મેટલ મટીરીયલ એનાલિસિસ માટે ફુલ-સ્પેક્ટ્રમ સ્પાર્ક સ્પેક્ટ્રોમીટર
ઉત્પાદન માહિતી
| ડિટેક્ટર | બહુવિધ ઉચ્ચ-પ્રદર્શન લાઇન-સ્કેન CCD | હવાનું દબાણ | ૪-૫બાર |
| સરેરાશ શક્તિ | ૧૨૦૦ વોટ | ઓપ્ટિકલ ડ્રાઇવ | ડીવીડી |
| સ્ટેન્ડબાય પાવર | ૭૦ ડબલ્યુ | હાર્ડ ડિસ્ક | ૨૫૦ જીબી |
| તરંગલંબાઇ શ્રેણી | ૧૭૦ - ૮૦૦ એનએમ | વર્તમાન | ૧-૮૦એ |
| ઓપ્ટિકલ ચેમ્બર તાપમાન | ૩૪℃± ૦.૫℃ | મેમરી | ૧ જીબી ડીડીઆર ૨ |
| છીણવાની ખાંચની ઘનતા | ૨૪૦૦ લિટર/મીમી | આવર્તન | ૧૦૦ - ૧૦૦૦ હર્ટ્ઝ |
| ઉત્પાદન વ્યાસ | ૩૫૦ મીમી | ચિપસેટ | એએમડી 690જી + એએમડી એસબી600 |
| પિક્સેલ રિઝોલ્યુશન | બપોરે ૧૨ વાગ્યા | મોનિટર કરો | ૧૯-ઇંચ એલસીડી મોનિટર |
| સ્પેક્ટ્રલ રેખા વિક્ષેપ | ૧.૫ એનએમ/મીમી | પ્રોસેસર | એએમડી ડ્યુઅલ-કોર 64X2 5200+ |
ડાયરેક્ટ-રીડિંગ સ્પેક્ટ્રોમીટરમાં આયર્ન મેટ્રિક્સ તત્વો
CX-9600 ડાયરેક્ટ-રીડિંગ સ્પેક્ટ્રોમીટર: આયર્ન મેટ્રિક્સ તત્વો, પસંદગીયોગ્ય વિશ્લેષણ શ્રેણીઓ
| એફઇ-૦૦૦ | એફઇ-001 | એફઇ-002 | એફઇ-003 | એફઇ-004 | એફઇ-005 | એફઇ-006 | એફઇ-007 | એફઇ-008 | ||
| અનુક્રમ નં. | તત્વ | જનરલ લાઇન | લો એલોય સ્ટીલ | કાસ્ટ આયર્ન | Cr/Ni સ્ટેનલેસ સ્ટીલ | ઉચ્ચ મેંગેનીઝ સ્ટીલ | ઉચ્ચ-ક્રોમિયમ કાસ્ટ આયર્ન | સીઆર સ્ટીલ | હાઇ સ્પીડ ટૂલ સ્ટીલ | ની સ્ટીલ |
| 1 | C | ૦.૦૦૧૫-૪.૩ | ૦.૦૦૧૫-૧.૩ | ૧.૮-૪.૭ | ૦.૦૯-૪.૦ | ૦.૩-૧.૭ | ૦.૨-૩.૪ | ૦.૦૪-૨.૨ | ૦.૦૩-૨.૧ | ૧.૨-૩.૫ |
| 2 | Si | ૦.૦૦૧-૫.૬ | ૦.૦૩-૨.૧ | ૦.૨-૪.૭ | ૦.૧૨-૧.૬ | ૫.૩-૨૩ | ૦.૧-૨.૫ | ૦.૧-૧.૪ | ૦.૦૪-૧.૫ | ૦.૦૪-૧.૫ |
| 3 | Mn | ૦.૦૦૧-૧૯.૬ | ૦.૦૩-૨.૧ | ૦.૦૬-૪.૫ | ૦.૦૧૨-૧૬ | ૫.૩-૨૩ | ૦.૧-૨.૪ | ૦.૧-૧.૫ | ૦.૦૪-૧.૭ | ૦.૦૦૧-૨.૧ |
| 4 | P | ૦.૦૦૧૫-૨.૪ | ૦.૦૦૨-૦.૧૨ | ૦.૦૨-૦.૮ | ૦.૦૦૩-૦.૩ | ૦.૦૧-૦.૨ | ૦.૦૧-૦.૩ | ૦.૦૦૬-૦.૦૫ | ૦.૦૦૪-૦.૦૭ | ૦.૦૦૧૫-૦.૫૬ |
