სრული სპექტრის ნაპერწკლის სპექტრომეტრი ლითონის მასალების ანალიზისთვის
პროდუქტის ინფორმაცია
| დეტექტორი | მრავალჯერადი მაღალი ხარისხის ხაზოვანი სკანირების CCD | ჰაერის წნევა | 4-5 ბარი |
| საშუალო სიმძლავრე | 1200 ვატი | ოპტიკური დისკწამყვანი | DVD |
| ლოდინის რეჟიმი | 70 ვატი | მყარი დისკი | 250 გბ |
| ტალღის სიგრძის დიაპაზონი | 170 - 800 ნმ | მიმდინარე | 1-80A |
| ოპტიკური კამერის ტემპერატურა | 34℃± 0.5℃ | მეხსიერება | 1 გბ DDR2 |
| გისოსის ღარის სიმკვრივე | 2400 ლ/მმ | სიხშირე | 100 - 1000 ჰც |
| პროდუქტის დიამეტრი | 350 მმ | ჩიპსეტი | AMD 690G + AMD SB600 |
| პიქსელის გარჩევადობა | 12:00 საათი | მონიტორი | 19 დიუმიანი LCD მონიტორი |
| სპექტრული ხაზის დისპერსია | 1.5 ნმ/მმ | პროცესორი | AMD ორბირთვიანი პროცესორი 64X2 5200+ |
რკინის მატრიცული ელემენტები პირდაპირი წაკითხვის სპექტრომეტრებში
CX-9600 პირდაპირი წაკითხვის სპექტრომეტრი: რკინის მატრიცული ელემენტები, შერჩევითი ანალიზის დიაპაზონები
| FE-000 | FE-001 | FE-002 | FE-003 | FE-004 | FE-005 | FE-006 | FE-007 | FE-008 | ||
| სერიული ნომერი | ელემენტი | გენერალური ხაზი | დაბალი შენადნობის ფოლადი | თუჯი | Cr/Ni უჟანგავი ფოლადი | მაღალი მანგანუმის შემცველობის ფოლადი | მაღალი ქრომის შემცველობის თუჯი | Cr ფოლადი | მაღალსიჩქარიანი ხელსაწყო ფოლადი | Ni ფოლადი |
| 1 | C | 0.0015-4.3 | 0.0015-1.3 | 1.8-4.7 | 0.09-4.0 | 0.3-1.7 | 0.2-3.4 | 0.04-2.2 | 0.03-2.1 | 1.2-3.5 |
| 2 | Si | 0.001-5.6 | 0.03-2.1 | 0.2-4.7 | 0.12-1.6 | 5.3-23 | 0.1-2.5 | 0.1-1.4 | 0.04-1.5 | 0.04-1.5 |
| 3 | Mn | 0.001-19.6 | 0.03-2.1 | 0.06-4.5 | 0.012-16 | 5.3-23 | 0.1-2.4 | 0.1-1.5 | 0.04-1.7 | 0.001-2.1 |
| 4 | P | 0.0015-2.4 | 0.002-0.12 | 0.02-0.8 | 0.003-0.3 | 0.01-0.2 | 0.01-0.3 | 0.006-0.05 | 0.004-0.07 | 0.0015-0.56 |
| 5 | S | 0.0015-0.35 | 0.002-0.16 | 0.003-0.2 | 0.001-0.4 | 0.006-0.11 | 0.001-0.15 | 0.006-0.03 | 0.001-0.06 | 0.0015-0.24 |
| 6 | Cr | 0.001-32.1 | 0.01-4.5 | 0.03-10.5 | 7.4-32 | 0.08-3.8 | 0.4-34 | 7.8-24 | 1.8-14 | 0.0015-9.1 |
| 7 | Ni | 0.002-43.4 | 0.004-4.4 | 0.05-6.8 | 0.08-32 | 0.04-3.5 | 0.05-32 | 0.09-4.2 | 0.07-0.55 | 0.9-36.6 |
| 8 | Mo | 0.001-9.5 | 0.004-1.3 | 0.01-2.1 | 0.08-4.2 | 0.1-2.0 | 0.1-4 | 0.02-1 | 0.02-9.4 | 0.0015-1.5 |
| 9 | Al | 0.003-2.1 | 0.003-1.5 | 0.002-0.12 | 0.005-1.7 | 0.008-0.12 | 0.003-1.5 | 0.1-1.7 | 0.005-1.6 | 0.005-0.3 |
