Zeer nauwkeurige stylus-oppervlakteprofiler | Nanometer-stapinstrument voor halfgeleiders
Bestelinstructies
Vanwege de specifieke aard van het product is de prijs die op de pagina wordt weergegeven een aanbetaling en niet de uiteindelijke prijs. Neem contact op met de klantenservice voor een prijsopgave.
Bestellingen die direct zonder voorafgaand contact worden geplaatst, kunnen niet worden verzonden! Bedankt voor uw medewerking! Neem voor meer productinformatie contact op met de klantenservice om productbrochures te ontvangen.
Zeer nauwkeurige stylus-oppervlakteprofiler – meting van staphoogte en oppervlakteruwheid in nanometerbereik
Deze contact-stylus-oppervlakteprofielmeter is een precisie-meetinstrument ontworpen voor het nauwkeurig meten van staphoogte, oppervlakteruwheid en 3D-topografie. Met behulp van een diamanten stylus die het monsteroppervlak voorzichtig aftast, volgt het systeem nauwkeurig microscopische pieken en dalen en levert zo betrouwbare, reproduceerbare gegevens voor kwaliteitscontrole, R&D en productieomgevingen.
Hoe het werkt
Het meetprincipe is gebaseerd op een contactmethode met een stylus. Terwijl de stylus over het oppervlak beweegt, volgt de verticale verplaatsing het oppervlakteprofiel. Deze beweging wordt via een meetbrug omgezet in een elektrisch signaal, dat een amplitude-gemoduleerde uitgang produceert die evenredig is met de verplaatsing. Na versterking, fasegevoelige gelijkrichting en geavanceerde filtering (inclusief ruis- en golvingsfilters) levert het systeem een schoon, stabiel signaal – vrij van externe interferentie en golvingseffecten – wat een zeer nauwkeurige analyse van ruwheid en staphoogte garandeert.
Belangrijkste toepassingen
Metrologie van halfgeleiderwafels
MEMS en microstructuren
Dunne film en coatingdikte
Oppervlakteprofilering van zonnecellen
Precisieoptiek en medische apparaten
Productvoordelen:
Stabiele prestaties, snelle gegevensoverdracht, automatische kalibratie, nauwkeurige meting, snelle respons en realtime monitoring.
Stabiele prestaties, desktopontwerp.
Het revolutionaire desktopontwerp biedt een evenwicht tussen hoge prestaties, gebruiksgemak en kosteneffectiviteit.
Compact en betrouwbaar ontwerp
Geoptimaliseerde hardwareconfiguratie, compacte structuur, verbeterde testnauwkeurigheid en -stabiliteit, en hoge efficiëntie.
Hoogwaardige materialen, duurzaam en gaan lang mee.
Uitmuntende afwerking, vakmanschap, hoge efficiëntie en een lange levensduur.
Productinformatie
Productoverzicht: De Step instrument Probe Profilometer (Step Analyzer) heeft een revolutionair tafelmodelontwerp dat toonaangevende technologie en design combineert om een balans te bereiken tussen hoge prestaties, gebruiksgemak en kosteneffectiviteit, met verbeterde procesbeheersing van R&D tot kwaliteitscontrole.
Het apparaat behaalt een uitstekende herhaalbaarheid bij 4A (0,4 nm) en een 40% hogere scansnelheid, waarmee het de meettechnologie voor oppervlaktetopografie op nanoschaal ondersteunt in industrieën zoals micro-elektronica, halfgeleiders, touchscreens, zonne-energie, led's met hoge helderheid, de medische sector en materiaalkunde.
Apparatuurkenmerken
Ongeëvenaarde prestaties, reproduceerbaarheid van de staphoogte onder 4A.
Innovatief ontwerp, uitgebreide accessoires en geoptimaliseerde bedienings- en analysesoftware zorgen ervoor dat het Step-instrument betere prestaties en een superieure reproduceerbaarheid van de staphoogte levert.
Ontwerp met één boog voor baanbrekende scanstabiliteit
Het ontwerp met één boog maakt het Step-instrument robuuster en minimaliseert de invloed van omgevingsgeluid. De scanprobes van het Step-instrument maken gelijktijdig scannen met een groot verticaal bereik en lage kracht mogelijk.
Verbeterde "slimme elektronica" voor een hogere meetnauwkeurigheid en stabiliteit.
De verbeterde "Smart Electronics" van Step Instrument, met een geavanceerde processor, reduceert het ruisniveau, waardoor het een krachtiger systeem is dat staphoogtes van minder dan 10 nm kan meten.
Geoptimaliseerde hardwareconfiguratie verkort de data-acquisitietijd met 40%.
Dankzij een uniek direct-drive scanplatform wordt de meettijd met 40% verkort, terwijl de toonaangevende prestaties behouden blijven. De 64-bits parallelle verwerking Vision64 van Step Instruments voltooit en verwerkt grote 3D-gegevensbestanden in minder tijd.
