Новийнастільний рентгенофлуоресцентний вимірювач товщини покриттябуло запущено, пропонуючи виробникам та лабораторіям контролю якості економічно ефективне, високоточне рішення для вимірювання металевих покриттів, гальванічних покриттів та товщини покриттів на різних підкладках. Прилад використовує технологію енергодисперсійної рентгенівської флуоресценції (EDXRF), що дозволяє проводити неруйнівний аналіз до 24 елементів від фтору (F) до урану (U) за одне вимірювання.
Відповідність галузевим вимогам до точності та гнучкості
Зі зростанням складності обробки поверхонь та мініатюризації компонентів, традиційні вимірювачі товщини покриттів часто мають проблеми з крихітними точками вимірювання або нерівними поверхнями. Новий рентгенофлуоресцентний флуоресцентний вимірювач вирішує ці проблеми за допомогою перемиканих коліматорів розміром до 0,05 мм та запатентованого методу компенсації відстані (DCM), який підтримує точність на робочій відстані від 0 до 25 мм. Це забезпечує стабільні результати на криволінійних, заглиблених або деталях неправильної форми – від мікророз'ємів до автомобільної фурнітури.
Розширені функції для лабораторного та виробничого використання
Прилад оснащений рентгенівською трубкою з вольфрамовою мішенню (три регульовані рівні високої напруги: 30 В, 40 Вт, 50 В) та пропорційним лічильником-детектором. Кольорова CCD-камера високої роздільної здатності забезпечує збільшення від 40× до 160×, з перехрестям наведення та каліброваною шкалою для точного позиціонування точки вимірювання. Ручний робочий стіл XY підтримує зразки вагою до 2 кг та висотою 174 мм.
Зручне програмне забезпечення та відповідність вимогам
Вимірювальний прилад працює на програмному забезпеченні WinFTM® (версії LIGHT, BASIC, PDM або SUPER), що забезпечує інтуїтивно зрозуміле керування для вимірювання товщини покриття та аналізу складу матеріалу. Він повністю відповідає стандартам DIN ISO 3497 та ASTM B 568, а також вимогам безпеки CE, а також німецьким нормам RöV щодо рентгенівського випромінювання.
Застосування в різних галузях промисловості
Типові застосування включають:
- Товщина гальванічного покриття (Zn, Cu, Ni, Cr, Au, Ag тощо)
- Фарбування та порошкове покриття металів
- Вимірювання анодувальної плівки
- Вхідний контроль та забезпечення якості у виробництві електроніки, ювелірних виробів, автомобільних деталей та обладнання
Наявність
Товщиномір покриттів XRF доступний для негайного замовлення, з опціями для різних наборів коліматорів та програмних модулів WinFTM. Ласкаво просимо до OEM та оптових постачальників.
Для отримання додаткової інформації звертайтеся:
Міжнародна торгова компанія MSK (Тяньцзінь), ТОВ
Електронна пошта:molly@mskcnctools.com
Веб:www.mskcnctools.com
Час публікації: 21 травня 2026 р.
