MSK CNC TOOLS a anunțat astăzi lansarea seriei sale SR/RTIndicator de grosime a peliculei reflectorizante, un instrument optic de înaltă precizie conceput pentru măsurarea fără contact și nedistructivă a grosimii peliculelor subțiri de la nano la microni. Noua serie răspunde cererii tot mai mari de testare rapidă, precisă și repetabilă a grosimii peliculelor în fabricarea semiconductorilor, opticii, afișajelor și fotovoltaice.
Performanță optică inovatoare
Bazată pe principiul spectrometriei de reflectanță și interferența luminii reflectate de suprafețele și interfețele peliculelor, seria SR/RT permite caracterizarea rapidă a peliculelor subțiri cu un singur strat sau mai multe straturi. Printre modelele cheie se numără SR-M (380–900 nm, interval 50 nm–40 μm), SR-C (spectru extensibil până la 1650 nm, interval 15 nm–70 μm), SR-Mapping pentru cartografierea distribuției grosimii și RT-V pentru măsurarea reflexiei/transmisiei.
Sistemul atinge o repetabilitate de 0,02 nm (testat pe 100 nm SiO₂ pe o placă de siliciu, 30 de măsurători) și o precizie de măsurare de 0,4% sau 2 nm (oricare dintre acestea este mai mare). Timpul de măsurare per punct variază de la 0,5 la 3 secunde, permițând controlul calității în linie cu randament ridicat.
Testare nedistructivă, fără contact
Spre deosebire de stylus-urile mecanice sau de instrumentele cu ultrasunete, seria SR/RT utilizează optică cu incidență perpendiculară și o dimensiune mică a spotului (de la 4 μm până la 0,5–1,5 mm) pentru a măsura pelicule delicate fără niciun contact fizic. Acest lucru păstrează integritatea probei, fiind ideală pentru napolitane semiconductoare fragile, acoperiri optice, afișaje OLED/LCD și pelicule electronice flexibile.
Acoperire largă de aplicații
Noul aparat de măsurat grosimea peliculei este pregătit pentru diverse industrii:
- Semiconductor – Monitorizarea grosimii peliculei de wafer, straturi dielectrice și de pasivizare
- Acoperiri optice – Acoperiri antireflexive (AR), acoperiri cu reflexie ridicată (HR), filtre
- Fabricarea afișajelor – pelicule subțiri pentru afișaje OLED, LCD și flexibile
- Fotovoltaică – Testarea grosimii stratului antireflexie al celulelor solare
- Sticlă și acoperiri dure – Folii de sticlă arhitecturale și auto
- Electronică biomedicală și flexibilă – Filme subțiri de polimeri, substraturi
Personalizabil și pregătit pentru producție
Seria SR/RT permite configurații flexibile – de la unități portabile de cercetare și dezvoltare până la sisteme complet integrate în linie. Spectrul analitic poate fi extins la UV (200 nm) sau NIR (1650 nm) în funcție de cerințele clientului. Algoritmii avansați de bază gestionează pelicule de la straturi ultra-subțiri (15 nm) la straturi groase (70 μm) cu capacitate de rezoluție multi-strat.
Beneficii pentru clienți
- Timp de lansare pe piață mai rapid – Măsurarea rapidă și în timp real reduce blocajele în domeniul controlului calității (QC)
- Costuri de proprietate mai mici – Metoda nedistructivă elimină risipa de probe
- Randament îmbunătățit – Controlul precis al grosimii asigură consistența stratului de acoperire
- Integrare ușoară – Designul compact cu incidență perpendiculară simplifică configurarea
Disponibilitate și asistență
Seria SR/RT este disponibilă pentru livrare globală, cu documentație tehnică completă, îndrumări de instalare și asistență post-vânzare. Soluții personalizate sunt disponibile la cerere.
Pentru mai multe informații, vă rugăm să vizitațiIndicator de grosime a peliculei subțirisau contactațimolly@mskcnctools.com.
Despre MSK CNC TOOLS
MSK (Tianjin) International Trading CO.,Ltd a fost înființată în 2015, iar compania a continuat să crească și să se dezvolte în această perioadă. Compania a obținut certificarea Rheinland ISO 9001 în 2016. Dispune de echipamente de producție avansate la nivel internațional, cum ar fi centrul de rectificare de înaltă performanță cu cinci axe SACCKE din Germania, centrul de testare a sculelor cu șase axe ZOLLER din Germania și mașinile-unelte PALMARY din Taiwan. Se angajează să producă scule CNC de înaltă performanță, profesionale și eficiente.
Data publicării: 04 iunie 2026