| 10 | Cu | 0.002-8.1 | 0.002-0.5 | 0.06-2.2 | 0.05-4.5 | 0.002-0.6 | 0.06-1.5 | 0.02-0.5 | 0.004-0.5 | 0.005-0.3 |
| 11 | Co | 0.001-17.9 | 0.001-0.5 | 0.008-0.03 | 0.008-17 | 0.007-0.1 | 0.001-0.5 | 0.01-0.5 | 0.008-8.0 | |
| 12 | Ti | 0.002-1.2 | 0.002-1.2 | 0.007-1.0 | 0.005-1.1 | 0.004-0.1 | 0.001-0.14 | 0.006-0.4 | 0.006-0.4 | 0.003-0.38 |
| 13 | Nb | 0.002-2.0 | 0.002-0.3 | 0.002-0.7 | 0.02-2.0 | 0.003-0.42 | 0.1-0.7 | 0.002-0.7 | 0.002-0.7 | 0.003-0.38 |
| 14 | V | 0.003-19.5 | 0.003-0.9 | 0.01-0.7 | 0.02-9.5 | 0.01-0.84 | 0.02-1.2 | 0.03-1.1 | 0.03-2.5 | |
| 15 | W | 0.03-19 | 0.03-2.1 | 0.007-1.0 | 0.002-4.1 | 0.03-2.1 | 0.03-2.1 | 0.05-0.7 | 0.06-19 | |
| 16 | Pb | 0.001-0.07 | 0.003-0.03 | 0.002-0.04 | 0.001-0.02 | 0.003-0.03 | 0.003-0.03 | 0.003-0.03 | 0.001-0.07 | |
| 17 | Mg | 0.001-0.14 | 0.001-0.14 | 0.001-0.14 | 0.001-0.14 | 0.001-0.14 | 0.001-0.14 | 0.001-0.14 | 0.001-0.14 | 0.005-0.025 |
| 18 | B | 0.006-0.5 | 0.006-0.02 | 0.002-0.5 | 0.007-0.02 | 0.009-0.02 | 0.006-0.02 | 0.006-0.02 | 0.006-0.02 | |
| 19 | Sn | 0.001-0.3 | 0.001-0.09 | 0.003-0.3 | 0.003-0.05 | 0.008-0.07 | 0.001-0.09 | 0.001-0.09 | 0.007-0.05 | |
| 20 | Zn | 0.002-0.4 | 0.002-0.04 | 0.005-0.3 | 0.002-0.08 | 0.002-0.07 | 0.002-0.04 | 0.002-0.04 | 0.002-0.04 | |
| 21 | Bi | 0.001-0.03 | 0.001-0.01 | 0.006-0.03 | 0.004-0.003 | 0.001-0.01 | 0.001-0.01 | 0.001-0.01 | 0.001-0.01 | |
| 22 | Ca | 0.0004-0.02 | 0.0004-0.002 | 0.0004-0.002 | 0.003-0.001 | 0.0004-0.002 | 0.0004-0.002 | 0.0004-0.002 | 0.004-0.02 | |
| 23 | Fe | შემწეობა | შემწეობა | შემწეობა | შემწეობა | შემწეობა | შემწეობა | შემწეობა | შემწეობა | შემწეობა |
პროგრამული უზრუნველყოფის ანალიზის ფუნქციები
| ძლიერი ანალიტიკური ფუნქციები | კალიბრაციის მრუდის მთლიანად ან ნაწილობრივ სტანდარტიზაცია ერთწერტილიანი ან ორწერტილიანი კალიბრაციის მეთოდების გამოყენებით ტიპის კალიბრაციის ფუნქცია განმეორებადობის შემოწმება კალიბრაციისა და ანალიზის დროს დაამატეთ ახალი კალიბრაციის მრუდები დაამატეთ ახალი სტანდარტული ნიმუშები არსებულ კალიბრაციის მრუდებს შიდა სტანდარტის კალიბრაციის ფუნქცია, მატრიცის კორექციის ფუნქცია ანალიტიკური ხაზების ავტომატური გადართვა კალიბრაციის მრუდის დიაპაზონის გარეთ ანალიტიკური შედეგების ავტომატური ექსტრაპოლაცია და მონიშვნა |
