ်စေ၊ ကျွန်ုပ်တို့သည် သင်၏တိကျသောတိုင်းတာမှုလိုအပ်ချက်များအတွက် ကိရိယာကို စိတ်ကြိုက်ပြင်ဆင်ပေးနိုင်ပါသည်။
ဈေးနှုန်းတောင်းခံပါ
သင့်လျှောက်လွှာကို ဆွေးနွေးရန် သို့မဟုတ် ဈေးနှုန်းတောင်းဆိုရန် ယနေ့ပင် ကျွန်ုပ်တို့ထံ ဆက်သွယ်ပါ။ ကျွန်ုပ်တို့အဖွဲ့သည် အကောင်းဆုံး အလွှာပါးတိုင်းတာခြင်း ဖြေရှင်းချက်ကို ရွေးချယ်ရာတွင် သင့်အား ကူညီပေးရန်အတွက် အခမဲ့ နည်းပညာဆိုင်ရာ အတိုင်ပင်ခံမှုကို ပေးပါသည်။
အဓိကနည်းပညာဆိုင်ရာကန့်သတ်ချက်များ
၁။ တိုင်းတာခြင်းစွမ်းရည်များ- ၁၆ ခုမြောက်အစီအစဥ် Mueller matrix ဒြပ်စင်များ၊ polarization spectrum Psi/Delta၊ refractive index၊ thickness၊ birefringence နှင့် dielectric constant စသည်တို့။
၂။ ရောင်စဉ်အကွာအဝေး: ၂၁၀nm-၁၆၉၀nm
၃။ လှိုင်းအလျား အကွာအဝေး: ≤0.8nm@210-1000nm၊ ≤3.5nm@1000-1690nm
၄။ တစ်ခုတည်းသောအမှတ်တိုင်းတာချိန်: ≤10s
၅။ မိုက်ခရို-အစက်အပြောက် အရွယ်အစား: ≤200μm
၆။ မော်ဂျူလာ နည်းပညာ- PCSCA dual rotary compensator system မော်ဂျူလာ
၇။ အလိုအလျောက် နမူနာအဆင့်- Z-ဝင်ရိုး အလိုအလျောက် ဖိုးကပ်စ်လုပ်ခြင်း၊ အများဆုံး ခရီးသွားနိုင်မှု ၁၈ မီလီမီတာ၊ အနည်းဆုံး အဆင့် ၁ မိုက်ခရိုမီတာ
၈။ ဖလင်အထူ ထပ်ခါတလဲလဲ တိကျမှု- ≤0.005nm (100nm SiO2/Si၊ တိုင်းတာမှု ၃၀ ကြိမ်၊ 1σ အဖြစ် တွက်ချက်သည်)
၉။ အလင်းယိုင်ညွှန်းကိန်း ထပ်ခါတလဲလဲ တိကျမှု- ≤၀.၀၀၀၂ (100nm SiO2/Si၊ တိုင်းတာမှု ၃၀ ကြိမ်၊ 1σ အဖြစ် တွက်ချက်သည်)
၁၀။ ပကတိဖလင်အထူတိကျမှု- ≤၀.၅% (100nm SiO2/Si၊ ပြင်ပမက်ထရိုလောဂျီအစီရင်ခံစာ ပေးထားသည်)
၁၁။ မြေပုံရေးဆွဲခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်- မြင့်မားသောတိကျမှု x/y အမျိုးအစား အလိုအလျောက်စကင်န်ဖတ်ခြင်းအဆင့်ကို အသုံးပြုထားပြီး၊ ၂/၄/၆/၈ လက်မ အလွှာများ၏ အလိုအလျောက်နေရာချထားမှုနှင့် စကင်န်ဖတ်ခြင်းတိုင်းတာမှုကို ပံ့ပိုးပေးသည်၊ ထပ်ခါတလဲလဲတိကျမှု ≤၆μm၊ 2D/3D ဖလင်အထူဖြန့်ဖြူးမှုမြေပုံများကို တစ်ချက်နှိပ်ရုံဖြင့် ထုတ်လုပ်ပေးသည်။
၁၂။ လေဆာအကွာအဝေးသတ်မှတ်ခြင်းနှင့် အာရုံစူးစိုက်ခြင်း- လေဆာရောင်ပြန်ဟပ်မှုအလင်းလမ်းကြောင်းမှတစ်ဆင့် အလိုအလျောက် အာရုံစူးစိုက်မှုအကွာအဝေးသတ်မှတ်ခြင်း၊ အာရုံစူးစိုက်မှုအကွာအဝေး ≤3mm
