Pełnospektralny spektrometr iskrowy do analizy materiałów metalowych
Informacje o produkcie
| Detektor | Wielowydajny przetwornik CCD ze skanowaniem liniowym | Ciśnienie powietrza | 4-5 barów |
| Średnia moc | 1200 W | Napęd optyczny | płyta DVD |
| Moc czuwania | 70 W | Dysk twardy | 250 GB |
| Zakres długości fali | 170 - 800 nm | Aktualny | 1-80A |
| Temperatura komory optycznej | 34℃± 0,5℃ | Pamięć | 1 GB DDR2 |
| Gęstość rowków kratowych | 2400l/mm | Częstotliwość | 100 - 1000 Hz |
| Średnica produktu | 350 mm | Chipset | AMD 690G + AMD SB600 |
| Rozdzielczość pikseli | 12:00 | Monitor | 19-calowy monitor LCD |
| Dyspersja linii widmowej | 1,5 nm/mm | Edytor | AMD Dual-core 64X2 5200+ |
Elementy matrycy żelaznej w spektrometrach z bezpośrednim odczytem
Spektrometr z bezpośrednim odczytem CX-9600: pierwiastki matrycy żelazowej, wybieralne zakresy analizy
| FE-000 | FE-001 | FE-002 | FE-003 | FE-004 | FE-005 | FE-006 | FE-007 | FE-008 | ||
| Numer seryjny | Element | Linia ogólna | Stal niskostopowa | Lane żelazo | Stal nierdzewna Cr/Ni | Stal wysokomanganowa | Żeliwo wysokochromowe | Stal chromowa | Stal narzędziowa szybkotnąca | Stal niklowa |
| 1 | C | 0,0015-4,3 | 0,0015-1,3 | 1,8-4,7 | 0,09-4,0 | 0,3-1,7 | 0,2-3,4 | 0,04-2,2 | 0,03-2,1 | 1,2-3,5 |
| 2 | Si | 0,001-5,6 | 0,03-2,1 | 0,2-4,7 | 0,12-1,6 | 5.3-23 | 0,1-2,5 | 0,1-1,4 | 0,04-1,5 | 0,04-1,5 |
| 3 | Mn | 0,001-19,6 | 0,03-2,1 | 0,06-4,5 | 0,012-16 | 5.3-23 | 0,1-2,4 | 0,1-1,5 | 0,04-1,7 | 0,001-2,1 |
| 4 | P | 0,0015-2,4 | 0,002-0,12 | 0,02-0,8 | 0,003-0,3 | 0,01-0,2 | 0,01-0,3 | 0,006-0,05 | 0,004-0,07 | 0,0015-0,56 |
| 5 | S | 0,0015-0,35 | 0,002-0,16 | 0,003-0,2 | 0,001-0,4 | 0,006-0,11 | 0,001-0,15 | 0,006-0,03 | 0,001-0,06 | 0,0015-0,24 |
| 6 | Cr | 0,001-32,1 | 0,01-4,5 | 0,03-10,5 | 7.4-32 | 0,08-3,8 | 0,4-34 | 7.8-24 | 1,8-14 | 0,0015-9,1 |
| 7 | Ni | 0,002-43,4 | 0,004-4,4 | 0,05-6,8 | 0,08-32 | 0,04-3,5 | 0,05-32 | 0,09-4,2 | 0,07-0,55 | 0,9-36,6 |
| 8 | Mo | 0,001-9,5 | 0,004-1,3 | 0,01-2,1 | 0,08-4,2 | 0,1-2,0 | 0,1-4 | 0,02-1 | 0,02-9,4 | 0,0015-1,5 |
| 9 | Al | 0,003-2,1 | 0,003-1,5 | 0,002-0,12 | 0,005-1,7 | 0,008-0,12 | 0,003-1,5 | 0,1-1,7 | 0,005-1,6 | 0,005-0,3 |
| 10 | Cu | 0,002-8,1 | 0,002-0,5 | 0,06-2,2 | 0,05-4,5 | 0,002-0,6 | 0,06-1,5 | 0,02-0,5 | 0,004-0,5 | 0,005-0,3 |
| 11 | Co | 0,001-17,9 | 0,001-0,5 | 0,008-0,03 | 0,008-17 | 0,007-0,1 | 0,001-0,5 | 0,01-0,5 | 0,008-8,0 | |
| 12 | Ti | 0,002-1,2 | 0,002-1,2 | 0,007-1,0 | 0,005-1,1 | 0,004-0,1 | 0,001-0,14 | 0,006-0,4 | 0,006-0,4 | 0,003-0,38 |
| 13 | Nb | 0,002-2,0 | 0,002-0,3 | 0,002-0,7 | 0,02-2,0 | 0,003-0,42 | 0,1-0,7 | 0,002-0,7 | 0,002-0,7 | 0,003-0,38 |
| 14 | V | 0,003-19,5 | 0,003-0,9 | 0,01-0,7 | 0,02-9,5 | 0,01-0,84 | 0,02-1,2 | 0,03-1,1 | 0,03-2,5 | |
| 15 | W | 0,03-19 | 0,03-2,1 | 0,007-1,0 | 0,002-4,1 | 0,03-2,1 | 0,03-2,1 | 0,05-0,7 | 0,06-19 | |
