Plen-Spektra Sparka Spektrometro por Analizo de Metalaj Materialoj
Produktaj Informoj
| Detektilo | Multoblaj alt-efikecaj lini-skanadaj CCD-oj | Aerpremo | 4-5 baroj |
| Meza Potenco | 1200 Vatoj | Optika Disko | DVD |
| Ŝarĝkapabla Potenco | 70 Vatoj | Malmola disko | 250 GB |
| Ondolonga Gamo | 170 - 800 nm | Aktuala | 1-80A |
| Optika Ĉambra Temperaturo | 34℃± 0.5℃ | Memoro | 1GB DDR2 |
| Denseco de Krada Kanelo | 2400l/mm | Frekvenco | 100 - 1000Hz |
| Produkta Diametro | 350mm | Ĉipsetaro | AMD 690G + AMD SB600 |
| Piksela Rezolucio | 12pm | Monitoro | 19-cola LCD-ekrano |
| Spektra Linia Disperso | 1.5 nm/mm | Procesoro | AMD Du-kerna 64X2 5200+ |
Feraj Matricaj Elementoj en Rektlegantaj Spektrometroj
CX-9600 Rektlega Spektrometro: Feraj Matricaj Elementoj, Selekteblaj Analizaj Intervaloj
| FE-000 | FE-001 | FE-002 | FE-003 | FE-004 | FE-005 | FE-006 | FE-007 | FE-008 | ||
| Seria Numero | Elemento | Ĝenerala Linio | Malaltaloja ŝtalo | Gisfero | Cr/Ni Neoksidebla ŝtalo | Alta Mangana Ŝtalo | Alt-kroma gisfero | Cr-ŝtalo | Alta Rapida Iloŝtalo | Ni-ŝtalo |
| 1 | C | 0,0015-4,3 | 0,0015-1,3 | 1.8-4.7 | 0,09-4,0 | 0,3-1,7 | 0,2-3,4 | 0,04-2,2 | 0,03-2,1 | 1.2-3.5 |
| 2 | Si | 0,001-5,6 | 0,03-2,1 | 0,2-4,7 | 0,12-1,6 | 5.3-23 | 0,1-2,5 | 0,1-1,4 | 0,04-1,5 | 0,04-1,5 |
| 3 | Mn | 0,001-19,6 | 0,03-2,1 | 0,06-4,5 | 0,012-16 | 5.3-23 | 0,1-2,4 | 0,1-1,5 | 0,04-1,7 | 0,001-2,1 |
| 4 | P | 0,0015-2,4 | 0,002-0,12 | 0,02-0,8 | 0,003-0,3 | 0,01-0,2 | 0,01-0,3 | 0,006-0,05 | 0,004-0,07 | 0,0015-0,56 |
| 5 | S | 0,0015-0,35 | 0,002-0,16 | 0,003-0,2 | 0,001-0,4 | 0,006-0,11 | 0,001-0,15 | 0,006-0,03 | 0,001-0,06 | 0,0015-0,24 |
| 6 | Cr | 0,001-32,1 | 0,01-4,5 | 0,03-10,5 | 7.4-32 | 0,08-3,8 | 0,4-34 | 7.8-24 | 1.8-14 | 0,0015-9,1 |
| 7 | Ni | 0,002-43,4 | 0,004-4,4 | 0,05-6,8 | 0,08-32 | 0,04-3,5 | 0,05-32 | 0,09-4,2 | 0,07-0,55 | 0,9-36,6 |
| 8 | Mo | 0,001-9,5 | 0,004-1,3 | 0,01-2,1 | 0,08-4,2 | 0.1-2.0 | 0.1-4 | 0,02-1 | 0,02-9,4 | 0,0015-1,5 |
| 9 | Al | 0,003-2,1 | 0,003-1,5 | 0,002-0,12 | 0,005-1,7 | 0,008-0,12 | 0,003-1,5 | 0,1-1,7 | 0,005-1,6 | 0,005-0,3 |
| 10 | Cu | 0,002-8,1 | 0,002-0,5 | 0,06-2,2 | 0,05-4,5 | 0,002-0,6 | 0,06-1,5 | 0,02-0,5 | 0,004-0,5 | 0,005-0,3 |
| 11 | Co | 0,001-17,9 | 0,001-0,5 | 0,008-0,03 | 0,008-17 | 0,007-0,1 | 0,001-0,5 | 0,01-0,5 | 0,008-8,0 | |
| 12 | Ti | 0,002-1,2 | 0,002-1,2 | 0,007-1,0 | 0,005-1,1 | 0,004-0,1 | 0,001-0,14 | 0,006-0,4 | 0,006-0,4 | 0,003-0,38 |
| 13 | Nb | 0,002-2,0 | 0,002-0,3 | 0,002-0,7 | 0,02-2,0 | 0,003-0,42 | 0,1-0,7 | 0,002-0,7 | 0,002-0,7 | 0,003-0,38 |
| 14 | V | 0,003-19,5 | 0,003-0,9 | 0,01-0,7 | 0,02-9,5 | 0,01-0,84 | 0,02-1,2 | 0,03-1,1 | 0,03-2,5 | |
