SR/RT-serie diktemeter voor reflecterende films – Contactloze optische diktemeter voor nano- tot microndunne films
Productoverzicht
Onze SR/RT-serie reflecterende filmdiktemeter is een uiterst nauwkeurig, contactloos optisch meetsysteem, ontworpen voor snelle en niet-destructieve diktemetingen van dunne films. Gebaseerd op het principe van reflectiespectrometrie en interferentie van gereflecteerd licht van filmoppervlakken en -grensvlakken, karakteriseert dit instrument nauwkeurig films van één tot meerdere lagen met een herhaalbaarheid op nanometerniveau.
Of u nu halfgeleiderwafers, optische coatings, OLED-schermen, antireflectiefolies voor zonnecellen of flexibele elektronica inspecteert, onze meter levert betrouwbare, herhaalbare en snelle resultaten – zonder uw monster aan te raken of te beschadigen.
Belangrijkste kenmerken
- Contactloos en niet-destructief – Behoudt de integriteit van het monster, ideaal voor kwetsbare of waardevolle dunne films.
- Snel scannen – Meettijd van ≤0,5 tot 3 seconden per punt, geschikt voor inline productie.
- Breed diktebereik – van 15 nm tot 70 μm (model SR-C) of van 50 nm tot 40 μm (model SR-M).
- Hoge herhaalbaarheid – 0,02 nm (getest op een 100 nm SiO₂/Si-wafer, 30 metingen).
- Resolutie met meerdere lagen – Maakt het mogelijk om afzonderlijke lagen te onderscheiden door middel van reflectielichtinterferentietechnologie.
- Flexibele configuraties – Kies uit SR-M (algemeen gebruik), SR-C (uitgebreid spectrum), SR-Mapping (diktebepaling) of RT-V (reflectie/transmissie).
- Aanpasbaar spectrum – Standaard 380–1000 nm; uitbreidbaar tot UV 200 nm of NIR 1650 nm.
- Kleine spotgrootte – van 4 µm / 50 µm tot 0,5–1,5 mm voor microgebiedmetingen.
- Loodrechte invalshoek – Vereenvoudigde uitlijning en nauwkeurige meting.
SR/RT-serie
Diktemeter:
Op basis van de analyse van het reflectiespectrum dat ontstaat door de interferentie van gereflecteerd licht van het oppervlak en de interface van de dunne film, maakt deze methode een snelle karakterisering mogelijk van de dikte van diverse diëlektrische beschermlagen, halfgeleiderdunne films, glascoatings, enz.
Productvoordelen
Optische dunnefilm-meetoplossingen
Contactloze, niet-destructieve meting
Dekking van enkellaags tot meerlaagse dunne films
De kernalgoritmes bestrijken zowel dunne als dikke films.
Flexibele configuratie, aanpasbaar.
Resolutiemogelijkheden van meerlaagse dunne films
Op basis van het principe van interferentie van gereflecteerd licht tussen de boven- en ondergrensvlakken van dunne filmlagen, kunnen de eigenschappen van enkellaags tot meerlaags dunne films eenvoudig worden bepaald.
De kernalgoritmes bestrijken zowel dunne als dikke films.
De krachtige kernanalyse-algoritmen omvatten: FFT-analyse van dikke films en curvefitting-analyse van fysische parameters van dunne films.
Technische specificaties
| Instrumenttype | Diktemeter voor reflecterende folie | Reflectie- en transmissiemeetinstrument | ||
| Model | SR-M | SR-C | SR-mapping | RT-V |
| Basisfuncties | Reflectiviteit, filmdikte, n/k, enz. | Parameters zoals reflectiviteit, transmissie, filmdikte en n/k | ||
| Analytisch spectrum | 380-900 nm | 380-1000 nm (golflengte uitgebreid tot UV 200 nm of 1650 nm) | ||
| Meetbereik voor filmdikte | 50 nm-40 μm | 15 nm - 70 μm | ||
| Enkele meettijd | 0,5~3s | ≤1s (aanpassing mogelijk) | ||
| Herhaalbaarheid¹ | 0,02 nm | 0,02 nm (100 nm SiO2 silicium wafer, 30 metingen) | ||
| Meetnauwkeurigheid | De grootste van 0,4% of 2 nm | |||
| Spotgrootte | 4 µm/50 µm | 0,5-1,5 mm | ||
| Invalshoekmethode | Loodrechte inval | |||
Productkenmerken
Maakt gebruik van een halogeenlamp met hoge lichtintensiteit als lichtbron, die het spectrum van ultraviolet-zichtbaar tot nabij-infrarood bestrijkt;
Maakt gebruik van een sterk geïntegreerd opto-mechatronisch ontwerp, wat resulteert in een compact formaat en eenvoudige bediening;
Gebaseerd op het principe van interferentie van gereflecteerd licht tussen de boven- en ondergrensvlakken van dunne filmlagen, maakt het een eenvoudige analyse mogelijk van dunne films, van éénlaags tot meerlaags.
