မြင့်မားသော တိကျမှုရှိသော စတိုင်လပ်စ် မျက်နှာပြင် ပရိုဖိုင် | တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းများအတွက် နာနိုမီတာ အဆင့်တူရိယာ

ထုတ်ကုန်အားသာချက်များ-

တည်ငြိမ်သောစွမ်းဆောင်ရည်၊ မြန်ဆန်သောထုတ်လွှင့်မှု၊ အလိုအလျောက်ချိန်ညှိမှု၊ တိကျသောတိုင်းတာမှု၊ လျင်မြန်စွာတုံ့ပြန်မှုနှင့် အချိန်နှင့်တပြေးညီစောင့်ကြည့်ခြင်း။

တည်ငြိမ်သောစွမ်းဆောင်ရည်၊ ဒက်စ်တော့ဒီဇိုင်း။

တော်လှန်ပြောင်းလဲနေသော ဒက်စ်တော့ဒီဇိုင်းသည် မြင့်မားသောစွမ်းဆောင်ရည်၊ အသုံးပြုရလွယ်ကူမှုနှင့် ကုန်ကျစရိတ်သက်သာမှုတို့ကို ဟန်ချက်ညီအောင် ပေါင်းစပ်ထားသည်။

ကျစ်လစ်ပြီး ယုံကြည်စိတ်ချရသော ဒီဇိုင်း

အကောင်းဆုံးဖြစ်အောင် ပြုလုပ်ထားသော ဟာ့ဒ်ဝဲ ဖွဲ့စည်းမှု၊ ကျစ်လစ်သိပ်သည်းသောဖွဲ့စည်းပုံ၊ စမ်းသပ်မှု တိကျမှုနှင့် တည်ငြိမ်မှု ပိုမိုကောင်းမွန်လာခြင်း၊ နှင့် မြင့်မားသော စွမ်းဆောင်ရည်။

အထူးကောင်းမွန်သောပစ္စည်းများ၊ တာရှည်ခံပြီး ကြာရှည်ခံသည်။

အလွန်ကောင်းမွန်သောလက်ရာ၊ လက်ရာမြောက်မှု၊ မြင့်မားသောစွမ်းဆောင်ရည်နှင့် ရှည်လျားသောဝန်ဆောင်မှုသက်တမ်း။

ထုတ်ကုန်အချက်အလက်

ထုတ်ကုန်ခြုံငုံသုံးသပ်ချက်- Step instrument Probe Profilometer (Step Analyzer) သည် တော်လှန်သော benchtop ဒီဇိုင်းတစ်ခုပါရှိပြီး၊ လုပ်ငန်းဦးဆောင်နည်းပညာနှင့် ဒီဇိုင်းကို ပေါင်းစပ်ထားခြင်းကြောင့် မြင့်မားသောစွမ်းဆောင်ရည်၊ အသုံးပြုရလွယ်ကူမှုနှင့် ကုန်ကျစရိတ်သက်သာမှုတို့ကို ဟန်ချက်ညီစေပြီး R&D မှ အရည်အသွေးထိန်းချုပ်မှုအထိ လုပ်ငန်းစဉ်ထိန်းချုပ်မှု တိုးတက်ကောင်းမွန်လာပါသည်။

ဤကိရိယာသည် 4A (0.4nm) တွင် အလွန်ကောင်းမွန်သော ထပ်ခါတလဲလဲလုပ်ဆောင်နိုင်မှုနှင့် စကင်န်ဖတ်ခြင်းအမြန်နှုန်းတွင် 40% တိုးလာမှုကို ရရှိပြီး မိုက်ခရိုအီလက်ထရွန်းနစ်၊ တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းများ၊ ထိတွေ့မျက်နှာပြင်များ၊ နေရောင်ခြည်စွမ်းအင်၊ မြင့်မားသောတောက်ပမှု LED မီးများ၊ ဆေးဘက်ဆိုင်ရာနှင့် ပစ္စည်းသိပ္ပံကဲ့သို့သော စက်မှုလုပ်ငန်းများတွင် နာနိုစကေးမျက်နှာပြင် မြေမျက်နှာသွင်ပြင်တိုင်းတာခြင်းနည်းပညာကို ပံ့ပိုးပေးပါသည်။

ပစ္စည်းကိရိယာအင်္ဂါရပ်များ

ယှဉ်နိုင်စရာမရှိသော စွမ်းဆောင်ရည်၊ ၄A အောက် အဆင့်အမြင့် ပြန်လည်ထုတ်လုပ်နိုင်မှု

ဆန်းသစ်သောဒီဇိုင်း၊ ပြည့်စုံသောဆက်စပ်ပစ္စည်းများနှင့် အကောင်းဆုံးဖြစ်အောင်ပြုလုပ်ထားသော လည်ပတ်မှုနှင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုဆော့ဖ်ဝဲလ်သည် Step ကိရိယာအား မြှင့်တင်ထားသောစွမ်းဆောင်ရည်နှင့် သာလွန်ကောင်းမွန်သော step အမြင့်ပြန်လည်ထုတ်လုပ်နိုင်စွမ်းကို ရရှိစေပါသည်။

