Misuratore di spessore per film riflettenti serie SR/RT – Tester ottico senza contatto per film sottili da nano a micron
Panoramica del prodotto
Il nostro misuratore di spessore per film sottili a riflessione serie SR/RT è un sistema di misurazione ottica senza contatto ad alta precisione, progettato per la misurazione rapida e non distruttiva dello spessore di film sottili. Basato sul principio della spettrometria di riflettanza e sull'interferenza della luce riflessa dalle superfici e dalle interfacce del film, questo strumento caratterizza con precisione film da monostrato a multistrato con ripetibilità a livello nanometrico.
Che si tratti di ispezionare wafer di semiconduttori, rivestimenti ottici, display OLED, pellicole antiriflesso per celle solari o componenti elettronici flessibili, il nostro strumento di misura fornisce risultati affidabili, ripetibili e rapidi, senza mai toccare o danneggiare il campione.
Caratteristiche principali
- Senza contatto e non distruttivo: preserva l'integrità del campione, ideale per pellicole sottili fragili o di alto valore.
- Scansione rapida: tempo di misurazione da ≤0,5 a 3 secondi per punto, ideale per la produzione in linea.
- Ampio intervallo di spessore: da 15 nm fino a 70 μm (modello SR-C) o da 50 nm a 40 μm (modello SR-M).
- Elevata ripetibilità: 0,02 nm (testato su wafer di SiO₂/Si da 100 nm, 30 misurazioni).
- Risoluzione multistrato: consente di distinguere da un singolo strato a più strati tramite la tecnologia di interferenza della luce riflessa.
- Configurazioni flessibili: scegli tra SR-M (uso generale), SR-C (spettro esteso), SR-Mapping (mappatura dello spessore) o RT-V (riflessione/trasmissione).
- Spettro personalizzabile – Standard 380–1000 nm; estendibile a UV 200 nm o NIR 1650 nm.
- Dimensioni ridotte del punto di analisi: da 4 µm / 50 µm fino a 0,5–1,5 mm per misurazioni di microaree.
- Incidenza perpendicolare: allineamento semplificato e misurazione precisa.
Serie SR/RT
Misuratore di spessore:
Basandosi sull'analisi dello spettro di riflessione formato dall'interferenza della luce riflessa dalla superficie e dall'interfaccia del film sottile, consente una rapida caratterizzazione dello spessore di vari film protettivi dielettrici, film sottili semiconduttori, rivestimenti in vetro, ecc.
Vantaggi del prodotto
Soluzioni ottiche per la misurazione di film sottili
Misurazione senza contatto e non distruttiva
Copertura da film sottili monostrato a multistrato
Gli algoritmi principali coprono pellicole sottili e spesse.
Configurazione flessibile, supporta la personalizzazione
Capacità di risoluzione di film sottili multistrato
Basandosi sul principio dell'interferenza della luce riflessa tra le interfacce superiore e inferiore degli strati di film sottile, è possibile distinguere facilmente le caratteristiche dei film sottili monostrato e multistrato.
Gli algoritmi principali coprono pellicole sottili e spesse.
Tra i potenti algoritmi di analisi di base figurano: l'analisi FFT di film spessi e l'analisi di adattamento delle curve dei parametri fisici di film sottili.
Specifiche tecniche
| Tipo di strumento | Misuratore di spessore della pellicola riflettente | Strumento di misurazione a riflessione e trasmissione | ||
| Modello | SR-M | SR-C | Mappatura SR | RT-V |
| Funzioni di base | Riflettività, spessore del film, n/k, ecc. | Parametri quali riflettività, trasmittanza, spessore del film e n/k | ||
| Spettro analitico | 380-900 nm | 380-1000 nm (lunghezza d'onda estesa fino a UV 200 nm o 1650 nm) | ||
| Intervallo di misurazione dello spessore del film | 50nm-40μm | 15 nm-70 μm | ||
| Tempo di singola misurazione | 0,5~3 secondi | ≤1s (personalizzazione supportata) | ||
| Ripetibilit๠| 0,02 nm | 0,02 nm (wafer di silicio SiO2 da 100 nm, 30 misurazioni) | ||
| Precisione della misurazione | Il valore maggiore tra lo 0,4% e 2 nm | |||
| Dimensione del punto | 4 µm/50 µm | 0,5-1,5 mm | ||
| Metodo dell'angolo di incidenza | Incidenza perpendicolare | |||
Caratteristiche del prodotto
Utilizza una sorgente luminosa a lampada alogena ad alta intensità, che copre lo spettro dall'ultravioletto al visibile fino al vicino infrarosso;
Utilizza un design opto-meccatronico altamente integrato, che si traduce in dimensioni compatte e facilità d'uso;
Basandosi sul principio dell'interferenza della luce riflessa tra le interfacce superiore e inferiore degli strati di film sottile, è in grado di analizzare facilmente film sottili da monostrato a multistrato;
Dotato di potenti algoritmi di analisi di base: analisi FFT di film spessi e analisi di adattamento delle curve per analizzare i parametri fisici dei film sottili.