| 16 | Pb | 0,001-0,07 | 0,003-0,03 | 0,002-0,04 | 0,001-0,02 | 0,003-0,03 | 0,003-0,03 | 0,003-0,03 | 0,001-0,07 | |
| 17 | Mg | 0,001-0,14 | 0,001-0,14 | 0,001-0,14 | 0,001-0,14 | 0,001-0,14 | 0,001-0,14 | 0,001-0,14 | 0,001-0,14 | 0,005-0,025 |
| 18 | B | 0,006-0,5 | 0,006-0,02 | 0,002-0,5 | 0,007-0,02 | 0,009-0,02 | 0,006-0,02 | 0,006-0,02 | 0,006-0,02 | |
| 19 | Sn | 0,001-0,3 | 0,001-0,09 | 0,003-0,3 | 0,003-0,05 | 0,008-0,07 | 0,001-0,09 | 0,001-0,09 | 0,007-0,05 | |
| 20 | Zn | 0,002-0,4 | 0,002-0,04 | 0,005-0,3 | 0,002-0,08 | 0,002-0,07 | 0,002-0,04 | 0,002-0,04 | 0,002-0,04 | |
| 21 | Bi | 0,001-0,03 | 0,001-0,01 | 0,006-0,03 | 0,004-0,003 | 0,001-0,01 | 0,001-0,01 | 0,001-0,01 | 0,001-0,01 | |
| 22 | Ca | 0,0004-0,02 | 0,0004-0,002 | 0,0004-0,002 | 0,003-0,001 | 0,0004-0,002 | 0,0004-0,002 | 0,0004-0,002 | 0,004-0,02 | |
| 23 | Fe | Dodatek | Dodatek | Dodatek | Dodatek | Dodatek | Dodatek | Dodatek | Dodatek | Dodatek |
Funkcje analizy oprogramowania
| Potężne funkcje analizy | Standaryzacja całości lub części krzywej kalibracyjnej przy użyciu metody kalibracji jednopunktowej lub dwupunktowej Funkcja kalibracji typu Sprawdzanie powtarzalności podczas kalibracji i analizy Dodaj nowe krzywe kalibracji Dodaj nowe próbki standardowe do istniejących krzywych kalibracyjnych Funkcja kalibracji standardu wewnętrznego, funkcja korekcji matrycy Automatyczne przełączanie linii analitycznych Automatyczna ekstrapolacja i oznaczanie wyników analitycznych poza zakresem krzywej kalibracyjnej |
| Formularze wyjściowe bogatych danych | Elementy zdefiniowane przez użytkownika, które mają zostać wykryte i wyświetlone w określonej kolejności Zdefiniowane przez użytkownika typy elementów, które mają zostać wykryte, wydrukowane lub zapisane Zdefiniowana przez użytkownika liczba miejsc dziesiętnych do wykrywania, drukowania lub przechowywania Nazwy próbek zdefiniowane przez użytkownika Wyniki analizy mogą być wyprowadzane jako procenty masowe lub procenty masowe wielu odpowiednich linii widmowych w formie zawartości substancji Intensywność może być wyprowadzana jako intensywność światła; wyniki analizy mogą być prezentowane przy użyciu współczynników intensywności skalibrowanych za pomocą współczynników lub skorygowanych współczynników intensywności skalibrowanych Dla wyników pomiarów z dowolnej liczby wzbudzeń można obliczyć średnią, odchylenie standardowe i względne odchylenie standardowe |
| Funkcje przechowywania i drukowania danych | Dane są przechowywane w wbudowanej bazie danych systemu Dane można przechowywać w wielu formatach Dane mogą być przechowywane jako indywidualne wyniki pomiarów i/lub średnie z wielu wyników testów Dane statystyczne mogą być przechowywane Przechowywane dane można przesyłać ręcznie lub automatycznie Możliwość drukowania indywidualnych wyników pomiarów i/lub średnich wyników wielu testów Możliwość wydruku danych statystycznych Wszystkie zapisane dane można wydrukować ręcznie lub automatycznie |