| 15 | W | 0,03-19 | 0,03-2,1 | 0,007-1,0 | 0,002-4,1 | 0,03-2,1 | 0,03-2,1 | 0,05-0,7 | 0,06-19 | |
| 16 | Pb | 0,001-0,07 | 0,003-0,03 | 0,002-0,04 | 0,001-0,02 | 0,003-0,03 | 0,003-0,03 | 0,003-0,03 | 0,001-0,07 | |
| 17 | Mg | 0,001-0,14 | 0,001-0,14 | 0,001-0,14 | 0,001-0,14 | 0,001-0,14 | 0,001-0,14 | 0,001-0,14 | 0,001-0,14 | 0,005-0,025 |
| 18 | B | 0,006-0,5 | 0,006-0,02 | 0,002-0,5 | 0,007-0,02 | 0,009-0,02 | 0,006-0,02 | 0,006-0,02 | 0,006-0,02 | |
| 19 | Sn | 0,001-0,3 | 0,001-0,09 | 0,003-0,3 | 0,003-0,05 | 0,008-0,07 | 0,001-0,09 | 0,001-0,09 | 0,007-0,05 | |
| 20 | Zn | 0,002-0,4 | 0,002-0,04 | 0,005-0,3 | 0,002-0,08 | 0,002-0,07 | 0,002-0,04 | 0,002-0,04 | 0,002-0,04 | |
| 21 | Bi | 0,001-0,03 | 0,001-0,01 | 0,006-0,03 | 0,004-0,003 | 0,001-0,01 | 0,001-0,01 | 0,001-0,01 | 0,001-0,01 | |
| 22 | Ca | 0,0004-0,02 | 0,0004-0,002 | 0,0004-0,002 | 0,003-0,001 | 0,0004-0,002 | 0,0004-0,002 | 0,0004-0,002 | 0,004-0,02 | |
| 23 | Fe | Poŝmono | Poŝmono | Poŝmono | Poŝmono | Poŝmono | Poŝmono | Poŝmono | Poŝmono | Poŝmono |
Trajtoj de Programara Analizo
| Potencaj Analizaj Funkcioj | Normigado de la tuta aŭ parto de la kalibrada kurbo uzante unu-punktajn aŭ du-punktajn kalibradajn metodojn Tajpu kalibran funkcion Ripeteblecaj kontroloj dum kalibrado kaj analizo Aldoni novajn kalibradajn kurbojn Aldonu novajn normajn specimenojn al ekzistantaj kalibraj kurboj Interna norma kalibrada funkcio, matrica korekta funkcio Aŭtomata ŝaltado de analizaj linioj Aŭtomata ekstrapolado kaj markado de analizaj rezultoj ekster la kalibrada kurba intervalo |
| Riĉaj Datumaj Eligaj Formularoj | Uzanto-difinitaj elementoj por esti detektitaj kaj montra ordo Uzanto-difinitaj tipoj de elementoj por esti detektitaj, presitaj aŭ konservitaj Uzanto-difinita nombro de decimaloj por detekto, presado aŭ stokado Uzanto-difinitaj specimenaj nomoj Analizrezultoj povas esti eligitaj kiel masprocentoj aŭ masprocentoj de pluraj koncernaj spektraj linioj en la formo de substanca enhavo Intenseco povas esti eligita kiel lumintenseco; analizrezultoj povas esti prezentitaj uzante koeficient-kalibritajn intenseckoeficientojn aŭ korekt-kalibritajn intenseckoeficientojn Meznombro, norma devio, kaj relativa norma devio povas esti kalkulitaj por mezurrezultoj de iu ajn nombro da ekscitoj |
| Datumstokado kaj Presado Funkcioj | Datumoj estas konservitaj en la enkonstruita datumbazo de la sistemo Datumoj povas esti konservitaj en pluraj formatoj Datumoj povas esti konservitaj kiel individuaj mezurrezultoj kaj/aŭ averaĝoj de pluraj testrezultoj Statistikaj datumoj povas esti konservitaj Stokitaj datumoj povas esti transdonitaj mane aŭ aŭtomate Individuaj mezurrezultoj kaj/aŭ averaĝoj de pluraj testrezultoj povas esti presitaj Statistikaj datumoj povas esti presitaj Ĉiuj konservitaj datumoj povas esti presitaj permane aŭ aŭtomate |