၁၃။ ကွာခြားချက်ပုံစံ- psi-diff နှင့် delta-diff ကွာခြားချက်ဒေတာကို အလိုအလျောက်တွက်ချက်သည်
၁၄။ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုဆော့ဖ်ဝဲ- အနည်းဆုံး တိုင်းတာမှုမုဒ် ၅ ခု၊ အလင်းတန်းပစ္စည်း ၁၀၀ ကျော်အတွက် built-in n/k ဒေတာဘေ့စ်တစ်ခုနှင့် စိတ်ကြိုက်ဒေတာဘေ့စ်များဖန်တီးခြင်းကို ပံ့ပိုးပေးသည်။ cauchy၊ Sellmeier၊ Tauc-Lorentz၊ Bspline နှင့် Oscillator မော်ဒယ်များအပါအဝင် single-layer၊ multi-layer (30 layers အထိ) နှင့် composite alternating thin film များအတွက် စမ်းသပ်ခြင်းနှင့် မော်ဒယ်လ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုစွမ်းရည်များရှိပြီး offline software licensing ကို ပံ့ပိုးပေးသည်။
နည်းပညာဆိုင်ရာ သတ်မှတ်ချက်များ
I. ပစ္စည်းကိရိယာမိတ်ဆက်
ME-Mapping Spectroellipsometry တွင် dual-rotation compensator modulation နည်းပညာနှင့် မြင့်မားသောတိကျမှုဒေတာခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုအယ်လဂိုရစ်သမ်များပေါင်းစပ်ထားသည်။ ၎င်းသည် Mueller matrix နှင့် polarization spectrum ၏ အစိတ်အပိုင်း ၁၆ ခုလုံးကို တစ်ကြိမ်တိုင်းတာမှုတွင် ရယူနိုင်ပြီး မြန်ဆန်ပြီး ပျက်စီးခြင်းမရှိသောနမူနာတိုင်းတာမှုကို ပြုလုပ်နိုင်စေပါသည်။ ကိရိယာသည် တည်ငြိမ်သော optical path ဒီဇိုင်းကို ကြွားဝါပြီး semiconductor-cooled detector ကို အသုံးပြုကာ စက္ကန့်ပိုင်းအတွင်း အလင်းပြင်းအားအချက်ပြမှုများကို ရယူသည်။ ၎င်းသည် ပိုမိုမြန်ဆန်သောတိုင်းတာမှုအမြန်နှုန်းနှင့် ပိုမိုတိကျမှုကို ပေးစွမ်းပြီး အထူ၊ refractive index၊ extinction coefficient နှင့် thin film ပစ္စည်းအမျိုးမျိုးအတွက် optical dielectric constant ကဲ့သို့သော parameters များကို တိကျစွာတိုင်းတာခြင်းကို ပံ့ပိုးပေးသည်။ ထို့အပြင်၊ အရွယ်အစားကြီးမားသောနမူနာအမျိုးမျိုး၏ multi-point mapping scanning တိုင်းတာမှုများအတွက် အရွယ်အစားအမျိုးမျိုးရှိသော "wafer repeatable positioning stages" များဖြင့် စိတ်ကြိုက်ပြင်ဆင်နိုင်သည်။
II. အသုံးချမှုအတိုင်းအတာ
