Héichpräzis Stylus-Uewerflächenprofiler | Nanometer-Schrëttinstrument fir Hallefleiter
Bestellungsinstruktiounen
Wéinst der spezieller Natur vum Produkt ass de Präis op der Säit en Anzahlungspräis, net de tatsächleche Präis. Kontaktéiert w.e.g. de Clientsservice fir eng Offer.
Bestellunge ginn direkt ouni virdrun Kontakt gemaach, awer kënnen net verschéckt ginn! Merci fir Är Kooperatioun! Fir méi Produktinformatiounen, kontaktéiert w.e.g. de Clientsservice fir Produktbroschüren ze kréien.
Héichpräzis Stylus Surface Profiler – Nanometer Schrëtthéicht & Uewerflächenrauheetsmessung
Dëse Kontakt-Typ Stylus-Uewerflächenprofiler ass e Präzisiounsmetrologieinstrument, dat fir héichopléisend Miessung vu Stufenhéicht, Uewerflächenrauheet an 3D-Topographie entwéckelt gouf. Mat engem Diamant-Stylus, deen d'Proufuewerfläch sanft scannt, verfollegt de System mikroskopesch Spëtzten an Däller präzis, fir zouverlässeg, widderhuelbar Donnéeën fir Qualitéitskontroll, Fuerschung an Entwécklung a Produktiounsëmfeld ze liwweren.
Wéi et funktionéiert
De Prinzip vun der Miessung baséiert op enger Kontaktmethod mat engem Stift. Wann de Stift iwwer d'Uewerfläch beweegt, follegt seng vertikal Verrécklung dem Uewerflächenprofil. Dës Bewegung gëtt iwwer eng Miessbréck an en elektrescht Signal ëmgewandelt, wouduerch eng amplitudenmoduléiert Ausgab produzéiert gëtt, déi proportional zu der Verrécklung ass. No der Verstäerkung, phasensensitiver Gläichrichtung an fortgeschrattem Filteren (inklusiv Rausch- a Wellenfilter) gëtt de System e proppert, stabilt Signal aus - fräi vun externen Interferenzen a Welleneffekter - wat eng héichgenau Rauheets- a Schrëtthéichtanalyse garantéiert.
Schlësselapplikatiounen
Metrologie vu Hallefleiterwaferen
MEMS a Mikrostrukturen
Dënn Schicht a Beschichtungsdicke
Profiléierung vun der Uewerfläch vun der Solarzellen
Präzisiounsoptik a medizinesch Geräter
Produktvirdeeler:
Stabil Leeschtung, séier Transmissioun, automatesch Kalibrierung, präzis Miessung, séier Äntwert an Echtzäit-Iwwerwaachung.
Stabil Leeschtung, Desktop-Design.
Den revolutionären Desktop-Design erreecht eng Gläichgewiicht tëscht héijer Leeschtung, Benotzerfrëndlechkeet a Käschteeffizienz.
Kompakt an zouverléissegt Design
Optimiséiert Hardwarekonfiguratioun, kompakt Struktur, verbessert Testgenauegkeet a Stabilitéit, an héich Effizienz.
Iwwerleeën Materialien, haltbar a laang dauerhaft.
Exquisite Veraarbechtung, Handwierkskonscht, héich Effizienz a laang Liewensdauer.
Produktinformatiounen
Produktiwwersiicht: De Step Instrument Probe Profilometer (Step Analyzer) huet en revolutionären Benchtop-Design, deen industriegeféiert Technologie an Design kombinéiert fir e Gläichgewiicht tëscht héijer Leeschtung, Benotzerfrëndlechkeet a Käschteeffizienz z'erreechen, mat enger verbesserter Prozesskontroll vun der Fuerschung an Entwécklung bis zur Qualitéitskontroll.
Den Apparat erreecht eng exzellent Widderhuelbarkeet bei 4A (0,4nm) an eng Erhéijung vun der Scangeschwindegkeet ëm 40%, wat d'Miesstechnologie vun der Uewerflächentopographie op Nanoskala an Industrien ewéi Mikroelektronik, Halbleiter, Touchscreens, Solarenergie, hell LEDs, Medizin a Materialwëssenschaft ënnerstëtzt.
Ausrüstungsfeatures
Onvergleichlech Leeschtung, Reproduzéierbarkeet vun der Schrëtthéicht ënner 4A
Innovativt Design, ëmfangräich Accessoiren an optiméiert Betribs- an Analysesoftware erméiglechen et dem Step-Instrument eng verbessert Leeschtung an eng iwwerleeën Reproduzéierbarkeet vun der Schrëtthéicht z'erreechen.
Eenzelbogendesign fir duerchbriechend Scanstabilitéit
Den Eenzelbou-Design mécht de Step-Instrument méi robust a miniméiert den Impakt vum Ëmgéigendgeräisch. D'Scannesonden vum Step-Instrument erméiglechen e gläichzäitege grousse vertikale Beräich a Scannen mat gerénger Kraaft.
Verbessert "Smart Electronics" fir verbessert Miessgenauegkeet a Stabilitéit
Déi verbessert "Smart Electronics" vum Schrëttinstrument, déi en fortgeschrattene Prozessor benotzt, reduzéiert d'Kaméidipegel a mécht et zu engem méi staarke System, deen Schrëtthéicht vu manner wéi 10 nm moosse kann.
