Eng neiBenchtop XRF Beschichtungsdickemessergouf lancéiert, a bitt Hiersteller a Qualitéitskontrolllaboratoiren eng käschtegënschteg, héichpräzis Léisung fir d'Miessung vu Metallbeschichtung, Galvaniséierung a Beschichtungsdicke op verschiddene Substrater. Den Instrument benotzt d'Energiedispersive Röntgenfluoreszenz (EDXRF) Technologie, déi eng net-destruktiv Analyse vu bis zu 24 Elementer vu Fluor (F) bis Uran (U) an enger eenzeger Miessung erméiglecht.
Erfëllung vun den Ufuerderunge vun der Industrie no Genauegkeet a Flexibilitéit
Mat der wuessender Komplexitéit vun der Uewerflächentechnik a miniaturiséierte Komponenten hunn traditionell Beschichtungsdickenmesser dacks Problemer mat klenge Miessplazen oder ongläiche Flächen. Den neien XRF-Messer léist dës Erausfuerderungen mat schaltbare Kollimatoren, déi sou kleng sinn wéi 0,05 mm, an enger patentéierter DCM (Distanzkompensatiounsmethod), déi eng Genauegkeet iwwer eng Aarbechtsdistanz vun 0–25 mm garantéiert. Dëst garantéiert stabil Resultater op gekrëmmten, agebauten oder onregelméisseg geformten Deeler – vu Mikrostecker bis Autoshardware.
Fortgeschratt Funktiounen fir Laboratoire a Produktioun
D'Instrument ass mat engem Wolfram-Zil-Röntgenröhrchen (dräi justierbar Héichspannungsniveauen: 30V, 40W, 50V) an engem proportionalen Zählerdetektor ausgestatt. Eng héichopléisend CCD-Faarfkamera bitt eng Vergréisserung vu 40× bis 160×, mat Fadenkreuz an enger kalibréierter Skala fir eng präzis Positionéierung vum Miesspunkt. Den manuellen XY-Aarbechtsdësch ënnerstëtzt Proben bis zu 2 kg an eng Héicht vun 174 mm.
Benotzerfrëndlech Software & Konformitéit
De Moossinstrument funktionéiert mat der WinFTM® Software (LIGHT, BASIC, PDM oder SUPER Versiounen) a bitt eng intuitiv Operatioun fir d'Miessung vun der Beschichtungsdicke an d'Analyse vun der Materialzesummesetzung. E entsprécht vollstänneg den DIN ISO 3497 an ASTM B 568 Normen a erfëllt d'CE Sécherheetsufuerderungen souwéi déi däitsch RöV Röntgenreglementer.
Uwendungen iwwer verschidde Branchen
Typesch Uwendungen enthalen:
- Galvaniséierungsdéckt (Zn, Cu, Ni, Cr, Au, Ag, etc.)
- Lack a Pulverbeschichtung op Metaller
- Miessung vun der Anodiséierungsfilm
- Inspektioun vun den Entréeën a Qualitéitssécherung an der Elektronik, Bijouen, Autosdeeler an Hardwareproduktioun
Disponibilitéit
Den XRF Beschichtungsdicknessmessgerät ass direkt verfügbar fir ze bestellen, mat Optiounen fir verschidde Kollimatorsätz a WinFTM Softwaremoduler. OEM- a Grousshandelsufroe si wëllkomm.
Fir méi Informatiounen, kontaktéiert w.e.g.:
MSK (Tianjin) International Trading CO., Ltd.
E-Mail:molly@mskcnctools.com
Web:www.mskcnctools.com
Zäitpunkt vun der Verëffentlechung: 21. Mee 2026