Ellipsometrists များကို အဓိကအားဖြင့် semiconductors၊ flat panel display များ၊ solar photovoltaics၊ optical thin film များ၊ optical communications နှင့် nanomaterials များတွင် အသုံးပြုကြသည်။
III. အလုံးစုံနည်းပညာလိုအပ်ချက်များ
၁။ နည်းပညာဆိုင်ရာ သတ်မှတ်ချက်များ-
၁.၁ တိုင်းတာမှု ကန့်သတ်ချက်များ- ၁၆-အစီအစဥ် Mueller matrix အစိတ်အပိုင်းများ၊ Psi/Delta၊ refractive index၊ အထူ၊ birefringence နှင့် dielectric constant စသည်တို့။
၁.၂ ရောင်စဉ်အကွာအဝေး: ၂၁၀nm-၁၆၉၀nm;
၁.၃ တစ်မှတ်တိုင်းတာချိန်: ≤10s;
၁.၄ မိုက်ခရိုအစက် အရွယ်အစား: ≤၂၀၀μm;
၁.၅ မော်ဂျူလာရှင်းနည်းပညာ- PC1SCA နှစ်ထပ်လည်ပတ်မှုလျော်ကြေးပေးသည့် မော်ဂျူလာရှင်း;
၁.၆ အလိုအလျောက် နမူနာအဆင့်- အလိုအလျောက် z-ဝင်ရိုး အာရုံစူးစိုက်မှုကို ပံ့ပိုးပေးသည်၊ အများဆုံး ခရီးသွားချိန် ၁၈ မီလီမီတာ၊ အနည်းဆုံး အဆင့် ၁ μm;
၁.၇ ဖလင်အထူ ထပ်ခါတလဲလဲ တိကျမှု- ≤0.005nm (100nm SiO2/Si၊ တိုင်းတာမှု ၃၀ ကြိမ်၊ တွက်ချက်သည့် 1σ)။
၁.၈ ယိုင်ယွင်းမှုညွှန်းကိန်း ထပ်ခါတလဲလဲအသုံးပြုနိုင်မှု တိကျမှု- ≤၀.၀၀၀၂ (100nm SiO2/Si၊ ထပ်ခါတလဲလဲတိုင်းတာမှု ၃၀၊ တွက်ချက်ထားသော 1σ)။
၁.၉ ပကတိဖလင်အထူတိကျမှု- ≤၀.၅% (100nm SiO2/Si၊ ပြင်ပမက်ထရိုလောဂျီအစီရင်ခံစာ ပေးထားသည်)၊ μm
၁.၁၀ မြေပုံရေးဆွဲခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်- မြင့်မားသောတိကျမှု x/y-type အလိုအလျောက်စကင်န်ဖတ်ခြင်းအဆင့်ကို အသုံးပြုထားပြီး၊ ထပ်ခါတလဲလဲတိကျမှု ≤6μm ဖြင့် 2/4/6/8 လက်မအလွှာများ၏ အလိုအလျောက်နေရာချထားခြင်းနှင့် စကင်န်ဖတ်ခြင်းတိုင်းတာခြင်းကို ပံ့ပိုးပေးပြီး 2D/3D ဖလင်အထူဖြန့်ဖြူးမှုမြေပုံများကို တစ်ချက်နှိပ်ရုံဖြင့် ထုတ်လုပ်ပေးသည်။
၁.၁၁ လေဆာအကွာအဝေးရှာဖွေခြင်းနှင့် အာရုံစူးစိုက်ခြင်း- အာရုံစူးစိုက်မှုရှာဖွေခြင်းခရီးသွားချိန် ≤3mm ဖြင့် လေဆာရောင်ပြန်ဟပ်မှုအလင်းလမ်းကြောင်းကို အသုံးပြု၍ အာရုံစူးစိုက်မှုအကွာအဝေးကို အလိုအလျောက်နေရာချသည်။
၁.၁၂ ရုပ်ရှင်အထူတိုင်းတာမှုအပိုင်းအခြား: 1nm-10μm;
၁.၁၃ ကွာခြားချက် မော်ဒယ်- psi-diff နှင့် delta-diff ကွာခြားချက်ဒေတာကို အလိုအလျောက် တွက်ချက်ပေးသည်။