စကင်ဖတ်မှုတည်ငြိမ်မှုအတွက် တစ်ခုတည်းသော arch ဒီဇိုင်း

တစ်ခုတည်းသော arch ဒီဇိုင်းသည် Step တူရိယာကို ပိုမိုခိုင်မာစေပြီး ပတ်ဝန်းကျင်ဆူညံသံ၏ သက်ရောက်မှုကို အနည်းဆုံးဖြစ်စေသည်။ Step တူရိယာ၏ scanning probes များသည် ဒေါင်လိုက်အကွာအဝေးကြီးကြီးမားမားနှင့် အားနည်းသော scanning ကို တစ်ပြိုင်နက်တည်းဖြစ်စေသည်။

တိုင်းတာမှု တိကျမှုနှင့် တည်ငြိမ်မှု ပိုမိုကောင်းမွန်စေရန်အတွက် "Smart Electronics" ကို အဆင့်မြှင့်တင်ထားသည်

အဆင့်မြင့်ပရိုဆက်ဆာကို အသုံးပြုထားသော အဆင့်မြှင့်တင်ထားသော "Smart Electronics" ၏ အဆင့်မြှင့်တင်ထားသောကြောင့် ဆူညံသံအဆင့်များကို လျှော့ချပေးပြီး <10nm ခြေလှမ်းအမြင့်များကို တိုင်းတာနိုင်သော ပိုမိုအစွမ်းထက်သောစနစ်တစ်ခု ဖြစ်လာစေသည်။

အကောင်းဆုံးဖြစ်အောင်ပြုလုပ်ထားသော ဟာ့ဒ်ဝဲဖွဲ့စည်းပုံသည် ဒေတာရယူချိန်ကို ၄၀% လျှော့ချပေးသည်

ထူးခြားသော direct-drive scanning stage ကို အသုံးပြုခြင်းဖြင့် တိုင်းတာချိန်ကို ၄၀% မြန်ဆန်စေပြီး လုပ်ငန်းနယ်ပယ်တွင် ဦးဆောင်နေသော စွမ်းဆောင်ရည်ကို ထိန်းသိမ်းထားနိုင်ပါသည်။ Step instrument ၏ 64-bit parallel processing Vision64 သည် ကြီးမားသော 3D data ဖိုင်များကို အချိန်တိုအတွင်း ပြီးမြောက်အောင် လုပ်ဆောင်ပေးပါသည်။

64-bit Vision64 synchronous data processing software သည် data analysis အမြန်နှုန်းကို ဆယ်ဆတိုးစေသည်။

Vision64 သည် Step instrument ၏ 64-bit parallel processing operation နှင့် analysis software တစ်ခုဖြစ်ပြီး 3D topography data ကို ပိုမိုမြန်ဆန်စွာ load လုပ်နိုင်ပြီး filter များနှင့် multi-region database analysis များကို ပိုမိုမြန်ဆန်စွာ application လုပ်နိုင်ပါသည်။

ပိုမိုလွယ်ကူစွာအသုံးပြုနိုင်စေရန်အတွက် အလိုလိုသိနိုင်သော Vision64 အသုံးပြုသူမျက်နှာပြင်။

Vision64 ဆော့ဖ်ဝဲသည် လျင်မြန်ပြီး ပြည့်စုံသော အချက်အလက်စုဆောင်းမှုနှင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုအတွက် ဉာဏ်ရည်ထက်မြက်သော ဗိသုကာနှင့် စိတ်ကြိုက်ပြင်ဆင်နိုင်သော အလိုအလျောက်လုပ်ဆောင်ချက်များကို ပေါင်းစပ်ထားသည့် အလိုလိုသိနိုင်သောနှင့် ရိုးရှင်းသော အသုံးပြုသူမျက်နှာပြင်ကို ပေးစွမ်းသည်။ Step Instruments ၏ Vision64 သည် လုပ်ငန်းလည်ပတ်မှုနှင့် အချက်အလက်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုကို သိသိသာသာ ရိုးရှင်းစေပြီး အရှိန်မြှင့်ပေးသည်။

အလွယ်တကူ Probe ပြောင်းလဲရန်အတွက် အလိုအလျောက် အဖျားချိန်ညှိစနစ်

Step တူရိယာ၏ self-alignment probe assembly သည် အသုံးပြုသူများအား မတူညီသော probe များအကြား မြန်ဆန်လွယ်ကူစွာ ပြောင်းလဲနိုင်စေပြီး ပြောင်းလဲခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်အတွင်း ဖြစ်နိုင်ချေရှိသော အန္တရာယ်များကို ဖယ်ရှားပေးပါသည်။

