Fullspektret gnistspektrometer for analyse av metallmaterialer
Produktinformasjon
| Detektor | Flere høytytende linjeskannings-CCD-er | Lufttrykk | 4–5 bar |
| Gjennomsnittlig effekt | 1200 W | Optisk stasjon | DVD-en |
| Standby-strøm | 70 W | Harddisk | 250 GB |
| Bølgelengdeområde | 170–800 nm | Nåværende | 1-80A |
| Optisk kammertemperatur | 34℃± 0,5℃ | Hukommelse | 1 GB DDR2 |
| Ristetthet | 2400 l/mm | Hyppighet | 100–1000 Hz |
| Produktdiameter | 350 mm | Brikkesett | AMD 690G + AMD SB600 |
| Pikseloppløsning | 12:00 | Følge | 19-tommers LCD-skjerm |
| Spektral linjedispersjon | 1,5 nm/mm | Prosessor | AMD Dual-core 64X2 5200+ |
Jernmatriseelementer i direkteavlesende spektrometre
CX-9600 Direkteavlesningsspektrometer: Jernmatriseelementer, valgbare analyseområder
| FE-000 | FE-001 | FE-002 | FE-003 | FE-004 | FE-005 | FE-006 | FE-007 | FE-008 | ||
| Serienummer | Element | Generell linje | Lavlegert stål | Støpejern | Cr/Ni rustfritt stål | Høymanganstål | Høykrom støpejern | Cr-stål | Høyhastighetsverktøystål | Ni-stål |
| 1 | C | 0,0015–4,3 | 0,0015–1,3 | 1,8–4,7 | 0,09–4,0 | 0,3–1,7 | 0,2–3,4 | 0,04–2,2 | 0,03–2,1 | 1,2–3,5 |
| 2 | Si | 0,001–5,6 | 0,03–2,1 | 0,2–4,7 | 0,12–1,6 | 5.3–23 | 0,1–2,5 | 0,1–1,4 | 0,04–1,5 | 0,04–1,5 |
| 3 | Mn | 0,001–19,6 | 0,03–2,1 | 0,06–4,5 | 0,012–16 | 5.3–23 | 0,1–2,4 | 0,1–1,5 | 0,04–1,7 | 0,001–2,1 |
| 4 | P | 0,0015–2,4 | 0,002–0,12 | 0,02–0,8 | 0,003–0,3 | 0,01–0,2 | 0,01–0,3 | 0,006–0,05 | 0,004–0,07 | 0,0015–0,56 |
| 5 | S | 0,0015–0,35 | 0,002–0,16 | 0,003–0,2 | 0,001–0,4 | 0,006–0,11 | 0,001–0,15 | 0,006–0,03 | 0,001–0,06 | 0,0015–0,24 |
| 6 | Cr | 0,001–32,1 | 0,01–4,5 | 0,03–10,5 | 7.4–32 | 0,08–3,8 | 0,4–34 | 7.8–24 | 1,8–14 | 0,0015–9,1 |
| 7 | Ni | 0,002–43,4 | 0,004–4,4 | 0,05–6,8 | 0,08–32 | 0,04–3,5 | 0,05–32 | 0,09–4,2 | 0,07–0,55 | 0,9–36,6 |
| 8 | Mo | 0,001–9,5 | 0,004–1,3 | 0,01–2,1 | 0,08–4,2 | 0,1–2,0 | 0,1–4 | 0,02-1 | 0,02–9,4 | 0,0015–1,5 |
| 9 | Al | 0,003–2,1 | 0,003–1,5 | 0,002–0,12 | 0,005–1,7 | 0,008–0,12 | 0,003–1,5 | 0,1–1,7 | 0,005–1,6 | 0,005–0,3 |
| 10 | Cu | 0,002–8,1 | 0,002–0,5 | 0,06–2,2 | 0,05–4,5 | 0,002–0,6 | 0,06–1,5 | 0,02–0,5 | 0,004–0,5 | 0,005–0,3 |
| 11 | Co | 0,001–17,9 | 0,001–0,5 | 0,008–0,03 | 0,008–17 | 0,007–0,1 | 0,001–0,5 | 0,01–0,5 | 0,008–8,0 | |
| 12 | Ti | 0,002–1,2 | 0,002–1,2 | 0,007–1,0 | 0,005–1,1 | 0,004–0,1 | 0,001–0,14 | 0,006–0,4 | 0,006–0,4 | 0,003–0,38 |
| 13 | Nb | 0,002–2,0 | 0,002–0,3 | 0,002–0,7 | 0,02–2,0 | 0,003–0,42 | 0,1–0,7 | 0,002–0,7 | 0,002–0,7 | 0,003–0,38 |
| 14 | V | 0,003–19,5 | 0,003–0,9 | 0,01–0,7 | 0,02–9,5 | 0,01–0,84 | 0,02–1,2 | 0,03–1,1 | 0,03–2,5 | |
| 15 | W | 0,03–19 | 0,03–2,1 | 0,007–1,0 | 0,002–4,1 | 0,03–2,1 | 0,03–2,1 | 0,05–0,7 | 0,06–19 | |