၁.၁၄ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာရေးဆော့ဖ်ဝဲ-
* ရောင်စဉ်တိုင်းတာမှုစွမ်းရည်များ- Mueller matrix အပြည့်အစုံ၏ ဒြပ်စင် ၁၆ ခု၊ Psi/Delta polarization spectroscopy၊ N/C/S၊ depolarization စသည်တို့။
* ဒေတာခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာနိုင်စွမ်း- single-layer နှင့် multi-layer (20 layers အထိ) isotropic နှင့် anisotropic thin film ပစ္စည်းများ၏ အထူနှင့် optical constants (n, k) ကို ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာနိုင်သည်။
* အစိတ်အပိုင်းများစွာပါဝင်သော အလွှာပါးများနှင့် အစုအဝေးပစ္စည်းများ၏ အလင်းဆိုင်ရာ ကိန်းသေများ၊ အလင်းယိုင်ညွှန်းကိန်း gradient distribution၊ ညီမျှသော မီဒီယာ၊ ကြမ်းတမ်းမှု စသည်တို့အတွက် မော်ဒယ်များကို ပံ့ပိုးပေးသည်။
* အသုံးများသော optical constant မော်ဒယ်များနှင့် အသုံးများသော oscillator မော်ဒယ်များ (Cauchy မော်ဒယ်၊ Lorentz မော်ဒယ်၊ Gaussian မော်ဒယ်၊ Drude၊ Sellmeier စသည်) ကို ပံ့ပိုးပေးပြီး graphical multi-oscillator hybrid မော်ဒယ်ကိုက်ညီမှုကို ပံ့ပိုးပေးသည်။
* 2D/3D မြေမျက်နှာသွင်ပြင်ပုံများကို ထုတ်ပေးခြင်း ၊ သမိုင်းဝင်ဒေတာများကို ကြည့်ရှုခြင်း ၊ ဒေတာများနှင့် သက်ဆိုင်ရာ အစီရင်ခံစာများကို ထုတ်ယူခြင်းနှင့် တည်းဖြတ်ခြင်းတို့ကို ပံ့ပိုးပေးပါသည်။
* ဒေတာထွက်ရှိမှုပုံစံများ- TXT၊ CSV၊ SNAP snapshot၊ raw spectrum၊ DAT စသည်တို့။
* phase delay တိုင်းတာမှုကို ပံ့ပိုးပေးပြီး phase delay၊ azimuth angle၊ optical rotation angle၊ amplitude ratio၊ order စသည်တို့ကို စမ်းသပ်နိုင်သည်။
* 1D/2D ပုံမှန် grating ဖွဲ့စည်းပုံ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းနှင့် မော်ဒယ်လ်လုပ်ခြင်း လုပ်ဆောင်ချက်များ ပါရှိသည်။
၂။ ဖွဲ့စည်းပုံစာရင်း-
၁) ellipsometer အဓိကယူနစ်တစ်စုံ။
၂) ဘဲလီဆိုမီထရီလက်မောင်းနှင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသည့်လက်မောင်းတစ်ခုစီ တစ်စုံစီ။
၃) အလိုအလျောက်နမူနာအဆင့်တစ်စုံ။
၄) ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာရေးဆော့ဖ်ဝဲတစ်စုံ။
