Fullspektrum gnistspektrometer för metallmaterialanalys
Produktinformation
| Detektor | Flera högpresterande linjeskannings-CCD:er | Lufttryck | 4-5 bar |
| Genomsnittlig effekt | 1200 W | Optisk enhet | dvd |
| Standby-ström | 70 W | Hårddisk | 250 GB |
| Våglängdsområde | 170–800 nm | Nuvarande | 1-80A |
| Optisk kammartemperatur | 34℃± 0,5℃ | Minne | 1 GB DDR2 |
| Gitterspårdensitet | 2400 l/mm | Frekvens | 100–1000 Hz |
| Produktdiameter | 350 mm | Chipset | AMD 690G + AMD SB600 |
| Pixelupplösning | 12:00 | Övervaka | 19-tums LCD-skärm |
| Spektral linjespridning | 1,5 nm/mm | Processor | AMD Dual-core 64X2 5200+ |
Järnmatriselement i direktavläsande spektrometrar
CX-9600 Direktavläsningsspektrometer: Järnmatriselement, valbara analysområden
| FE-000 | FE-001 | FE-002 | FE-003 | FE-004 | FE-005 | FE-006 | FE-007 | FE-008 | ||
| Serienummer | Element | Allmän linje | Låglegerat stål | Gjutjärn | Cr/Ni rostfritt stål | Högmanganstål | Högkromigt gjutjärn | Cr-stål | Höghastighetsverktygsstål | Ni-stål |
| 1 | C | 0,0015–4,3 | 0,0015-1,3 | 1,8–4,7 | 0,09–4,0 | 0,3–1,7 | 0,2–3,4 | 0,04–2,2 | 0,03–2,1 | 1,2–3,5 |
| 2 | Si | 0,001–5,6 | 0,03–2,1 | 0,2–4,7 | 0,12–1,6 | 5.3-23 | 0,1–2,5 | 0,1–1,4 | 0,04–1,5 | 0,04–1,5 |
| 3 | Mn | 0,001–19,6 | 0,03–2,1 | 0,06–4,5 | 0,012-16 | 5.3-23 | 0,1–2,4 | 0,1–1,5 | 0,04–1,7 | 0,001–2,1 |
| 4 | P | 0,0015–2,4 | 0,002–0,12 | 0,02–0,8 | 0,003–0,3 | 0,01–0,2 | 0,01–0,3 | 0,006–0,05 | 0,004–0,07 | 0,0015–0,56 |
| 5 | S | 0,0015–0,35 | 0,002–0,16 | 0,003–0,2 | 0,001–0,4 | 0,006–0,11 | 0,001–0,15 | 0,006–0,03 | 0,001–0,06 | 0,0015–0,24 |
| 6 | Cr | 0,001–32,1 | 0,01–4,5 | 0,03–10,5 | 7.4-32 | 0,08–3,8 | 0,4-34 | 7.8-24 | 1,8-14 | 0,0015-9,1 |
| 7 | Ni | 0,002–43,4 | 0,004–4,4 | 0,05–6,8 | 0,08-32 | 0,04–3,5 | 0,05-32 | 0,09–4,2 | 0,07–0,55 | 0,9–36,6 |
| 8 | Mo | 0,001–9,5 | 0,004–1,3 | 0,01–2,1 | 0,08–4,2 | 0,1–2,0 | 0,1-4 | 0,02-1 | 0,02–9,4 | 0,0015-1,5 |
| 9 | Al | 0,003–2,1 | 0,003–1,5 | 0,002–0,12 | 0,005–1,7 | 0,008–0,12 | 0,003–1,5 | 0,1–1,7 | 0,005–1,6 | 0,005–0,3 |
| 10 | Cu | 0,002–8,1 | 0,002–0,5 | 0,06–2,2 | 0,05–4,5 | 0,002–0,6 | 0,06–1,5 | 0,02–0,5 | 0,004–0,5 | 0,005–0,3 |
| 11 | Co | 0,001–17,9 | 0,001–0,5 | 0,008–0,03 | 0,008-17 | 0,007–0,1 | 0,001–0,5 | 0,01–0,5 | 0,008–8,0 | |
| 12 | Ti | 0,002–1,2 | 0,002–1,2 | 0,007–1,0 | 0,005–1,1 | 0,004–0,1 | 0,001–0,14 | 0,006–0,4 | 0,006–0,4 | 0,003–0,38 |
| 13 | Nb | 0,002–2,0 | 0,002–0,3 | 0,002–0,7 | 0,02–2,0 | 0,003–0,42 | 0,1–0,7 | 0,002–0,7 | 0,002–0,7 | 0,003–0,38 |
| 14 | V | 0,003–19,5 | 0,003–0,9 | 0,01–0,7 | 0,02–9,5 | 0,01–0,84 | 0,02–1,2 | 0,03–1,1 | 0,03–2,5 | |
| 15 | W | 0,03-19 | 0,03–2,1 | 0,007–1,0 | 0,002–4,1 | 0,03–2,1 | 0,03–2,1 | 0,05–0,7 | 0,06-19 | |