| 5 | S | ૦.૦૦૧૫-૦.૩૫ | ૦.૦૦૨-૦.૧૬ | ૦.૦૦૩-૦.૨ | ૦.૦૦૧-૦.૪ | ૦.૦૦૬-૦.૧૧ | ૦.૦૦૧-૦.૧૫ | ૦.૦૦૬-૦.૦૩ | ૦.૦૦૧-૦.૦૬ | ૦.૦૦૧૫-૦.૨૪ |
| 6 | Cr | ૦.૦૦૧-૩૨.૧ | ૦.૦૧-૪.૫ | ૦.૦૩-૧૦.૫ | ૭.૪-૩૨ | ૦.૦૮-૩.૮ | ૦.૪-૩૪ | ૭.૮-૨૪ | ૧.૮-૧૪ | ૦.૦૦૧૫-૯.૧ |
| 7 | Ni | ૦.૦૦૨-૪૩.૪ | ૦.૦૦૪-૪.૪ | ૦.૦૫-૬.૮ | ૦.૦૮-૩૨ | ૦.૦૪-૩.૫ | ૦.૦૫-૩૨ | ૦.૦૯-૪.૨ | ૦.૦૭-૦.૫૫ | ૦.૯-૩૬.૬ |
| 8 | Mo | ૦.૦૦૧-૯.૫ | ૦.૦૦૪-૧.૩ | ૦.૦૧-૨.૧ | ૦.૦૮-૪.૨ | ૦.૧-૨.૦ | ૦.૧-૪ | ૦.૦૨-૧ | ૦.૦૨-૯.૪ | ૦.૦૦૧૫-૧.૫ |
| 9 | Al | ૦.૦૦૩-૨.૧ | ૦.૦૦૩-૧.૫ | ૦.૦૦૨-૦.૧૨ | ૦.૦૦૫-૧.૭ | ૦.૦૦૮-૦.૧૨ | ૦.૦૦૩-૧.૫ | ૦.૧-૧.૭ | ૦.૦૦૫-૧.૬ | ૦.૦૦૫-૦.૩ |
| 10 | Cu | ૦.૦૦૨-૮.૧ | ૦.૦૦૨-૦.૫ | ૦.૦૬-૨.૨ | ૦.૦૫-૪.૫ | ૦.૦૦૨-૦.૬ | ૦.૦૬-૧.૫ | ૦.૦૨-૦.૫ | ૦.૦૦૪-૦.૫ | ૦.૦૦૫-૦.૩ |
| 11 | Co | ૦.૦૦૧-૧૭.૯ | ૦.૦૦૧-૦.૫ | ૦.૦૦૮-૦.૦૩ | ૦.૦૦૮-૧૭ | ૦.૦૦૭-૦.૧ | ૦.૦૦૧-૦.૫ | ૦.૦૧-૦.૫ | ૦.૦૦૮-૮.૦ | |
| 12 | Ti | ૦.૦૦૨-૧.૨ | ૦.૦૦૨-૧.૨ | ૦.૦૦૭-૧.૦ | ૦.૦૦૫-૧.૧ | ૦.૦૦૪-૦.૧ | ૦.૦૦૧-૦.૧૪ | ૦.૦૦૬-૦.૪ | ૦.૦૦૬-૦.૪ | ૦.૦૦૩-૦.૩૮ |
| 13 | Nb | ૦.૦૦૨-૨.૦ | ૦.૦૦૨-૦.૩ | ૦.૦૦૨-૦.૭ | ૦.૦૨-૨.૦ | ૦.૦૦૩-૦.૪૨ | ૦.૧-૦.૭ | ૦.૦૦૨-૦.૭ | ૦.૦૦૨-૦.૭ | ૦.૦૦૩-૦.૩૮ |
| 14 | V | ૦.૦૦૩-૧૯.૫ | ૦.૦૦૩-૦.૯ | ૦.૦૧-૦.૭ | ૦.૦૨-૯.૫ | ૦.૦૧-૦.૮૪ | ૦.૦૨-૧.૨ | ૦.૦૩-૧.૧ | ૦.૦૩-૨.૫ | |
| 15 | W | ૦.૦૩-૧૯ | ૦.૦૩-૨.૧ | ૦.૦૦૭-૧.૦ | ૦.૦૦૨-૪.૧ | ૦.૦૩-૨.૧ | ૦.૦૩-૨.૧ | ૦.૦૫-૦.૭ | ૦.૦૬-૧૯ | |
| 16 | Pb | ૦.૦૦૧-૦.૦૭ | ૦.૦૦૩-૦.૦૩ | ૦.૦૦૨-૦.૦૪ | ૦.૦૦૧-૦.૦૨ | ૦.૦૦૩-૦.૦૩ | ૦.૦૦૩-૦.૦૩ | ૦.૦૦૩-૦.૦૩ | ૦.૦૦૧-૦.૦૭ | |
| 17 | Mg | ૦.૦૦૧-૦.૧૪ | ૦.૦૦૧-૦.૧૪ | ૦.૦૦૧-૦.૧૪ | ૦.૦૦૧-૦.૧૪ | ૦.૦૦૧-૦.૧૪ | ૦.૦૦૧-૦.૧૪ | ૦.૦૦૧-૦.૧૪ | ૦.૦૦૧-૦.૧૪ | ૦.૦૦૫-૦.૦૨૫ |