၅) စံဆလိုက်တစ်စုံ။
၆) ကွန်ပျူတာ တစ်လုံး။
၇) debugging tools တစ်စုံ။
၈) မိုက်ခရို-အစက်အပြောက် တပ်ဆင်မှုတစ်စုံ။
၉) တစ်ခုမှာ ဖုန်စုပ်စုပ်ယူမှုစုပ်စက်;
၁၀) မြေပုံဖတ်ခြင်း အဆင့်တစ်ခု။
၃။ တိုင်းတာခြင်းနှင့် ထိန်းချုပ်ခြင်း ကွန်ပျူတာ
Windows 10 လည်ပတ်မှုစနစ်ပါရှိသော စီးပွားဖြစ် စက်မှုလုပ်ငန်းသုံး PC တစ်လုံးကို အသုံးပြုသည်။ CPU: i7 ပရိုဆက်ဆာ; မှတ်ဉာဏ်: 15GB; ဟာ့ဒ်ဒစ်: 1TB; LCD မော်နီတာ: ၂၄ လက်မ; မောက်စ်နှင့် ကီးဘုတ် ပါဝင်သည်။
၄။ ပတ်ဝန်းကျင်နှင့် စွမ်းအင်လိုအပ်ချက်များ-
၁) ပလက်ဖောင်းလိုအပ်ချက်များ- ၂.၀ မီတာ (အလျား) x ၁.၂ မီတာ (အနံ)၊ ၁၀၀ ကီလိုဂရမ်ထက်ပိုသော ဝန်တင်နိုင်စွမ်း (အလင်းတုန်ခါမှုအထီးကျန်မှုကို အကြံပြုထားသည်)။
၂) လည်ပတ်မှုအပူချိန်အပိုင်းအခြား: ၂၀ ~ ၃၀ ဒီဂရီစင်တီဂရိတ်
၃) ဆွေမျိုးစိုထိုင်းဆ: ၃၅% ~ ၆၀% RH
၄) ပါဝါထောက်ပံ့ရေးဗို့အား: 220VAC
၅) အဆင့် လက်ရှိ: RMS တန်ဖိုး 4A (220VAC) ထက်နည်းသည်။
၆) အများဆုံးပါဝါ: 800W
Ellipsometry တိုင်းတာခြင်း အရာဝတ္ထု
အယ်လစ်ဆိုမီထရီ တိုင်းတာခြင်း အခြေခံမူ
အယ်လစ်ဆိုမီထရီ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း လုပ်ငန်းစဉ်
Muller Matrix Ellipsometry
ME-L Mueller Matrix Ellipsometry
သုတေသနအဆင့် အပြည့်အဝ အလိုအလျောက် မြင့်မားသော တိကျမှုရှိသော Mueller matrix ellipsometry
အပြည့်အဝ အလိုအလျောက် ထောင့်ချိန်ညှိမှုနှင့် အာရုံစူးစိုက်မှုနည်းပညာ၊ တစ်ချက်နှိပ်ရုံဖြင့် လျင်မြန်စွာ တိုင်းတာခြင်း
လမ်းညွှန်ထားသော အပြန်အလှန်အကျိုးပြု လူသား-စက် မျက်နှာပြင်၊ အဆင်ပြေသော ဆော့ဖ်ဝဲလ် လည်ပတ်မှု အတွေ့အကြုံ
ကြွယ်ဝသော ပစ္စည်းဒေတာဘေ့စ်နှင့် အယ်လဂိုရီသမ် မော်ဒယ်စာကြည့်တိုက်၊ အစွမ်းထက်သော အချက်အလက် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှု စွမ်းရည်များ
နည်းပညာဆိုင်ရာ သတ်မှတ်ချက်များ
| မော်ဒယ်နံပါတ် | ME-L |
| အပလီကေးရှင်းများ | သုတေသန/စီးပွားရေးလုပ်ငန်းအဆင့် |
| အခြေခံလုပ်ဆောင်ချက်များ | Psi/Delta၊ R/T၊ Mueller Matrix နှင့် အခြား optical sensor များ |
| ရောင်စဉ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း | ၃၈၀-၁၀၀၀nm (၁၉၃-၂၅၀၀nm အထိ ချဲ့ထွင်နိုင်သည်) |