| 16 | Pb | 0,001–0,07 | 0,003–0,03 | 0,002–0,04 | 0,001–0,02 | 0,003–0,03 | 0,003–0,03 | 0,003–0,03 | 0,001–0,07 | |
| 17 | Mg | 0,001–0,14 | 0,001–0,14 | 0,001–0,14 | 0,001–0,14 | 0,001–0,14 | 0,001–0,14 | 0,001–0,14 | 0,001–0,14 | 0,005–0,025 |
| 18 | B | 0,006–0,5 | 0,006–0,02 | 0,002–0,5 | 0,007–0,02 | 0,009–0,02 | 0,006–0,02 | 0,006–0,02 | 0,006–0,02 | |
| 19 | Sn | 0,001–0,3 | 0,001–0,09 | 0,003–0,3 | 0,003–0,05 | 0,008–0,07 | 0,001–0,09 | 0,001–0,09 | 0,007–0,05 | |
| 20 | Zn | 0,002–0,4 | 0,002–0,04 | 0,005–0,3 | 0,002–0,08 | 0,002–0,07 | 0,002–0,04 | 0,002–0,04 | 0,002–0,04 | |
| 21 | Bi | 0,001–0,03 | 0,001–0,01 | 0,006–0,03 | 0,004–0,003 | 0,001–0,01 | 0,001–0,01 | 0,001–0,01 | 0,001–0,01 | |
| 22 | Ca | 0,0004–0,02 | 0,0004–0,002 | 0,0004–0,002 | 0,003–0,001 | 0,0004–0,002 | 0,0004–0,002 | 0,0004–0,002 | 0,004–0,02 | |
| 23 | Fe | Ersättning | Ersättning | Ersättning | Ersättning | Ersättning | Ersättning | Ersättning | Ersättning | Ersättning |
Funktioner för programvaruanalys
| Kraftfulla analysfunktioner | Standardisering av hela eller delar av kalibreringskurvan med hjälp av enpunkts- eller tvåpunktskalibreringsmetoder Typkalibreringsfunktion Repeterbarhetskontroller under kalibrering och analys Lägg till nya kalibreringskurvor Lägg till nya standardprover till befintliga kalibreringskurvor Intern standardkalibreringsfunktion, matriskorrigeringsfunktion Automatisk omkoppling av analyslinjer Automatisk extrapolering och flaggning av analysresultat utanför kalibreringskurvans område |
| Formulär för utdata med omfattande data | Användardefinierade element som ska detekteras och visningsordning Användardefinierade typer av element som ska detekteras, skrivas ut eller lagras Användardefinierat antal decimaler för detektering, utskrift eller lagring Användardefinierade exempelnamn Analysresultat kan visas som massprocent eller massprocent av flera relevanta spektrallinjer i form av substansinnehåll. Intensiteten kan matas ut som ljusintensitet; analysresultat kan presenteras med hjälp av koefficientkalibrerade intensitetskoefficienter eller korrigerade kalibrerade intensitetskoefficienter. Medelvärde, standardavvikelse och relativ standardavvikelse kan beräknas för mätresultat från valfritt antal excitationer. |
| Datalagring och utskriftsfunktioner | Data lagras i systemets inbyggda databas Data kan lagras i flera format Data kan lagras som individuella mätresultat och/eller medelvärden av flera testresultat Statistiska data kan lagras Lagrade data kan överföras manuellt eller automatiskt Individuella mätresultat och/eller medelvärden av flera testresultat kan skrivas ut Statistiska data kan skrivas ut All lagrad data kan skrivas ut manuellt eller automatiskt |