Applicazioni del prodotto
Ampiamente utilizzato per la misurazione di vari film protettivi dielettrici, film sottili organici, film sottili inorganici, film metallici, rivestimenti e altri film sottili.
Perché scegliere la nostra serie SR/RT?
✅ Misurazione ottica non distruttiva – Non è necessaria alcuna preparazione del campione.
✅ Veloce e ad alta produttività: ideale per la ricerca e sviluppo e il controllo qualità delle linee di produzione.
✅ Algoritmi di base collaudati: coprono pellicole da sottili a spesse, da monostrato a multistrato.
✅ Personalizzabile – Configurazioni flessibili per adattarsi alla tua specifica applicazione.
✅ Supporto globale – Pronto per l'esportazione, con documentazione tecnica e servizio post-vendita.
Pronti a migliorare il vostro processo di misurazione dello spessore dei film sottili? Contattateci per un preventivo o una valutazione gratuita della vostra applicazione.
Chi siamo
Profilo della fabbrica
FAQ
D1: Chi siamo?
A1: MSK (Tianjin) Cutting Technology Co., Ltd. è stata fondata nel 2015 e da allora ha registrato una crescita costante. L'azienda è certificata Rheinland ISO 9001. I nostri processi di produzione e controllo qualità si basano su attrezzature internazionali all'avanguardia, come i centri di rettifica a cinque assi di alta gamma tedeschi SACKE, il sistema di misurazione utensili a sei assi tedesco ZOLLER e le macchine utensili taiwanesi PALMARY. La nostra missione principale è fornire utensili da taglio CNC durevoli e ad alte prestazioni che soddisfino gli standard di lavorazione professionali ed efficienti.
D2: Siete una società commerciale o un produttore?
A2: Operiamo come produttori diretti, con un focus primario sulla produzione di utensili da taglio in metallo duro.
D3: È possibile consegnare i prodotti al mio spedizioniere con sede in Cina?
A3: Sì, nessun problema. Se avete già uno spedizioniere in Cina, coordineremo la consegna al loro magazzino o a qualsiasi altro indirizzo da voi indicato.
D4: Quali opzioni di pagamento offrite ai clienti?
A4: Attualmente, accettiamo principalmente il bonifico bancario (T/T) come metodo di pagamento standard.
D5: Siete in grado di gestire ordini OEM o richieste di prodotti personalizzati?
A5: Certamente. Supportiamo pienamente sia le richieste OEM che quelle di personalizzazione. Inoltre, offriamo un servizio di stampa di etichette personalizzate per supportare le vostre iniziative di branding.
D6: Cosa rende MSK un partner privilegiato per le soluzioni di utensili da taglio?
A6: Ecco alcuni vantaggi chiave che ci distinguono:
Qualità a prezzi accessibili: aiutiamo i clienti a trovare il giusto equilibrio tra costi e prestazioni, offrendo prodotti affidabili a prezzi ragionevoli.
Comunicazione rapida: il nostro team risponde alle richieste e fornisce preventivi entro 48 ore.
Affidabilità costante: garantiamo ogni prodotto con un impegno di assicurazione della qualità al 100%.
Assistenza su misura: forniamo un servizio post-vendita personalizzato e una consulenza tecnica basata sulle esigenze specifiche di ogni cliente.
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