| တစ်ကြိမ်တိုင်းတာချိန် | ≤၁၅ စက္ကန့် |
| ထပ်ခါတလဲလဲတိုင်းတာခြင်း တိကျမှု | ၀.၀၀၅ နာနိုမီတာ |
| ပကတိတိကျမှု (လေကို ဖြတ်သန်းတိုင်းတာခြင်း) | ဘဲလီပိုမိုထရီ ကန့်သတ်ချက်များ: 4 = 45 ± 0.05°၊ A = 0 ± 0.1° Muller matrix: ထောင့်ဖြတ်ဒြပ်စင် m = 10.005 ထောင့်ဖြတ်မဟုတ်သော ဒြပ်စင် m = 0 ± 0.005 |
| ရောင်ပြန်ဟပ်မှုညွှန်းကိန်း ထပ်ခါတလဲလဲလုပ်ဆောင်နိုင်မှု တိကျမှု | ၀.၀၀၀၅ |
| အစက်အပြောက် အရွယ်အစား | အစက်အပြောက်ကြီးအရွယ်အစား: ၂-၄ မီလီမီတာ အစက်အပြောက်အရွယ်အစားသေးငယ်ခြင်း- ၂၀၀ μm/၁၀၀ μm အလွန်သေးငယ်သော အစက်အပြောက် အရွယ်အစား: 50 μm (လှိုင်းအလျားပေါ် မူတည်၍) |
ထပ်ခါတလဲလဲလုပ်ဆောင်နိုင်သော တိကျမှုအညွှန်းကိန်းသည် 100nm SiO2/Si စံနမူနာ၏ ထပ်ခါတလဲလဲတိုင်းတာမှု ၃၀ ခုအပေါ် အခြေခံသည်။
တူရိယာ၏ သီးခြားနည်းပညာဆိုင်ရာ ကန့်သတ်ချက်များသည် တကယ့်လုပ်ဆောင်ချက်ရှိသော မော်ဂျူးများနှင့် ဆက်စပ်ပစ္စည်းများနှင့် ဆက်စပ်နေပြီး ဇယားရှိ အချက်အလက်များသည် ရည်ညွှန်းရန်အတွက်သာ ဖြစ်သည်။
ရွေးချယ်နိုင်သော ဖွဲ့စည်းပုံများ
| တီးဝိုင်းရွေးချယ်မှု | VN: ၃၈၀-၁၆၅၀nm |
| V: ၃၈၀-၁၀၀၀nm | ကုလသမဂ္ဂ: ၂၁၀-၁၆၅၀nm |
| ခရမ်းလွန်ရောင်ခြည်: ၂၄၅-၁၀၀၀nm | DN: ၁၉၃-၁၆၅၀nm |
| ခရမ်းလွန်ရောင်ခြည်+: ၂၁၀-၁၀၀၀nm | UN+: ၂၁၀-၂၅၀၀nm |
| DUV: ၁၉၃-၁၀၀၀nm | DN+: ၁၉၃-၂၅၀၀ နာနိုမီတာ |
ထောင့်ရွေးချယ်မှု
ပုံသေ: ၆၅°
အလိုအလျောက်: ၄၅-၉၀°
လက်စွဲ: ၄၅-၉၀° (၅° တိုး)
အခြားရွေးချယ်စရာများ
မြေပုံရေးဆွဲခြင်း ရွေးချယ်စရာများ- ၁၀၀*၁၀၀ မီလီမီတာ/၂၀၀*၂၀၀ မီလီမီတာ
အပူချိန်ထိန်းချုပ်မှုအဆင့်: ၁၉၀-၅၅၀°C/RT-၁၀၀၀°C
ကြှနျုပျတို့အကွောငျး
စက်ရုံပရိုဖိုင်
ဘာကြောင့် ကျွန်ုပ်တို့ကို ရွေးချယ်သင့်သလဲ
အမြဲမေးလေ့ရှိသောမေးခွန်းများ
မေးခွန်း ၁: ကျွန်ုပ်တို့ကား မည်သူများနည်း။
A1: ၂၀၁၅ ခုနှစ်တွင် စတင်တည်ထောင်ခဲ့သော MSK (Tianjin) Cutting Technology CO.Ltd သည် စဉ်ဆက်မပြတ် ကြီးထွားလာခဲ့ပြီး Rheinland ISO 9001 ကို အောင်မြင်ခဲ့သည်။