| Enkonstruitaj diagnozaj funkcioj | Argonprema monitorilo Vakua statusmonitorilo Aŭtomata spektra drivkontrolo Proceduroj por alĝustigo de instrumentoj kaj erarregistro Montras ĉiujn kompletajn spektrajn datumojn konservitajn en la instrumento kaj komparas ilin kun ekzistantaj testaj spektroj |
| Aliaj Trajtoj | Datumbazo de Notoj kaj Funkcio de Enigo de Propraj Notoj Funkcio de Importado kaj Eksportado de Graddatumbazo (per Excel) Uzant-difinita formula eniga funkcio |
Precize preciza identigo kaj spuranalizo
Optika Sistemo-Dezajno
Kombinante novan CCD-solidstatan detektilteknologion kun optimumigita piksela distingivo (12 pm) kaj nova krada spektroskopia teknologio, ĉi tiu sistemo reprezentas novan generacion de rekt-lega spektroskopio por la cifereca epoko.
Dezajno de la Vakua Optika Kamera Sistemo
Unue, ĉar ne necesas realtempa argona purigo de la optika kamero kiam la instrumento ne funkcias, la argonkonsumo estas signife reduktita, tiel malaltigante la funkciajn kostojn por klientoj.
La sistemo atingas stabilan funkcian staton post nur 30 minutoj
Teknologio de Tuta Spektro-Akiro (TSA)
La instrumento ebligas la oportunan aldonon de spektraj linioj kaj matricoj, ebligante plurmatrican analizon sen la bezono de aldona aparataro.
Pri Ni
Fabrika Profilo
Kial Elekti Nin
Oftaj Demandoj
D1: Kiuj ni estas?
A1: Fondita en 2015, MSK (Tjanĝino) Cutting Technology CO.Ltd kreskis kontinue kaj pasis Rheinland ISO 9001.
aŭtentigo. Kun germanaj altkvalitaj kvin-aksaj muelcentroj SACCKE, germana ses-aksa ilo-inspekta centro ZOLLER, tajvana PALMARY-maŝino kaj aliaj internaciaj altnivelaj fabrikadekipaĵoj, ni estas dediĉitaj al produktado de altkvalitaj, profesiaj kaj efikaj CNC-iloj.
Q2: Ĉu vi estas komerca kompanio aŭ fabrikanto?
A2: Ni estas la fabriko de karbidaj iloj.
Q3: Ĉu vi povas sendi produktojn al nia sendanto en Ĉinio?
A3: Jes, se vi havas spediston en Ĉinio, ni ĝojos sendi produktojn al li/ŝi.
Q4: Kiuj pagkondiĉoj estas akcepteblaj?
A4: Kutime ni akceptas T/T.
Q5: Ĉu vi akceptas OEM-mendojn?
A5: Jes, OEM kaj personigo estas haveblaj, kaj ni ankaŭ provizas etikedpresan servon.
Q6: Kial vi elektu nin?
A6:1) Kostokontrolo - aĉetado de altkvalitaj produktoj je taŭga prezo.
2) Rapida respondo - ene de 48 horoj, profesia personaro donos al vi oferton kaj traktos viajn zorgojn.
3) Alta kvalito - La kompanio ĉiam pruvas kun sincera intenco, ke la produktoj, kiujn ĝi provizas, estas 100% altkvalitaj.
4) Postvenda servo kaj teknika gvido - La kompanio provizas postvendan servon kaj teknikan gvidon laŭ la postuloj kaj bezonoj de la klientoj.