| Inbyggda diagnostiska funktioner | Argontrycksmonitor Vakuumstatusmonitor Automatisk spektraldriftkontroll Instrumentkalibreringsprocedurer och fellogg Visar all komplett spektraldata som lagrats i instrumentet och jämför den med befintliga testspektra |
| Andra funktioner | Betygsdatabas och anpassad betygsinmatningsfunktion Import- och exportfunktion för betygsdatabas (via Excel) Användardefinierad formelinmatningsfunktion |
Exakt identifiering och spåranalys
Optisk systemdesign
Genom att kombinera ny CCD-faststoffdetektorteknik med optimerad pixelupplösning (12 pm) och ny gitterspektroskopiteknik representerar detta system en ny generation av direktavläsningsspektroskopi för den digitala tidsåldern.
Design av det optiska vakuumkammarsystemet
För det första, eftersom det inte finns något behov av argonrensning i realtid från den optiska kammaren när instrumentet inte är i drift, minskas argonförbrukningen avsevärt, vilket sänker kundernas driftskostnader.
Systemet når ett stabilt driftläge på bara 30 minuter
Total Spectrum Acquisition (TSA)-teknik
Instrumentet möjliggör bekväm tillägg av spektrallinjer och matriser, vilket möjliggör multimatrisanalys utan behov av ytterligare hårdvara.
Om oss
Fabriksprofil
Varför välja oss
Vanliga frågor
F1: Vilka är vi?
A1: MSK (Tianjin) Cutting Technology CO.Ltd grundades 2015 och har vuxit kontinuerligt och klarat Rheinland ISO 9001
autentisering. Med tyska SACCKE avancerade femaxliga slipcenter, tyska ZOLLER sexaxliga verktygsinspektionscenter, Taiwan PALMARY-maskiner och annan internationell avancerad tillverkningsutrustning, är vi engagerade i att producera avancerade, professionella och effektiva CNC-verktyg.
Q2: Är du ett handelsföretag eller en tillverkare?
A2: Vi är fabriken för hårdmetallverktyg.
F3: Kan ni skicka produkter till vår speditör i Kina?
A3: Ja, om du har en speditör i Kina skickar vi gärna produkter till honom/henne.
F4: Vilka betalningsvillkor är acceptabla?
A4: Normalt accepterar vi T/T.
Q5: Accepterar ni OEM-beställningar?
A5: Ja, OEM och anpassning är tillgängliga, och vi tillhandahåller även etikettutskriftstjänster.
F6: Varför ska du välja oss?
A6:1) Kostnadskontroll - inköp av högkvalitativa produkter till ett lämpligt pris.
2) Snabb respons – inom 48 timmar kommer professionell personal att ge dig en offert och ta itu med dina frågor.
3) Hög kvalitet - Företaget bevisar alltid med uppriktig avsikt att de produkter det tillhandahåller är 100 % högkvalitativa.
4) Eftermarknadsservice och teknisk rådgivning - Företaget tillhandahåller eftermarknadsservice och teknisk rådgivning enligt kundens krav och behov.