| 16 | Pb | 0,001–0,07 | 0,003–0,03 | 0,002–0,04 | 0,001–0,02 | 0,003–0,03 | 0,003–0,03 | 0,003–0,03 | 0,001–0,07 | |
| 17 | Mg | 0,001–0,14 | 0,001–0,14 | 0,001–0,14 | 0,001–0,14 | 0,001–0,14 | 0,001–0,14 | 0,001–0,14 | 0,001–0,14 | 0,005–0,025 |
| 18 | B | 0,006–0,5 | 0,006–0,02 | 0,002–0,5 | 0,007–0,02 | 0,009–0,02 | 0,006–0,02 | 0,006–0,02 | 0,006–0,02 | |
| 19 | Sn | 0,001–0,3 | 0,001–0,09 | 0,003–0,3 | 0,003–0,05 | 0,008–0,07 | 0,001–0,09 | 0,001–0,09 | 0,007–0,05 | |
| 20 | Zn | 0,002–0,4 | 0,002–0,04 | 0,005–0,3 | 0,002–0,08 | 0,002–0,07 | 0,002–0,04 | 0,002–0,04 | 0,002–0,04 | |
| 21 | Bi | 0,001–0,03 | 0,001–0,01 | 0,006–0,03 | 0,004–0,003 | 0,001–0,01 | 0,001–0,01 | 0,001–0,01 | 0,001–0,01 | |
| 22 | Ca | 0,0004–0,02 | 0,0004–0,002 | 0,0004–0,002 | 0,003–0,001 | 0,0004–0,002 | 0,0004–0,002 | 0,0004–0,002 | 0,004–0,02 | |
| 23 | Fe | Godtgjørelse | Godtgjørelse | Godtgjørelse | Godtgjørelse | Godtgjørelse | Godtgjørelse | Godtgjørelse | Godtgjørelse | Godtgjørelse |
Funksjoner for programvareanalyse
| Kraftige analysefunksjoner | Standardisering av hele eller deler av kalibreringskurven ved bruk av ettpunkts- eller topunktskalibreringsmetoder Typekalibreringsfunksjon Repeterbarhetskontroller under kalibrering og analyse Legg til nye kalibreringskurver Legg til nye standardprøver i eksisterende kalibreringskurver Intern standardkalibreringsfunksjon, matrisekorreksjonsfunksjon Automatisk bytte av analytiske linjer Automatisk ekstrapolering og flagging av analyseresultater utenfor kalibreringskurvens område |
| Formularer for utdata for rike data | Brukerdefinerte elementer som skal oppdages og visningsrekkefølge Brukerdefinerte typer elementer som skal detekteres, skrives ut eller lagres Brukerdefinert antall desimaler for deteksjon, utskrift eller lagring Brukerdefinerte eksempelnavn Analyseresultater kan sendes ut som masseprosenter eller masseprosenter av flere relevante spektrallinjer i form av stoffinnhold. Intensiteten kan sendes ut som lysintensitet; analyseresultatene kan presenteres ved hjelp av koeffisientkalibrerte intensitetskoeffisienter eller korrigertkalibrerte intensitetskoeffisienter. Gjennomsnitt, standardavvik og relativt standardavvik kan beregnes for måleresultater fra et hvilket som helst antall eksitasjoner. |
| Datalagring og utskriftsfunksjoner | Data lagres i systemets innebygde database Data kan lagres i flere formater Data kan lagres som individuelle måleresultater og/eller gjennomsnitt av flere testresultater Statistiske data kan lagres Lagrede data kan overføres manuelt eller automatisk Individuelle måleresultater og/eller gjennomsnitt av flere testresultater kan skrives ut Statistiske data kan skrives ut Alle lagrede data kan skrives ut manuelt eller automatisk |