| მდიდარი მონაცემების გამოტანის ფორმები | მომხმარებლის მიერ განსაზღვრული ელემენტები, რომლებიც უნდა აღმოჩენილიყო და ჩვენების თანმიმდევრობა მომხმარებლის მიერ განსაზღვრული ელემენტების ტიპები, რომლებიც უნდა აღმოჩენილი, დაბეჭდილი ან შენახული იყოს მომხმარებლის მიერ განსაზღვრული ათწილადების რაოდენობა აღმოჩენის, ბეჭდვის ან შენახვისთვის მომხმარებლის მიერ განსაზღვრული ნიმუშის სახელები ანალიზის შედეგები შეიძლება გამოვიდეს მასის პროცენტული მაჩვენებლის ან მრავალი შესაბამისი სპექტრული ხაზის მასის პროცენტული მაჩვენებლის სახით ნივთიერების შემცველობის სახით. ინტენსივობა შეიძლება გამოითვალოს სინათლის ინტენსივობის სახით; ანალიზის შედეგები შეიძლება წარმოდგენილი იყოს კოეფიციენტებით დაკალიბრებული ინტენსივობის კოეფიციენტების ან კორექტირებული ინტენსივობის კოეფიციენტების გამოყენებით. საშუალო, სტანდარტული გადახრა და ფარდობითი სტანდარტული გადახრა შეიძლება გამოითვალოს ნებისმიერი რაოდენობის აგზნების გაზომვის შედეგებისთვის. |
| მონაცემთა შენახვისა და ბეჭდვის ფუნქციები | მონაცემები ინახება სისტემის ჩაშენებულ მონაცემთა ბაზაში მონაცემების შენახვა შესაძლებელია მრავალ ფორმატში მონაცემების შენახვა შესაძლებელია ინდივიდუალური გაზომვის შედეგების და/ან მრავალი ტესტის შედეგის საშუალო მაჩვენებლების სახით. სტატისტიკური მონაცემების შენახვა შესაძლებელია შენახული მონაცემების გადაცემა შესაძლებელია ხელით ან ავტომატურად შესაძლებელია ინდივიდუალური გაზომვის შედეგების და/ან მრავალი ტესტის შედეგის საშუალო მნიშვნელობების დაბეჭდვა სტატისტიკური მონაცემების დაბეჭდვა შესაძლებელია ყველა შენახული მონაცემის დაბეჭდვა შესაძლებელია ხელით ან ავტომატურად |
| ჩაშენებული დიაგნოსტიკური ფუნქციები | არგონის წნევის მონიტორი ვაკუუმის სტატუსის მონიტორი ავტომატური სპექტრული დრიფტის კონტროლი ინსტრუმენტის კალიბრაციის პროცედურები და შეცდომების ჟურნალი აჩვენებს ინსტრუმენტში შენახულ ყველა სრულ სპექტრულ მონაცემს და ადარებს მას არსებულ სატესტო სპექტრებს. |
| სხვა მახასიათებლები | ქულების მონაცემთა ბაზა და ქულების შეყვანის ფუნქცია ქულების მონაცემთა ბაზის იმპორტისა და ექსპორტის ფუნქცია (Excel-ის მეშვეობით) მომხმარებლის მიერ განსაზღვრული ფორმულის შეყვანის ფუნქცია |
ზუსტად იდენტიფიკაცია და კვალის ანალიზი
ოპტიკური სისტემის დიზაინი
ახალი CCD მყარი მდგომარეობის დეტექტორის ტექნოლოგიის, ოპტიმიზებული პიქსელის გარჩევადობის (12 pm) და ახალი ბადისებრი სპექტროსკოპიის ტექნოლოგიის შერწყმით, ეს სისტემა ციფრული ეპოქისთვის პირდაპირი წაკითხვის სპექტროსკოპიის ახალ თაობას წარმოადგენს.