De 64-bits Vision64-software voor synchrone gegevensverwerking verhoogt de snelheid van gegevensanalyse met een factor tien.
Vision64 is de 64-bits parallelle verwerkings- en analysesoftware van Step Instruments, waarmee 3D-topografiegegevens sneller kunnen worden geladen en filters sneller kunnen worden toegepast, evenals analyses van databases met meerdere regio's.
Intuïtieve Vision64-gebruikersinterface voor eenvoudiger gebruik.
De Vision64-software biedt een intuïtieve en vereenvoudigde gebruikersinterface, die een intelligente architectuur combineert met aanpasbare automatiseringsfuncties voor snelle en uitgebreide gegevensverzameling en -analyse. Vision64 van Step Instruments vereenvoudigt en versnelt de bediening en data-analyse aanzienlijk.
Automatisch tipuitlijningssysteem voor eenvoudige sondewissels
De zelfuitlijnende sonde-eenheid van Step Instruments maakt het voor gebruikers mogelijk om snel en eenvoudig tussen verschillende sondes te wisselen, waardoor potentiële risico's tijdens het wisselen worden geëlimineerd.
Breed scala aan sondemodellen
Step Instrument biedt een breed scala aan sondeformaten en -vormen om aan vrijwel elke toepassingsbehoefte te voldoen. Step Instrument kenmerkt zich door een sneller en eenvoudiger proces voor het wisselen van sondes.
Ontwerp met één sensor
Biedt een lage kracht en een breed scanbereik in één vlak.
Het garanderen van testen met een hoge doorvoer
Het Step-instrument maakt een snelle en eenvoudige configuratie en uitvoering van geautomatiseerde meetmodi voor meerdere monsters mogelijk, waarmee de precieze dikte van dunne films over het gehele waferoppervlak met superieure herhaalbaarheid kan worden geverifieerd. Deze effectieve monitoring bespaart waardevolle tijd en geld door de testdoorvoer te verhogen.
Toepassingsvoorbeelden
Dunnefilmtesten - Het garanderen van hoge opbrengsten
In de halfgeleiderproductie kan nauwkeurige monitoring van de uniformiteit van de depositie- en etsratio, de spanning in de dunne film en de diktemeting van de ITO-dunne film op touchscreenpanelen aanzienlijke tijd en geld besparen. Inhomogeniteit of overmatige spanning in de dunne film kan leiden tot een lage opbrengst en slechte prestaties van het eindproduct. Het Step-instrument maakt een eenvoudige en snelle configuratie en uitvoering van geautomatiseerde meerpunts testprogramma's mogelijk om de precieze dikte van de dunne film op wafers tot op nanometerniveau te verifiëren. De hoge reproduceerbaarheid van het Step-instrument biedt engineers nauwkeurige metingen van de dikte en spanning van de dunne film, waardoor etsen en depositie nauwkeurig kunnen worden afgesteld voor optimale resultaten.
Oppervlakteruwheidsinspectie - Prestatiegarantie
Het Step-instrument is geschikt voor routinematige oppervlakteruwheidsmetingen van precisieonderdelen in diverse industrieën, waaronder de automobiel-, ruimtevaart- en medische sector. De ruwheid van de hydroxyapatietcoating op de achterkant van orthopedische implantaten kan bijvoorbeeld de hechting en effectiviteit na implantatie beïnvloeden. Snelle oppervlakteruwheidsanalyse met het Step-instrument kan bepalen of de kristalproductie aan de verwachtingen voldoet en of implantaten aan de producteisen voldoen. Met behulp van de slaag-/faalcriteria in de Vision64-database kunnen kwaliteitsmanagementafdelingen eenvoudig vaststellen of implantaten moeten worden herwerkt of dat de kwaliteit ervan gewaarborgd moet worden.
Analyse van zonne-energie-netleidingen - Verlaging van productiekosten
In de zonne-energiemarkt is het Step-instrument ideaal voor het meten van de kritische afmetingen van geleidende zilveren rasterlijnen op monokristallijne en polykristallijne silicium zonnepanelen. De hoogte, breedte en continuïteit van de zilveren lijnen zijn nauw verbonden met de energiegeleiding van de zonnecel. Idealiter zou de productie zilver op de juiste manier moeten gebruiken om een betere geleidbaarheid te bereiken zonder kostbaar zilver te verspillen. Het Step-instrument bereikt dit door middel van softwareanalyse, waarbij de kritische afmetingen van de zilveren rasterlijnen worden gerapporteerd om de precieze componenten te bepalen die nodig zijn voor een optimale geleidbaarheid. De data-analysemethoden en automatiseringsfuncties van Vision64 dragen bij aan de automatisering van dit verificatieproces.
Microfluidica-technologie - Ontwerp en prestaties van detectie
Het Step-instrument is een probe-profilometer die lichtgevoelige materialen kan meten met een reproduceerbaarheid op angstromniveau over een groot verticaal bereik (tot 1 mm). Onderzoekers in de MEMS- en microfluidica-industrie kunnen het Step-instrument gebruiken voor kwalificatietests om te garanderen dat onderdelen aan de specificaties voldoen. De NLite+-meetfunctie met lage kracht raakt het lichtgevoelige materiaal licht aan om verticale stappen en ruwheid te meten.
