Tolok Ketebalan Filem Reflektif Siri SR/RT Baharu Memberikan Pengukuran Aras Nano yang Pantas dan Tidak Musnah

MSK CNC TOOLS hari ini mengumumkan pelancaran Siri SR/RTnyaTolok Ketebalan Filem Reflektif, instrumen optik berketepatan tinggi yang direka untuk pengukuran ketebalan filem nipis nano hingga mikron tanpa sentuhan dan tanpa pemusnah. Siri baharu ini menangani permintaan yang semakin meningkat untuk ujian ketebalan filem yang pantas, tepat dan boleh diulang dalam pembuatan semikonduktor, optik, paparan dan fotovoltaik.

Prestasi Optik Terobosan

Berdasarkan prinsip spektrometri pantulan dan gangguan cahaya yang dipantulkan daripada permukaan dan antara muka filem, Siri SR/RT membolehkan pencirian pantas filem nipis lapisan tunggal hingga berbilang lapisan. Model utama termasuk SR-M (julat 380–900 nm, 50 nm–40 μm), SR-C (spektrum boleh dilanjutkan sehingga 1650 nm, julat 15 nm–70 μm), Pemetaan SR untuk pemetaan taburan ketebalan dan RT-V untuk pengukuran pantulan/penghantaran.

Sistem ini mencapai kebolehulangan sebanyak 0.02 nm (diuji pada SiO₂ 100nm pada wafer silikon, 30 ukuran) dan ketepatan pengukuran sebanyak 0.4% atau 2 nm (yang mana lebih besar). Masa pengukuran setiap titik adalah antara 0.5 hingga 3 saat, membolehkan kawalan kualiti sebaris berdaya pemprosesan tinggi.

Ujian Tanpa Sentuhan, Tanpa Musnah Sejati

Tidak seperti stylus mekanikal atau tolok ultrasonik, Siri SR/RT menggunakan optik tuju serenjang dan saiz titik yang kecil (dari 4 μm sehingga 0.5–1.5 mm) untuk mengukur filem halus tanpa sebarang sentuhan fizikal. Ini mengekalkan integriti sampel, menjadikannya sesuai untuk wafer semikonduktor rapuh, salutan optik, paparan OLED/LCD dan filem elektronik fleksibel.

Liputan Aplikasi Luas

Tolok ketebalan filem baharu sedia untuk pelbagai industri:

  • Semikonduktor – Pemantauan ketebalan filem wafer, lapisan dielektrik dan pasifasi
  • Salutan optik – Salutan anti-pantulan (AR), salutan pantulan tinggi (HR), penapis
  • Pembuatan paparan – OLED, LCD dan filem nipis paparan fleksibel
  • Fotovoltaik – Ujian ketebalan salutan anti-pantulan sel solar
  • Kaca & lapisan keras – Filem kaca seni bina dan automotif
  • Elektronik bioperubatan & fleksibel – Filem polimer nipis, substrat

Boleh Disesuaikan dan Sedia untuk Pengeluaran

Siri SR/RT menyokong konfigurasi fleksibel – daripada unit R&D mudah alih kepada sistem sebaris bersepadu sepenuhnya. Spektrum analitikal boleh dilanjutkan kepada UV (200 nm) atau NIR (1650 nm) mengikut keperluan pelanggan. Algoritma teras lanjutan mengendalikan filem daripada lapisan ultra nipis (15 nm) hingga tebal (70 μm) dengan keupayaan resolusi berbilang lapisan.

Faedah Pelanggan

  • Masa ke pasaran yang lebih pantas – Pengukuran berkelajuan tinggi masa nyata mengurangkan kesesakan QC
  • Kos pemilikan yang lebih rendah – Kaedah tanpa pemusnah menghapuskan sisa sampel
  • Hasil yang dipertingkatkan – Kawalan ketebalan yang tepat memastikan konsistensi salutan
  • Integrasi mudah – Reka bentuk padat dengan insiden serenjang memudahkan persediaan

Ketersediaan dan Sokongan

Siri SR/RT tersedia untuk penghantaran global dengan dokumentasi teknikal penuh, panduan pemasangan dan sokongan selepas jualan. Penyelesaian tersuai tersedia atas permintaan.

Untuk maklumat lanjut, sila layariTolok ketebalan filem nipisatau hubungimolly@mskcnctools.com.


Mengenai MSK CNC TOOLS

MSK (Tianjin) International Trading CO.,Ltd ditubuhkan pada tahun 2015, dan syarikat ini terus berkembang dan membangun dalam tempoh ini. Syarikat ini lulus pensijilan Rheinland ISO 9001 pada tahun 2016. Ia mempunyai peralatan pembuatan canggih antarabangsa seperti pusat pengisaran lima paksi SACCKE mewah Jerman, pusat ujian alat enam paksi ZOLLER Jerman, dan alat mesin PALMARY Taiwan. Ia komited untuk menghasilkan alat CNC mewah, profesional dan cekap.

tentang kami

Masa siaran: 04 Jun 2026

Hantarkan mesej anda kepada kami:

Tulis mesej anda di sini dan hantarkannya kepada kami