Høypresisjonspenne med overflateprofilering | Nanometertrinninstrument for halvledere

Produktfordeler:

Stabil ytelse, rask overføring, automatisk kalibrering, nøyaktig måling, rask respons og sanntidsovervåking.

Stabil ytelse, skrivebordsdesign.

Det revolusjonerende skrivebordsdesignet oppnår en balanse mellom høy ytelse, brukervennlighet og kostnadseffektivitet.

Kompakt og pålitelig design

Optimalisert maskinvarekonfigurasjon, kompakt struktur, forbedret testnøyaktighet og stabilitet, og høy effektivitet.

Overlegne materialer, slitesterke og langvarige.

Utsøkt håndverk, håndverk, høy effektivitet og lang levetid.

Produktinformasjon

Produktoversikt: Step Instrument Probe Profilometer (Step Analyzer) har et revolusjonerende design for benkmontering, som kombinerer bransjeledende teknologi og design for å oppnå en balanse mellom høy ytelse, brukervennlighet og kostnadseffektivitet, med forbedret prosesskontroll fra FoU til kvalitetskontroll.

Enheten oppnår utmerket repeterbarhet ved 4A (0,4 nm) og en 40 % økning i skannehastighet, og støtter nanoskala overflatetopografi-målingsteknologi i bransjer som mikroelektronikk, halvledere, berøringsskjermer, solenergi, lyssterke LED-er, medisin og materialvitenskap.

Utstyrsfunksjoner

Uovertruffen ytelse, reproduserbarhet av trinnhøyde under 4A

Innovativ design, omfattende tilbehør og optimalisert drifts- og analyseprogramvare gjør at Step-instrumentet oppnår forbedret ytelse og overlegen reproduserbarhet av trinnhøyde.

Enkeltbuedesign for banebrytende skannestabilitet

Enkeltbuedesignet gjør Step-instrumentet mer robust, og minimerer effekten av omgivelsesstøy. Step-instrumentets skanneprober muliggjør samtidig stor vertikal rekkevidde og skanning med lav kraft.

Oppgradert «smart elektronikk» for forbedret målenøyaktighet og stabilitet

Steginstrumentets oppgraderte «Smart Electronics», som bruker en avansert prosessor, reduserer støynivået og gjør det til et kraftigere system som kan måle trinnhøyder <10 nm.

Optimalisert maskinvarekonfigurasjon reduserer datainnsamlingstiden med 40 %

Ved å bruke et unikt direktedrevet skannetrinn akselereres måletiden med 40 % samtidig som bransjeledende ytelse opprettholdes. Step-instrumentets 64-bit parallelle prosessering Vision64 fullfører og behandler store 3D-datafiler på kortere tid.

64-bits Vision64 synkron databehandlingsprogramvare øker dataanalysehastigheten ti ganger.

Vision64 er Step Instruments 64-bits parallelle prosesserings- og analyseprogramvare, som muliggjør raskere lasting av 3D-topografidata og raskere bruk av filtre og analyse av databaser i flere regioner.

Intuitivt Vision64-brukergrensesnitt for enklere bruk.

Vision64-programvaren tilbyr et intuitivt og forenklet brukergrensesnitt, som kombinerer intelligent arkitektur og tilpassbare automatiseringsfunksjoner for rask og omfattende datainnsamling og -analyse. Step Instruments' Vision64 forenkler og akselererer drift og dataanalyse betydelig.

Automatisk spissjusteringssystem for enkle probebytter

Step-instrumentets selvjusterende probeenhet lar brukere raskt og enkelt bytte mellom forskjellige prober, noe som eliminerer potensielle risikoer under bytteprosessen.

Bredt utvalg av probemodeller

Step Instrument tilbyr et bredt utvalg av probestørrelser og -former for å møte så godt som alle behov. Step Instrument har en raskere og enklere probebytteprosess.

Design med én sensor

Gir lav kraft og et bredt skanneområde på et enkelt plan.

Sikre høy gjennomstrømningstesting

Step-instrumentet muliggjør rask og enkel oppsett og utførelse av automatiserte flerprøvemålingsmoduser for å verifisere den nøyaktige tykkelsen på tynne filmer over hele waferoverflaten med overlegen repeterbarhet. Denne effektive overvåkingen sparer verdifull tid og penger ved å øke testgjennomstrømningen.

Søknadstilfeller

Tynnfilmtesting – Sikring av høye utbytter

I halvlederproduksjon kan grundig overvåking av ensartethet i avsetnings- og etseforhold, tynnfilmspenning og ITO-måling av tynnfilmtykkelse på berøringsskjermer spare betydelig tid og penger. Inhomogenitet eller overdreven spenning i tynnfilmen kan føre til lavt utbytte og dårlig ytelse for det ferdige produktet. Steginstrumentet muliggjør enkel og rask oppsett og utførelse av automatiserte flerpunktstestprogrammer for å verifisere den nøyaktige tykkelsen på tynne waferfilmer ned til nanometernivå. Steginstrumentets sterke reproduserbarhet gir ingeniører nøyaktig tynnfilmtykkelse og spenningstesting for å nøyaktig justere etsing og avsetning for optimale resultater.

Inspeksjon av overflateruhet – Sikring av ytelse

Step-instrumentet er egnet for rutinemessig vurdering av overflateruhet på presisjonsmaskindeler i mange bransjer, inkludert bilindustri, luftfart og medisinsk utstyr. For eksempel kan ruheten til hydroksyapatittbelegget på baksiden av ortopediske implantater påvirke adhesjon og effektivitet etter implantasjon. Rask analyse av overflateruhet ved hjelp av Step-instrumentet kan avgjøre om krystallproduksjonen oppfyller forventningene og om implantater oppfyller produktkravene. Ved å bruke Vision64-databasens bestått/ikke bestått-kriterier kan kvalitetsstyringsavdelinger enkelt avgjøre om implantater må bearbeides på nytt eller kvaliteten sikres.

Analyse av solcellenettlinjer – reduksjon av produksjonskostnader

I solcellemarkedet er Step-instrumentet ideelt for å måle de kritiske dimensjonene til ledende sølvgitterlinjer på monokrystallinske og polykrystallinske silisiumsolcellepaneler. Høyden, bredden og kontinuiteten til sølvlinjene er nært knyttet til solcellens energiledningsevne. Ideelt sett bør produksjonen utnytte sølv på riktig måte for å oppnå bedre konduktivitet uten å sløse med dyrt sølv. Step-instrumentet oppnår dette gjennom programvareanalyse, og rapporterer de kritiske dimensjonene til sølvgitterlinjene for å bestemme de nøyaktige komponentene som kreves for konduktivitet. Vision64s dataanalysemetoder og automatiseringsfunksjoner bidrar til å automatisere denne verifiseringsprosessen.

Mikrofluidikkteknologi - Deteksjon av design og ytelse

Step-instrumentet er et probeprofilometer som er i stand til å måle lysfølsomme materialer med reproduserbarhet på Ångstrøm-nivå over et stort vertikalt område (opptil 1 mm). Forskere innen MEMS- og mikrofluidikkteknologi kan bruke Step-instrumentet til kvalifiseringstesting for å sikre at deler oppfyller spesifikasjonene. Lavkraftsmålefunksjonen NLite+ berører det lysfølsomme materialet lett for å måle vertikale trinn og ruhet.