Technische parameters
| Meettechnologie | Sondeprofileringstechnologie |
| Meetfunctie | 2D-oppervlakteprofielmeting |
| Optionele 3D-meting/ | |
| Voorbeeldweergave | Instelbare vergroting, gezichtsveld van 1 tot 4 mm |
| sondesensor | Sensor met lage traagheid (LIS3) |
| Sondedruk | Met behulp van de LIS3-sensor: 1 tot 15 mg |
| Lage kracht (optioneel) | Met de N-Lite+ sensor voor lage krachten: 0,03 tot 15 mg |
| Sondeopties | Instelbaar bereik van de kromtestraal van de sonde: 50 nm tot 25 μm; |
| Tips met een verhouding tussen hoogte en diameter (HAR): 10 μm * 2 μm en 200 μm * 20 μm; | |
| Tips op maat zijn op aanvraag beschikbaar. | |
| Voorbeeld X/Y-fase | Handmatige XY-verplaatsing: 100 mm (4 inch) |
| Gemotoriseerde XY-verplaatsing: 150 mm (6 inch) | |
| Voorbeeld van een draaiplateau | Handmatig, 360° rotatie; |
| Gemotoriseerd: 360° rotatie; | |
| Computersysteem | 64-bits multi-core processor, Windows* 7.0; optioneel 23-inch plat beeldscherm |
| Software | Vision64 bedienings- en analysesoftware; |
| Software voor spanningsmeting: Doorbuiging van de cantilever; | |
| Hechtsoftware: 3D-scansoftware | |
| Trillingsdempingsinrichting | Schokdemping beschikbaar |
| Scanlengtebereik | 55 mm (2 inch) |
| Gegevenspunten per scan | Tot wel 120.000 datapunten |
| Maximale monsterdikte | 50 mm (2 inch) |
| Maximale wafergrootte | 200 mm (8 inch) |
| Reproduceerbaarheid van de staphoogte | <4A1σ op een stapgrootte van 1 μm |
| Verticaal bereik | 1 mm (0,039 inch) |
| Verticale resolutie | Maximaal 1A (bij een verticaal bereik van 6,55 μm) |
| Ingangsspanning | 100 - 240 VAC, 50 - 60 Hz |
| Temperatuurbereik | Bedrijfstemperatuurbereik: 20 tot 25 °C (68 tot 77 °F) |
| Vochtigheidsbereik | ≤80%, niet-condenserend |
| Systeemgrootte en -gewicht | 455 mm B x 550 mm D x 370 mm H |
| (179 inch breed x 22,6 inch diep x 14,5 inch hoog); | |
| 34 kg (75 lbs); | |
| Bevestiging: 550 mm L x 585 mm B x 445 mm H (216 inch L x 23 inch B x 175 inch H); | |
| 217 kg (48 lbs) |
Over ons
Fabrieksprofiel
Waarom voor ons kiezen?
Veelgestelde vragen
Vraag 1: Wie zijn wij?
A1: MSK (Tianjin) Cutting Technology CO.Ltd, opgericht in 2015, is continu gegroeid en heeft het Rheinland ISO 9001-certificaat behaald.
authenticatie. Met hoogwaardige vijfassige slijpcentra van SACCKE uit Duitsland, een zesassig gereedschapsinspectiecentrum van ZOLLER uit Duitsland, machines van PALMARY uit Taiwan en andere internationaal geavanceerde productieapparatuur, zetten wij ons in voor de productie van hoogwaardige, professionele en efficiënte CNC-gereedschappen.
Vraag 2: Bent u een handelsonderneming of een fabrikant?
A2: Wij zijn een fabriek voor hardmetalen gereedschappen.
Vraag 3: Kunt u producten naar onze expediteur in China sturen?
A3: Ja, als u een expediteur in China heeft, sturen we de producten graag naar hem/haar toe.
Vraag 4: Welke betalingsvoorwaarden zijn acceptabel?
A4: Normaal gesproken accepteren we T/T.
Vraag 5: Accepteert u OEM-bestellingen?
A5: Ja, OEM en maatwerk zijn mogelijk, en we bieden ook een labelprintservice aan.
Vraag 6: Waarom zou u voor ons kiezen?
A61) Kostenbeheersing - het inkopen van hoogwaardige producten tegen een passende prijs.
2) Snelle reactie - binnen 48 uur ontvangt u van onze professionele medewerkers een offerte en worden uw vragen beantwoord.
3) Hoge kwaliteit - Het bedrijf bewijst altijd met oprechte intentie dat de producten die het levert 100% van hoge kwaliteit zijn.
4) Klantenservice en technische ondersteuning - Het bedrijf biedt klantenservice en technische ondersteuning op basis van de wensen en behoeften van de klant.