| 18 | B | ૦.૦૦૬-૦.૫ | ૦.૦૦૬-૦.૦૨ | ૦.૦૦૨-૦.૫ | ૦.૦૦૭-૦.૦૨ | ૦.૦૦૯-૦.૦૨ | ૦.૦૦૬-૦.૦૨ | ૦.૦૦૬-૦.૦૨ | ૦.૦૦૬-૦.૦૨ | |
| 19 | Sn | ૦.૦૦૧-૦.૩ | ૦.૦૦૧-૦.૦૯ | ૦.૦૦૩-૦.૩ | ૦.૦૦૩-૦.૦૫ | ૦.૦૦૮-૦.૦૭ | ૦.૦૦૧-૦.૦૯ | ૦.૦૦૧-૦.૦૯ | ૦.૦૦૭-૦.૦૫ | |
| 20 | Zn | ૦.૦૦૨-૦.૪ | ૦.૦૦૨-૦.૦૪ | ૦.૦૦૫-૦.૩ | ૦.૦૦૨-૦.૦૮ | ૦.૦૦૨-૦.૦૭ | ૦.૦૦૨-૦.૦૪ | ૦.૦૦૨-૦.૦૪ | ૦.૦૦૨-૦.૦૪ | |
| 21 | Bi | ૦.૦૦૧-૦.૦૩ | ૦.૦૦૧-૦.૦૧ | ૦.૦૦૬-૦.૦૩ | ૦.૦૦૪-૦.૦૦૩ | ૦.૦૦૧-૦.૦૧ | ૦.૦૦૧-૦.૦૧ | ૦.૦૦૧-૦.૦૧ | ૦.૦૦૧-૦.૦૧ | |
| 22 | Ca | ૦.૦૦૦૪-૦.૦૨ | ૦.૦૦૦૪-૦.૦૦૨ | ૦.૦૦૦૪-૦.૦૦૨ | ૦.૦૦૩-૦.૦૦૧ | ૦.૦૦૦૪-૦.૦૦૨ | ૦.૦૦૦૪-૦.૦૦૨ | ૦.૦૦૦૪-૦.૦૦૨ | ૦.૦૦૪-૦.૦૨ | |
| 23 | Fe | ભથ્થું | ભથ્થું | ભથ્થું | ભથ્થું | ભથ્થું | ભથ્થું | ભથ્થું | ભથ્થું | ભથ્થું |
સોફ્ટવેર વિશ્લેષણ સુવિધાઓ
| શક્તિશાળી વિશ્લેષણ કાર્યો | સિંગલ-પોઇન્ટ અથવા બે-પોઇન્ટ કેલિબ્રેશન પદ્ધતિઓનો ઉપયોગ કરીને કેલિબ્રેશન વળાંકના બધા અથવા ભાગનું માનકીકરણ પ્રકાર કેલિબ્રેશન કાર્ય માપાંકન અને વિશ્લેષણ દરમિયાન પુનરાવર્તિતતા તપાસ નવા કેલિબ્રેશન કર્વ્સ ઉમેરો હાલના કેલિબ્રેશન કર્વ્સમાં નવા પ્રમાણભૂત નમૂનાઓ ઉમેરો આંતરિક માનક કેલિબ્રેશન કાર્ય, મેટ્રિક્સ કરેક્શન કાર્ય વિશ્લેષણાત્મક રેખાઓનું સ્વચાલિત સ્વિચિંગ કેલિબ્રેશન કર્વ રેન્જની બહાર વિશ્લેષણાત્મક પરિણામોનું સ્વચાલિત એક્સ્ટ્રાપોલેશન અને ફ્લેગિંગ |
| રિચ ડેટા આઉટપુટ ફોર્મ્સ | વપરાશકર્તા-વ્યાખ્યાયિત તત્વો શોધવા અને પ્રદર્શિત કરવાનો ક્રમ વપરાશકર્તા-વ્યાખ્યાયિત પ્રકારના તત્વો શોધવા, છાપવા અથવા સંગ્રહિત કરવા શોધ, છાપકામ અથવા સંગ્રહ માટે વપરાશકર્તા-વ્યાખ્યાયિત દશાંશ સ્થાનોની સંખ્યા વપરાશકર્તા-વ્યાખ્યાયિત નમૂના નામો વિશ્લેષણના પરિણામો પદાર્થ સામગ્રીના સ્વરૂપમાં બહુવિધ સંબંધિત વર્ણપટ રેખાઓના સમૂહ ટકાવારી અથવા સમૂહ ટકાવારી