စစ်မှန်ကြောင်းအထောက်အထားပြခြင်း။ ဂျာမန် SACCKE အဆင့်မြင့် ဝင်ရိုးငါးခုပါ ကြိတ်ခွဲရေးစင်တာများ၊ ဂျာမန် ZOLLER ခြောက်ခုပါ ကိရိယာစစ်ဆေးရေးစင်တာ၊ ထိုင်ဝမ် PALMARY စက်နှင့် အခြားနိုင်ငံတကာ အဆင့်မြင့်ထုတ်လုပ်မှုပစ္စည်းကိရိယာများဖြင့် ကျွန်ုပ်တို့သည် အဆင့်မြင့်၊ ပရော်ဖက်ရှင်နယ်နှင့် ထိရောက်သော CNC ကိရိယာကို ထုတ်လုပ်ရန် ကတိပြုပါသည်။
Q2: သင်က ကုန်သွယ်ရေးကုမ္ပဏီလား၊ ထုတ်လုပ်သူလား။
A2: ကျွန်ုပ်တို့သည် ကာဗိုက်ကိရိယာများ၏ စက်ရုံဖြစ်သည်။
Q3: တရုတ်နိုင်ငံရှိ ကျွန်ုပ်တို့၏ Forwarder သို့ ထုတ်ကုန်များ ပေးပို့နိုင်ပါသလား။
A3: ဟုတ်ကဲ့၊ တရုတ်နိုင်ငံမှာ Forwarder ရှိရင်၊ ကျွန်တော်တို့ ထုတ်ကုန်တွေကို သူ/သူမဆီ ပို့ပေးပါမယ်။
မေးခွန်း ၄: ဘယ်လိုငွေပေးချေမှုစည်းကမ်းချက်တွေကို လက်ခံနိုင်ပါသလဲ။
A4: ပုံမှန်အားဖြင့် ကျွန်ုပ်တို့သည် T/T ကို လက်ခံပါသည်။
Q5: OEM အော်ဒါတွေကို လက်ခံပါသလား။
A5: ဟုတ်ကဲ့၊ OEM နှင့် စိတ်ကြိုက်ပြင်ဆင်မှုများ ရရှိနိုင်ပါသည်၊ ထို့အပြင် ကျွန်ုပ်တို့သည် တံဆိပ်ပုံနှိပ်ခြင်းဝန်ဆောင်မှုကိုလည်း ပေးပါသည်။
Q6: ဘာကြောင့် ကျွန်တော်တို့ကို ရွေးချယ်သင့်တာလဲ။
A6:၁) ကုန်ကျစရိတ်ထိန်းချုပ်ခြင်း - သင့်လျော်သောဈေးနှုန်းဖြင့် အရည်အသွေးမြင့်ထုတ်ကုန်များကို ဝယ်ယူခြင်း။
၂) လျင်မြန်စွာ တုံ့ပြန်မှု - ၄၈ နာရီအတွင်း၊ ပရော်ဖက်ရှင်နယ်ဝန်ထမ်းများက သင့်အား ဈေးနှုန်းတစ်ခု ပေးပြီး သင့်စိုးရိမ်မှုများကို ဖြေရှင်းပေးပါလိမ့်မည်။
၃) အရည်အသွေးမြင့်မားခြင်း - ကုမ္ပဏီသည် ၎င်းပေးဆောင်သော ထုတ်ကုန်များသည် ၁၀၀% အရည်အသွေးမြင့်မားကြောင်း စိတ်ရင်းစေတနာဖြင့် အမြဲတမ်း သက်သေပြနေပါသည်။
၄) ရောင်းချပြီးနောက်ဝန်ဆောင်မှုနှင့် နည်းပညာဆိုင်ရာလမ်းညွှန်မှု - ကုမ္ပဏီသည် ဖောက်သည်၏လိုအပ်ချက်များနှင့် လိုအပ်ချက်များအရ ရောင်းချပြီးနောက်ဝန်ဆောင်မှုနှင့် နည်းပညာဆိုင်ရာလမ်းညွှန်မှုများကို ပေးပါသည်။
သင့်မက်ဆေ့ချ်ကို ကျွန်ုပ်တို့ထံ ပေးပို့ပါ-
-
အပေါက်ပြည့် မြေပြင်အပြည့် တိကျမှုမြင့်မားသော 3C စပရိန်...
-
စက်ရုံ CNC Morse Drill Chuck R8 Shank Arbors M...
-
MTA-GT BT-GT NT-GT ပုတ်ကိရိယာကိုင်ဆောင်ကိရိယာ
-
မြင့်မားသောတိကျမှုရှိသော အလိုအလျောက် 2.5D Optical Image Meter...
-
MORSE TAPER COLLET CHUCK ER
-
ကြိတ်စက်များ ဗိုင်းလိပ်တံကိရိယာ R8-ER32 Collet ချူ...