Uitgerust met krachtige kernanalyse-algoritmen: FFT-analyse van dikke films en curvefitting-analyse om de fysische parameters van dunne films te analyseren.
Producttoepassingen
Veel gebruikt voor het meten van diverse diëlektrische beschermlagen, organische dunne films, anorganische dunne films, metaalfilms, coatings en andere dunne films.
Waarom kiezen voor onze SR/RT-serie?
✅ Niet-destructieve optische meting – Geen monstervoorbereiding nodig.
✅ Snel en met een hoge doorvoer – Ideaal voor R&D en kwaliteitscontrole in de productielijn.
✅ Bewezen kernalgoritmes – Geschikt voor dunne tot dikke films, van enkel- tot meerlaags.
✅ Aanpasbaar – Flexibele configuraties die aansluiten op uw specifieke toepassing.
✅ Wereldwijde ondersteuning – Klaar voor export, met technische documentatie en after-sales service.
Bent u klaar om uw meetproces voor dunnefilmdiktes te verbeteren? Neem contact met ons op voor een offerte of een gratis toepassingsanalyse.
Over ons
Fabrieksprofiel
Veelgestelde vragen
Vraag 1: Wie zijn wij?
A1: MSK (Tianjin) Cutting Technology Co., Ltd. is opgericht in 2015 en heeft sindsdien een gestage groei doorgemaakt. Het bedrijf is Rheinland ISO 9001-gecertificeerd. Onze productie- en inspectieprocessen zijn gebaseerd op geavanceerde internationale apparatuur, zoals Duitse SACKE high-end vijfassige slijpcentra, een Duits ZOLLER zesassig gereedschapsmeetsysteem en Taiwanese PALMARY-bewerkingsmachines. Onze kernmissie is het leveren van duurzame, hoogwaardige CNC-snijgereedschappen die voldoen aan professionele en efficiënte bewerkingsnormen.
Vraag 2: Bent u een handelsonderneming of een fabrikant?
A2: Wij opereren als directe fabrikant, met als voornaamste focus de productie van hardmetalen snijgereedschappen.
Vraag 3: Is het mogelijk om de producten te leveren aan mijn expediteur in China?
A3: Ja, dat is geen probleem. Als u al een expediteur in China heeft, regelen wij de levering naar hun magazijn of een ander door u opgegeven adres.
Vraag 4: Welke betaalopties biedt u uw klanten aan?
A4: Momenteel accepteren we voornamelijk T/T (telegrafische overschrijving) als standaard betaalmethode.
Vraag 5: Kunt u OEM-bestellingen of aangepaste productvereisten verwerken?
A5: Zeker. We ondersteunen zowel OEM- als maatwerkverzoeken volledig. Daarnaast bieden we een service voor het printen van etiketten op maat om uw eigen merkidentiteit te versterken.
Vraag 6: Waarom is MSK een voorkeurspartner voor oplossingen voor snijgereedschappen?
A6: Hieronder vindt u een aantal belangrijke voordelen die ons onderscheiden:
Betaalbare kwaliteit – Wij helpen klanten een balans te vinden tussen kosten en prestaties door betrouwbare producten aan te bieden tegen redelijke prijzen.
Snelle communicatie – Ons team beantwoordt vragen en levert offertes binnen 48 uur.
Constante betrouwbaarheid – Wij staan volledig achter elk product met een kwaliteitsgarantie van 100%.
Hulp op maat – Wij bieden persoonlijke service na aankoop en technische begeleiding, afgestemd op de specifieke behoeften van elke klant.
Stuur ons uw bericht:
-
R8 Er32 spantang
-
Zeer nauwkeurige DC6/8/12 spantang met achterwaartse trek
-
HRC55 hardmetalen 4-snijdige hoekradiusfrees
-
HSSCO Diepgatboorbits met parabolische groeven en spiraalvormige boring
-
1-13 mm 1-16 mm 3-16 mm B16 Sleutelloze boorkop Fo...
-
Draagbare laservolger voor grote afstanden | Zeer nauwkeurig...