| Innebygde diagnostiske funksjoner | Argon-trykkmåler Vakuumstatusmonitor Automatisk spektral driftkontroll Instrumentkalibreringsprosedyrer og feillogg Viser alle komplette spektraldata som er lagret i instrumentet og sammenligner dem med eksisterende testspektre |
| Andre funksjoner | Karakterdatabase og tilpasset karakterinndatafunksjon Import- og eksportfunksjon for karakterdatabase (via Excel) Brukerdefinert formelinndatafunksjon |
Nøyaktig identifisering og sporanalyse
Optisk systemdesign
Ved å kombinere ny CCD-faststoffdetektorteknologi med optimalisert pikseloppløsning (12 pm) og ny gitterspektroskopiteknologi, representerer dette systemet en ny generasjon direkteavlesningsspektroskopi for den digitale tidsalderen.
Design av det optiske vakuumkammersystemet
For det første, siden det ikke er behov for sanntids argonrensing av det optiske kammeret når instrumentet ikke er i drift, reduseres argonforbruket betydelig, og dermed senkes driftskostnadene for kundene.
Systemet når en stabil driftstilstand på bare 30 minutter
Total Spectrum Acquisition (TSA)-teknologi
Instrumentet muliggjør praktisk tillegg av spektrallinjer og matriser, noe som muliggjør multimatriseanalyse uten behov for ekstra maskinvare.
Om oss
Fabrikkprofil
Hvorfor velge oss
Vanlige spørsmål
Q1: Hvem er vi?
A1: MSK (Tianjin) Cutting Technology CO.Ltd ble grunnlagt i 2015 og har vokst kontinuerlig og bestått Rheinland ISO 9001
autentisering. Med tyske SACCKE high-end femaksede slipesentre, tyske ZOLLER seksaksede verktøyinspeksjonssenter, Taiwan PALMARY-maskin og annet internasjonalt avansert produksjonsutstyr, er vi forpliktet til å produsere high-end, profesjonelt og effektivt CNC-verktøy.
Q2: Er du et handelsselskap eller en produsent?
A2: Vi er fabrikken for karbidverktøy.
Q3: Kan dere sende produkter til speditøren vår i Kina?
A3: Ja, hvis du har en speditør i Kina, sender vi gjerne produkter til ham/henne.
Q4: Hvilke betalingsbetingelser er akseptable?
A4: Normalt aksepterer vi T/T.
Q5: Godtar dere OEM-bestillinger?
A5: Ja, OEM og tilpasning er tilgjengelig, og vi tilbyr også etikettutskriftstjenester.
Q6: Hvorfor bør du velge oss?
A6:1) Kostnadskontroll – innkjøp av produkter av høy kvalitet til en passende pris.
2) Rask respons – innen 48 timer vil profesjonelt personell gi deg et pristilbud og ta opp dine bekymringer.
3) Høy kvalitet – Selskapet beviser alltid med oppriktig intensjon at produktene de leverer er av 100 % høy kvalitet.
4) Ettersalgsservice og teknisk veiledning – Selskapet tilbyr ettersalgsservice og teknisk veiledning i henhold til kundens krav og behov.