Probe မော်ဒယ်အမျိုးမျိုး

Step instrument သည် အသုံးချမှုလိုအပ်ချက်တိုင်းနှင့် ကိုက်ညီစေရန် probe အရွယ်အစားနှင့် ပုံသဏ္ဍာန်အမျိုးမျိုးကို ပေးဆောင်ပါသည်။ Step instrument တွင် ပိုမိုမြန်ဆန်ပြီး ရိုးရှင်းသော probe changeover လုပ်ငန်းစဉ်ပါရှိသည်။

အာရုံခံကိရိယာတစ်ခုတည်း ဒီဇိုင်း

တစ်ခုတည်းသော မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် အားနည်းနည်းနှင့် ကျယ်ပြန့်သော စကင်န်အကွာအဝေးကို ပေးစွမ်းသည်။

မြင့်မားသော throughput စမ်းသပ်ခြင်းကို သေချာစေခြင်း

Step instrument သည် wafer မျက်နှာပြင်တစ်ခုလုံးရှိ ပါးလွှာသောဖလင်များ၏ တိကျသောအထူကို ထပ်ခါတလဲလဲလုပ်ဆောင်နိုင်စေရန် အလိုအလျောက် multi-sample တိုင်းတာမှုမုဒ်များကို မြန်ဆန်လွယ်ကူစွာ တပ်ဆင်နိုင်စေပြီး လုပ်ဆောင်နိုင်စေပါသည်။ ဤထိရောက်သော စောင့်ကြည့်ခြင်းသည် စမ်းသပ်မှု throughput ကို တိုးမြှင့်ပေးခြင်းဖြင့် အဖိုးတန်အချိန်နှင့်ငွေကို သက်သာစေပါသည်။

လျှောက်လွှာကိစ္စများ

အလွှာပါးစမ်းသပ်ခြင်း - မြင့်မားသောအထွက်နှုန်းကိုသေချာစေခြင်း

တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း ထုတ်လုပ်ရာတွင်၊ touchscreen panel များပေါ်တွင် deposition နှင့် etching ratio တစ်ပြေးညီဖြစ်မှု၊ thin film stress နှင့် ITO thin film thickness တိုင်းတာမှုများကို တင်းကျပ်စွာ စောင့်ကြည့်ခြင်းသည် အချိန်နှင့်ငွေကို များစွာ သက်သာစေပါသည်။ thin film တွင် တစ်ပြေးညီမဖြစ်ခြင်း သို့မဟုတ် အလွန်အကျွံ stress ဖြစ်ခြင်းသည် ထွက်နှုန်းနည်းပါးခြင်းနှင့် အပြီးသတ်ထုတ်ကုန်စွမ်းဆောင်ရည် ညံ့ဖျင်းခြင်းတို့ကို ဖြစ်စေနိုင်သည်။ Step instrument သည် wafer thin film များ၏ တိကျသောအထူကို နာနိုမီတာအဆင့်အထိ အတည်ပြုရန် အလိုအလျောက် multi-point testing program များကို လွယ်ကူမြန်ဆန်စွာ setup လုပ်နိုင်ပြီး လုပ်ဆောင်နိုင်စေပါသည်။ Step instrument ၏ ခိုင်မာသော ပြန်လည်ထုတ်လုပ်နိုင်စွမ်းသည် အင်ဂျင်နီယာများအား အကောင်းဆုံးရလဒ်များအတွက် etching နှင့် deposition ကို တိကျစွာချိန်ညှိနိုင်ရန် တိကျသော thin film thickness နှင့် stress testing ကို ပေးစွမ်းသည်။