ვაკუუმური ოპტიკური კამერის სისტემის დიზაინი
პირველ რიგში, რადგან ინსტრუმენტის გამორთვის დროს ოპტიკური კამერის რეალურ დროში არგონით გაწმენდა საჭირო არ არის, არგონის მოხმარება მნიშვნელოვნად მცირდება, რაც მომხმარებლებისთვის საოპერაციო ხარჯებს ამცირებს.
სისტემა სტაბილურ სამუშაო მდგომარეობას სულ რაღაც 30 წუთში აღწევს
სრული სპექტრის შეძენის (TSA) ტექნოლოგია
ინსტრუმენტი საშუალებას იძლევა სპექტრული ხაზებისა და მატრიცების მოსახერხებელი დამატების, რაც საშუალებას იძლევა მრავალმატრიცული ანალიზის ჩასატარებლად დამატებითი აპარატურის საჭიროების გარეშე.
ჩვენს შესახებ
ქარხნის პროფილი
რატომ უნდა აგვირჩიოთ ჩვენ
ხშირად დასმული კითხვები
კითხვა 1: ვინ ვართ ჩვენ?
A1: დაარსებული 2015 წელს, MSK (ტიანძინი) Cutting Technology CO.Ltd განუწყვეტლივ იზრდება და გაიარა Rheinland ISO 9001 სტანდარტი.
ავთენტიფიკაცია. გერმანული SACCKE-ს მაღალი დონის ხუთღერძიანი სახეხი ცენტრების, გერმანული ZOLLER-ის ექვსღერძიანი ხელსაწყოების შემოწმების ცენტრის, ტაივანის PALMARY დაზგისა და სხვა საერთაშორისო მოწინავე საწარმოო აღჭურვილობის დახმარებით, ჩვენ ვალდებულნი ვართ ვაწარმოოთ მაღალი დონის, პროფესიონალური და ეფექტური CNC ხელსაწყოები.
Q2: სავაჭრო კომპანია ხართ თუ მწარმოებელი?
A2: ჩვენ ვართ კარბიდის ხელსაწყოების ქარხანა.
Q3: შეგიძლიათ პროდუქციის გაგზავნა ჩვენს ექსპედიტორთან ჩინეთში?
A3: დიახ, თუ ჩინეთში გყავთ გადამზიდავი, სიამოვნებით გავუგზავნით მას პროდუქტებს.
კითხვა 4: გადახდის რომელი პირობებია მისაღები?
A4: ჩვეულებრივ, ჩვენ ვიღებთ T/T-ს.
Q5: იღებთ თუ არა OEM შეკვეთებს?
A5: დიახ, OEM და პერსონალიზაცია ხელმისაწვდომია და ჩვენ ასევე გთავაზობთ ეტიკეტების ბეჭდვის სერვისს.
კითხვა 6: რატომ უნდა აგვირჩიოთ ჩვენ?
A6:1) ხარჯების კონტროლი - მაღალი ხარისხის პროდუქციის შეძენა შესაბამის ფასად.
2) სწრაფი რეაგირება - 48 საათის განმავლობაში, პროფესიონალი პერსონალი მოგაწვდით შეთავაზებას და უპასუხებს თქვენს შეშფოთებას.
3) მაღალი ხარისხი - კომპანია ყოველთვის გულწრფელი განზრახვით ამტკიცებს, რომ მის მიერ მოწოდებული პროდუქცია 100%-ით მაღალი ხარისხისაა.
4) გაყიდვის შემდგომი მომსახურება და ტექნიკური ხელმძღვანელობა - კომპანია უზრუნველყოფს გაყიდვის შემდგომ მომსახურებას და ტექნიკურ ხელმძღვანელობას მომხმარებლის მოთხოვნებისა და საჭიროებების შესაბამისად.