| Wbudowane funkcje diagnostyczne | Monitor ciśnienia argonu Monitor stanu podciśnienia Automatyczna kontrola dryfu widmowego Procedury kalibracji przyrządów i dziennik błędów Wyświetla wszystkie kompletne dane widmowe zapisane w instrumencie i porównuje je z istniejącymi widmami testowymi |
| Inne funkcje | Baza danych ocen i niestandardowa funkcja wprowadzania ocen Funkcja importu i eksportu bazy danych ocen (za pośrednictwem programu Excel) Funkcja wejściowa formuły zdefiniowanej przez użytkownika |
Precyzyjna identyfikacja i analiza śladów
Projektowanie układów optycznych
Łącząc nową technologię detektora półprzewodnikowego CCD ze zoptymalizowaną rozdzielczością pikseli (12 pm) i nową technologią spektroskopii kratowej, system ten reprezentuje nową generację spektroskopii z bezpośrednim odczytem w erze cyfrowej.
Projekt systemu komory optycznej próżniowej
Po pierwsze, nie ma potrzeby przedmuchiwania komory optycznej argonem w czasie rzeczywistym, gdy przyrząd nie jest używany, co pozwala znacząco ograniczyć zużycie argonu, a tym samym obniżyć koszty operacyjne dla klientów.
System osiąga stabilny stan operacyjny w zaledwie 30 minut
Technologia całkowitego pozyskiwania widma (TSA)
Urządzenie umożliwia wygodne dodawanie linii spektralnych i macierzy, umożliwiając analizę wielomacierzową bez konieczności stosowania dodatkowego sprzętu
O nas
Profil fabryki
Dlaczego warto nas wybrać
Często zadawane pytania
P1: Kim jesteśmy?
A1: Założona w 2015 roku firma MSK (Tianjin) Cutting Technology CO.Ltd stale się rozwija i uzyskała certyfikat Rheinland ISO 9001
uwierzytelnianie. Dysponując pięcioosiowymi centrami szlifierskimi najwyższej klasy niemieckiej firmy SACCKE, sześcioosiowym centrum kontroli narzędzi firmy ZOLLER, tajwańską maszyną PALMARY i innym zaawansowanym sprzętem produkcyjnym na świecie, jesteśmy zaangażowani w produkcję wysokiej klasy, profesjonalnych i wydajnych narzędzi CNC.
P2: Czy jesteś firmą handlową czy producentem?
A2: Jesteśmy fabryką narzędzi węglikowych.
P3: Czy możecie wysłać produkty do naszego spedytora w Chinach?
A3: Tak, jeśli masz spedytora w Chinach, chętnie wyślemy do niego/niej produkty.
P4: Jakie warunki płatności są akceptowane?
A4: Zazwyczaj akceptujemy płatności przelewem.
P5: Czy przyjmujecie zamówienia OEM?
A5: Tak, dostępna jest wersja OEM oraz personalizacja. Oferujemy także usługę drukowania etykiet.
P6: Dlaczego warto wybrać właśnie nas?
A6:1) Kontrola kosztów - zakup produktów wysokiej jakości po odpowiedniej cenie.
2) Szybka odpowiedź – w ciągu 48 godzin nasz profesjonalny personel przedstawi Ci wycenę i zajmie się Twoimi pytaniami.
3) Wysoka jakość - Firma zawsze szczerze udowadnia, że oferowane przez nią produkty są w 100% wysokiej jakości.
4) Serwis posprzedażowy i doradztwo techniczne - Firma zapewnia serwis posprzedażowy i doradztwo techniczne zgodnie z wymaganiami i potrzebami klienta.






