Profil Permukaan Stilus Ketepatan Tinggi | Instrumen Langkah Nanometer untuk Semikonduktor

Kelebihan Produk:

Prestasi stabil, penghantaran pantas, penentukuran automatik, pengukuran tepat, tindak balas pantas dan pemantauan masa nyata.

Prestasi stabil, reka bentuk desktop.

Reka bentuk desktop yang revolusioner ini mencapai keseimbangan prestasi tinggi, kemudahan penggunaan dan keberkesanan kos.

Reka bentuk yang padat dan boleh dipercayai

Konfigurasi perkakasan yang dioptimumkan, struktur padat, ketepatan dan kestabilan ujian yang lebih baik, serta kecekapan yang tinggi.

Bahan unggul, tahan lama dan tahan lama.

Mutu kerja yang sangat baik, ketukangan yang teliti, kecekapan tinggi dan jangka hayat yang panjang.

Maklumat Produk

Gambaran Keseluruhan Produk: Profilometer Probe Instrumen Langkah (Penganalisis Langkah) menampilkan reka bentuk atas meja yang revolusioner, menggabungkan teknologi dan reka bentuk yang terkemuka dalam industri untuk mencapai keseimbangan prestasi tinggi, kemudahan penggunaan dan keberkesanan kos, dengan kawalan proses yang dipertingkatkan daripada R&D hingga kawalan kualiti.

Peranti ini mencapai kebolehulangan yang sangat baik pada 4A (0.4nm) dan peningkatan kelajuan pengimbasan sebanyak 40%, menyokong teknologi pengukuran topografi permukaan skala nano dalam industri seperti mikroelektronik, semikonduktor, skrin sentuh, tenaga suria, LED kecerahan tinggi, perubatan dan sains bahan.

Ciri-ciri Peralatan

Prestasi Tiada Tandingan, Kebolehulangan Ketinggian Langkah Di Bawah 4A

Reka bentuk inovatif, aksesori komprehensif dan perisian pengendalian dan analisis yang dioptimumkan membolehkan instrumen Langkah mencapai prestasi yang dipertingkatkan dan kebolehulangan ketinggian langkah yang unggul.

Reka Bentuk Lengkungan Tunggal untuk Kestabilan Imbasan Terobosan

Reka bentuk lengkungan tunggal menjadikan instrumen Langkah lebih teguh, meminimumkan kesan hingar ambien. Prob pengimbasan instrumen Langkah membolehkan julat menegak yang besar dan pengimbasan daya rendah secara serentak.

"Elektronik Pintar" yang Dinaik Taraf untuk Ketepatan dan Kestabilan Pengukuran yang Dipertingkatkan

"Elektronik Pintar" yang dinaik taraf pada instrumen langkah, menggunakan pemproses termaju, mengurangkan tahap hingar, menjadikannya sistem yang lebih berkuasa yang mampu mengukur ketinggian langkah <10nm.

Konfigurasi Perkakasan yang Dioptimumkan Mengurangkan Masa Pemerolehan Data sebanyak 40%

Dengan menggunakan peringkat pengimbasan pemacu langsung yang unik, masa pengukuran dipercepatkan sebanyak 40% sambil mengekalkan prestasi yang terkemuka dalam industri. Pemprosesan selari 64-bit instrumen langkah Vision64 melengkapkan dan memproses fail data 3D yang besar dalam masa yang lebih singkat.

Perisian pemprosesan data segerak Vision64 64-bit meningkatkan kelajuan analisis data sepuluh kali ganda.

Vision64 ialah perisian operasi dan analisis pemprosesan selari 64-bit Step instrument, yang membolehkan pemuatan data topografi 3D yang lebih pantas dan aplikasi penapis serta analisis pangkalan data berbilang rantau yang lebih pantas.

Antara muka pengguna Vision64 yang intuitif untuk penggunaan yang lebih mudah.

Perisian Vision64 menyediakan antara muka pengguna yang intuitif dan ringkas, menggabungkan seni bina pintar dan fungsi automasi yang boleh disesuaikan untuk pengumpulan dan analisis data yang pantas dan komprehensif. Vision64 Step Instruments memudahkan dan mempercepatkan operasi dan analisis data dengan ketara.