તરીકે આઉટપુટ કરી શકાય છે. તીવ્રતા પ્રકાશની તીવ્રતા તરીકે આઉટપુટ થઈ શકે છે; વિશ્લેષણ પરિણામો ગુણાંક-માપાંકિત તીવ્રતા ગુણાંક અથવા સુધારેલ-માપાંકિત તીવ્રતા ગુણાંકનો ઉપયોગ કરીને રજૂ કરી શકાય છે. કોઈપણ સંખ્યામાં ઉત્તેજનામાંથી માપન પરિણામો માટે સરેરાશ, પ્રમાણભૂત વિચલન અને સંબંધિત પ્રમાણભૂત વિચલનની ગણતરી કરી શકાય છે. |
| ડેટા સ્ટોરેજ અને પ્રિન્ટિંગ કાર્યો | ડેટા સિસ્ટમના બિલ્ટ-ઇન ડેટાબેઝમાં સંગ્રહિત થાય છે. ડેટા બહુવિધ ફોર્મેટમાં સંગ્રહિત કરી શકાય છે ડેટા વ્યક્તિગત માપન પરિણામો અને/અથવા બહુવિધ પરીક્ષણ પરિણામોના સરેરાશ તરીકે સંગ્રહિત કરી શકાય છે. આંકડાકીય માહિતી સંગ્રહિત કરી શકાય છે સંગ્રહિત ડેટા મેન્યુઅલી અથવા આપમેળે ટ્રાન્સફર કરી શકાય છે વ્યક્તિગત માપન પરિણામો અને/અથવા બહુવિધ પરીક્ષણ પરિણામોના સરેરાશ છાપી શકાય છે. આંકડાકીય માહિતી છાપી શકાય છે બધા સંગ્રહિત ડેટા મેન્યુઅલી અથવા આપમેળે છાપી શકાય છે |
| બિલ્ટ-ઇન ડાયગ્નોસ્ટિક કાર્યો | આર્ગોન પ્રેશર મોનિટર વેક્યુમ સ્ટેટસ મોનિટર ઓટોમેટિક સ્પેક્ટ્રલ ડ્રિફ્ટ કંટ્રોલ ઇન્સ્ટ્રુમેન્ટ કેલિબ્રેશન પ્રક્રિયાઓ અને ભૂલ લોગ ઇન્સ્ટ્રુમેન્ટમાં સંગ્રહિત તમામ સંપૂર્ણ સ્પેક્ટ્રલ ડેટા દર્શાવે છે અને તેની તુલના હાલના ટેસ્ટ સ્પેક્ટ્રા સાથે કરે છે. |
| અન્ય સુવિધાઓ | ગ્રેડ ડેટાબેઝ અને કસ્ટમ ગ્રેડ ઇનપુટ ફંક્શન ગ્રેડ ડેટાબેઝ આયાત અને નિકાસ કાર્ય (એક્સેલ દ્વારા) વપરાશકર્તા-વ્યાખ્યાયિત ફોર્મ્યુલા ઇનપુટ ફંક્શન |
ચોક્કસ રીતે સચોટ ઓળખ અને ટ્રેસ વિશ્લેષણ
ઓપ્ટિકલ સિસ્ટમ ડિઝાઇન
નવી CCD સોલિડ-સ્ટેટ ડિટેક્ટર ટેકનોલોજીને ઑપ્ટિમાઇઝ્ડ પિક્સેલ રિઝોલ્યુશન (12 વાગ્યા) અને નવી ગ્રેટિંગ સ્પેક્ટ્રોસ્કોપી ટેકનોલોજી સાથે જોડીને, આ સિસ્ટમ ડિજિટલ યુગ માટે ડાયરેક્ટ-રીડિંગ સ્પેક્ટ્રોસ્કોપીની નવી પેઢીનું પ્રતિનિધિત્વ કરે છે.