မျက်နှာပြင်ကြမ်းတမ်းမှုစစ်ဆေးခြင်း - စွမ်းဆောင်ရည်ကိုသေချာစေခြင်း

Step ကိရိယာသည် မော်တော်ကား၊ အာကာသနှင့် ဆေးဘက်ဆိုင်ရာပစ္စည်းများ အပါအဝင် စက်မှုလုပ်ငန်းများစွာတွင် တိကျသော စက်အစိတ်အပိုင်းများ၏ ပုံမှန်မျက်နှာပြင်ကြမ်းတမ်းမှု အကဲဖြတ်ရန်အတွက် သင့်လျော်ပါသည်။ ဥပမာအားဖြင့်၊ အရိုးအကြောအစားထိုးပစ္စည်းများ၏ နောက်ကျောရှိ hydroxyapatite အပေါ်ယံလွှာ၏ ကြမ်းတမ်းမှုသည် အစားထိုးပြီးနောက် ကပ်ငြိမှုနှင့် ထိရောက်မှုကို ထိခိုက်စေနိုင်သည်။ Step ကိရိယာကို အသုံးပြု၍ မျက်နှာပြင်ကြမ်းတမ်းမှု လျင်မြန်စွာ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းသည် ပုံဆောင်ခဲထုတ်လုပ်မှုသည် မျှော်မှန်းချက်များနှင့် ကိုက်ညီမှုရှိမရှိနှင့် အစားထိုးပစ္စည်းများသည် ထုတ်ကုန်လိုအပ်ချက်များနှင့် ကိုက်ညီမှုရှိမရှိကို ဆုံးဖြတ်နိုင်သည်။ Vision64 ဒေတာဘေ့စ်၏ အောင်မြင်/မအောင်မြင် စံနှုန်းများကို အသုံးပြုခြင်းဖြင့် အရည်အသွေးစီမံခန့်ခွဲမှုဌာနများသည် အစားထိုးပစ္စည်းများကို ပြန်လည်ပြုပြင်ရန် လိုအပ်ခြင်း သို့မဟုတ် ၎င်းတို့၏ အရည်အသွေးကို သေချာစေခြင်း ရှိ၊ မရှိကို အလွယ်တကူ ဆုံးဖြတ်နိုင်ပါသည်။

ဆိုလာဓာတ်အားလိုင်း ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း - ထုတ်လုပ်မှုကုန်ကျစရိတ်များ လျှော့ချခြင်း

ဆိုလာဈေးကွက်တွင်၊ Step ကိရိယာသည် monocrystalline နှင့် polycrystalline silicon ဆိုလာပြားများပေါ်ရှိ လျှပ်ကူးငွေရောင်ဇယားကွက်လိုင်းများ၏ အရေးပါသော အတိုင်းအတာများကို တိုင်းတာရန်အတွက် အကောင်းဆုံးဖြစ်သည်။ ငွေရောင်လိုင်းများ၏ အမြင့်၊ အနံနှင့် စဉ်ဆက်မပြတ်မှုသည် ဆိုလာဆဲလ်၏ စွမ်းအင်လျှပ်ကူးမှုနှင့် နီးကပ်စွာ ဆက်စပ်နေသည်။ အကောင်းဆုံးကတော့၊ ထုတ်လုပ်မှုသည် ဈေးကြီးသော ငွေရောင်ကို မဖြုန်းတီးဘဲ ပိုမိုကောင်းမွန်သော လျှပ်ကူးနိုင်စွမ်းရရှိရန် ငွေရောင်ကို သင့်လျော်စွာ အသုံးပြုသင့်သည်။ Step ကိရိယာသည် ဆော့ဖ်ဝဲလ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုမှတစ်ဆင့် ၎င်းကို ရရှိစေပြီး လျှပ်ကူးနိုင်စွမ်းအတွက် လိုအပ်သော တိကျသော အစိတ်အပိုင်းများကို ဆုံးဖြတ်ရန် ငွေရောင်ဇယားကွက်လိုင်းများ၏ အရေးပါသော အတိုင်းအတာများကို အစီရင်ခံပါသည်။ Vision64 ၏ အချက်အလက်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုနည်းလမ်းများနှင့် အလိုအလျောက်လုပ်ဆောင်ချက်များသည် ဤအတည်ပြုခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်ကို အလိုအလျောက်လုပ်ဆောင်ရာတွင် အထောက်အကူပြုပါသည်။

မိုက်ခရိုအရည်ကြည်နည်းပညာ - ဒီဇိုင်းနှင့် စွမ်းဆောင်ရည်ကို ထောက်လှမ်းခြင်း

Step instrument သည် ဒေါင်လိုက်အကွာအဝေးကြီးတစ်ခု (၁ မီလီမီတာအထိ) တွင် angstrom-level reproducibility ဖြင့် photosensitive ပစ္စည်းများကို တိုင်းတာနိုင်သော probe profilometer တစ်ခုဖြစ်သည်။ MEMS နှင့် microfluidics နည်းပညာလုပ်ငန်းများရှိ သုတေသီများသည် အစိတ်အပိုင်းများသည် သတ်မှတ်ချက်များနှင့် ကိုက်ညီကြောင်း သေချာစေရန် အရည်အချင်းစစ်ဆေးမှုအတွက် Step instrument ကို အသုံးပြုနိုင်သည်။ low-force တိုင်းတာမှုလုပ်ဆောင်ချက် NLite+ သည် ဒေါင်လိုက်ခြေလှမ်းများနှင့် ကြမ်းတမ်းမှုကို တိုင်းတာရန် photosensitive ပစ္စည်းကို ပေါ့ပေါ့ပါးပါးထိသည်။