Sistem Penjajaran Hujung Automatik untuk Perubahan Probe Mudah

Perhimpunan prob penjajaran kendiri instrumen langkah membolehkan pengguna bertukar antara prob yang berbeza dengan cepat dan mudah, sekali gus menghapuskan potensi risiko semasa proses pertukaran.

Pelbagai Model Probe

Instrumen langkah menawarkan pelbagai saiz dan bentuk prob untuk memenuhi hampir setiap keperluan aplikasi. Instrumen langkah menampilkan proses pertukaran prob yang lebih pantas dan mudah.

Reka Bentuk Sensor Tunggal

Memberikan daya yang rendah dan julat imbasan yang luas pada satah tunggal.

Memastikan Pengujian Daya Tahan Tinggi

Instrumen langkah membolehkan persediaan dan pelaksanaan mod pengukuran berbilang sampel automatik yang cepat dan mudah untuk mengesahkan ketebalan filem nipis yang tepat merentasi seluruh permukaan wafer dengan kebolehulangan yang unggul. Pemantauan yang berkesan ini menjimatkan masa dan wang yang berharga dengan meningkatkan daya pemprosesan ujian.

Kes Permohonan

Pengujian Filem Nipis - Memastikan Hasil Tinggi

Dalam pembuatan semikonduktor, pemantauan ketat terhadap keseragaman nisbah pemendapan dan pengukiran, tegasan filem nipis dan pengukuran ketebalan filem nipis ITO pada panel skrin sentuh dapat menjimatkan masa dan wang yang ketara. Ketidakhomogenan atau tegasan berlebihan dalam filem nipis boleh menyebabkan hasil yang rendah dan prestasi produk siap yang lemah. Instrumen langkah membolehkan persediaan dan pelaksanaan program ujian berbilang titik automatik yang mudah dan cepat untuk mengesahkan ketebalan filem nipis wafer yang tepat sehingga ke tahap nanometer. Kebolehulangan instrumen langkah yang kuat menyediakan jurutera dengan ketebalan filem nipis dan ujian tegasan yang tepat untuk melaraskan pengukiran dan pemendapan dengan tepat untuk hasil yang optimum.

Pemeriksaan Kekasaran Permukaan - Memastikan Prestasi

Instrumen langkah sesuai untuk penilaian kekasaran permukaan rutin bahagian mesin jitu dalam banyak industri, termasuk automotif, aeroangkasa dan peranti perubatan. Contohnya, kekasaran salutan hidroksiapatit di bahagian belakang implan ortopedik boleh menjejaskan lekatan dan keberkesanan pasca implan. Analisis kekasaran permukaan yang pantas menggunakan instrumen Langkah boleh menentukan sama ada pengeluaran kristal memenuhi jangkaan dan sama ada implan memenuhi keperluan produk. Dengan menggunakan kriteria lulus/gagal pangkalan data Vision64, jabatan pengurusan kualiti boleh menentukan dengan mudah sama ada implan perlu diolah semula atau kualitinya dijamin.

Analisis Talian Grid Suria - Mengurangkan Kos Pembuatan

Dalam pasaran solar, instrumen Step sesuai untuk mengukur dimensi kritikal talian grid perak konduktif pada panel solar silikon monokristalin dan polikristalin. Ketinggian, lebar dan kesinambungan talian perak berkait rapat dengan pengaliran tenaga sel solar. Sebaik-baiknya, pengeluaran harus menggunakan perak dengan sewajarnya untuk mencapai kekonduksian yang lebih baik tanpa membazirkan perak yang mahal. Instrumen Step mencapai matlamat ini melalui analisis perisian, melaporkan dimensi kritikal talian grid perak untuk menentukan komponen tepat yang diperlukan untuk kekonduksian. Kaedah analisis data dan ciri automasi Vision64 menyumbang kepada pengautomasikan proses pengesahan ini.

Teknologi Mikrofluidik - Mengesan Reka Bentuk dan Prestasi

Instrumen langkah ialah profilometer prob yang mampu mengukur bahan fotosensitif dengan kebolehulangan tahap angstrom pada julat menegak yang besar (sehingga 1 mm). Penyelidik dalam industri teknologi MEMS dan mikrofluidik boleh menggunakan instrumen Langkah untuk ujian kelayakan bagi memastikan bahagian memenuhi spesifikasi. Fungsi pengukuran daya rendah NLite+ menyentuh bahan fotosensitif dengan ringan untuk mengukur langkah dan kekasaran menegak.