વેક્યુમ ઓપ્ટિકલ ચેમ્બર સિસ્ટમની ડિઝાઇન
પ્રથમ, જ્યારે સાધન કાર્યરત ન હોય ત્યારે ઓપ્ટિકલ ચેમ્બરના રીઅલ-ટાઇમ આર્ગોન શુદ્ધિકરણની કોઈ જરૂર ન હોવાથી, આર્ગોન વપરાશમાં નોંધપાત્ર ઘટાડો થાય છે, જેનાથી ગ્રાહકો માટે સંચાલન ખર્ચ ઓછો થાય છે.
સિસ્ટમ માત્ર 30 મિનિટમાં સ્થિર કાર્યકારી સ્થિતિમાં પહોંચી જાય છે
ટોટલ સ્પેક્ટ્રમ એક્વિઝિશન (TSA) ટેકનોલોજી
આ સાધન સ્પેક્ટ્રલ લાઇનો અને મેટ્રિસિસના અનુકૂળ ઉમેરા માટે પરવાનગી આપે છે, જે વધારાના હાર્ડવેરની જરૂરિયાત વિના મલ્ટી-મેટ્રિક્સ વિશ્લેષણને સક્ષમ કરે છે.
અમારા વિશે
ફેક્ટરી પ્રોફાઇલ
અમને કેમ પસંદ કરો
વારંવાર પૂછાતા પ્રશ્નો
પ્રશ્ન ૧: આપણે કોણ છીએ?
A1: 2015 માં સ્થપાયેલ, MSK (Tianjin) Cutting Technology CO.Ltd એ સતત વિકાસ કર્યો છે અને Rheinland ISO 9001 પાસ કર્યું છે.
પ્રમાણીકરણ. જર્મન SACCKE હાઇ-એન્ડ ફાઇવ-એક્સિસ ગ્રાઇન્ડીંગ સેન્ટર્સ, જર્મન ઝોલર સિક્સ-એક્સિસ ટૂલ ઇન્સ્પેક્શન સેન્ટર, તાઇવાન પાલમેરી મશીન અને અન્ય આંતરરાષ્ટ્રીય અદ્યતન ઉત્પાદન સાધનો સાથે, અમે ઉચ્ચ-અંતિમ, વ્યાવસાયિક અને કાર્યક્ષમ CNC ટૂલનું ઉત્પાદન કરવા માટે પ્રતિબદ્ધ છીએ.
Q2: શું તમે ટ્રેડિંગ કંપની છો કે ઉત્પાદક?
A2: અમે કાર્બાઇડ ટૂલ્સની ફેક્ટરી છીએ.
Q3: શું તમે ચીનમાં અમારા ફોરવર્ડરને ઉત્પાદનો મોકલી શકો છો?
A3: હા, જો તમારી પાસે ચીનમાં ફોરવર્ડર છે, તો અમે તેને/તેણીને ઉત્પાદનો મોકલીને ખુશ થઈશું.
પ્રશ્ન 4: ચુકવણીની કઈ શરતો સ્વીકાર્ય છે?
A4: સામાન્ય રીતે અમે T/T સ્વીકારીએ છીએ.
Q5: શું તમે OEM ઓર્ડર સ્વીકારો છો?
A5: હા, OEM અને કસ્ટમાઇઝેશન ઉપલબ્ધ છે, અને અમે લેબલ પ્રિન્ટિંગ સેવા પણ પ્રદાન કરીએ છીએ.
Q6: તમારે અમને શા માટે પસંદ કરવા જોઈએ?
A6:1) ખર્ચ નિયંત્રણ - યોગ્ય કિંમતે ઉચ્ચ-ગુણવત્તાવાળા ઉત્પાદનો ખરીદવું.
2) ઝડપી પ્રતિભાવ - 48 કલાકની અંદર, વ્યાવસાયિક કર્મચારીઓ તમને ભાવ આપશે અને તમારી ચિંતાઓનું નિરાકરણ લાવશે.
૩) ઉચ્ચ ગુણવત્તા - કંપની હંમેશા નિષ્ઠાવાન ઇરાદા સાથે સાબિત કરે છે કે તે જે ઉત્પાદનો પ્રદાન કરે છે તે ૧૦૦% ઉચ્ચ ગુણવત્તાવાળા છે.
૪) વેચાણ પછીની સેવા અને ટેકનિકલ માર્ગદર્શન - કંપની ગ્રાહકની જરૂરિયાતો અને જરૂરિયાતો અનુસાર વેચાણ પછીની સેવા અને ટેકનિકલ માર્ગદર્શન પૂરું પાડે છે.