Optiméiert Hardwarekonfiguratioun reduzéiert d'Datenerfassungszäit ëm 40%
Mat Hëllef vun enger eenzegaarteger Direktantriebsscanner gëtt d'Miesszäit ëm 40% beschleunegt, wärend déi brancheféierend Leeschtung bäibehale gëtt. Déi 64-Bit parallel Veraarbechtung vum Step Instrument, Vision64, fäerdeg a veraarbecht grouss 3D-Datendateien a manner Zäit.
Déi 64-Bit Vision64 synchron Datenveraarbechtungssoftware erhéicht d'Geschwindegkeet vun der Datenanalyse ëm dat zéngfacht.
Vision64 ass d'64-Bit parallel Veraarbechtungs- a Analysesoftware vum Step Instrument, déi e méi séiert Luede vun 3D-Topographiedaten an eng méi séier Uwendung vu Filteren an eng Datebankanalyse iwwer verschidde Regiounen erméiglecht.
Intuitiv Vision64 Benotzerinterface fir méi einfach Benotzung.
D'Vision64 Software bitt eng intuitiv a vereinfacht Benotzeruewerfläch, déi intelligent Architektur a personaliséierbar Automatiséierungsfunktiounen fir eng séier an ëmfaassend Datenerfassung an -analyse kombinéiert. D'Vision64 vu Step Instruments vereinfacht a beschleunegt de Betrib an d'Datenanalyse däitlech.
Automatescht Spëtzenausriichtungssystem fir einfach Sondenwiessel
Déi selbstausrichtend Sondenanordnung vum Step-Instrument erlaabt et de Benotzer séier an einfach tëscht verschiddene Sonden ze wiesselen, wouduerch potenziell Risiken beim Wiesselprozess eliminéiert ginn.
Breet Palette vu Sondemodeller
Step Instrument bitt eng breet Palette vu Sondengréissten a Formen, fir bal all Uwendungsbedürfnisser gerecht ze ginn. Step Instrument bitt e méi schnelle a méi einfache Sondenwiesselprozess.
Eenzel Sensordesign
Bitt eng geréng Kraaft an e breede Scanberäich op enger eenzeger Fläch.
Sécherstellen vun engem héijen Duerchgangstest
Den Step-Instrument erméiglecht eng séier an einfach Astellung an Ausféierung vun automatiséierte Multi-Prouf-Miessmodi fir déi präzis Déckt vun dënne Schichten iwwer déi ganz Waferuewerfläch mat iwwerleeëner Widderhuelbarkeet ze verifizéieren. Dës effektiv Iwwerwaachung spuert wäertvoll Zäit a Suen andeems den Testduerchgank erhéicht gëtt.
Uwendungsfäll
Dënnfilmtester - Héich Ausbezuelungen garantéieren
An der Hallefleederproduktioun kann eng rigoréis Iwwerwaachung vun der Uniformitéit vum Oflagerungs- an Ätzverhältnis, der Dënnschichtspannung an der ITO-Dënnschichtdickemiessung op Touchscreen-Panels bedeitend Zäit a Sue spueren. Inhomogenitéit oder exzessiv Spannung am Dënnschicht kann zu niddrege Rendementer a schlechter Leeschtung vum fäerdege Produkt féieren. E Schrëtt-Instrument erméiglecht eng einfach an séier Opstellung an Ausféierung vun automatiséierte Multipunkt-Testprogrammer, fir déi präzis Déckt vu Wafer-dënne Schichten bis op den Nanometerniveau ze verifizéieren. Déi staark Reproduzéierbarkeet vum Schrëtt-Instrument bitt Ingenieuren präzis Dënnschichtdicke- a Stresstester, fir d'Ätzen an d'Oflagerung präzis unzepassen fir optimal Resultater.
Inspektioun vun der Uewerflächenrauheet - Leeschtung garantéieren
D'Step-Instrument ass gëeegent fir d'routineméisseg Bewäertung vun der Uewerflächenrauheet vu Präzisiounsmaschinndeeler a ville Branchen, dorënner Automobilindustrie, Loftfaart a medizinesch Geräter. Zum Beispill kann d'Rauheet vun der Hydroxyapatitbeschichtung op der Récksäit vun orthopädeschen Implantater d'Adhäsioun an d'Effizienz no der Implantatioun beaflossen. Eng séier Analyse vun der Uewerflächenrauheet mam Step-Instrument kann feststellen, ob d'Kristallproduktioun d'Erwaardungen entsprécht an ob d'Implantater d'Produktufuerderunge erfëllen. Mat Hëllef vun de Pass/Fail-Kriterien vun der Vision64-Datebank kënnen d'Qualitéitsmanagementofdeelungen einfach feststellen, ob Implantater nei veraarbecht musse ginn oder ob hir Qualitéit garantéiert musse ginn.
Analyse vun der Solarnetzlinn - Reduktioun vun de Produktiounskäschten
Um Solarmaart ass den Step-Instrument ideal fir d'Miessung vun de kriteschen Dimensioune vu leitfäege Sëlwerrasterlinnen op monokristalline a polykristalline Silizium-Solarpanneauen. D'Héicht, d'Breet an d'Kontinuitéit vun de Sëlwerlinne si enk mat der Energieleitung vun der Solarzell verbonnen. Am Idealfall soll d'Produktioun Sëlwer entspriechend benotzen, fir eng besser Leetfäegkeet z'erreechen, ouni deier Sëlwer ze verschwenden. Den Step-Instrument erreecht dëst duerch Softwareanalyse, andeems en déi kritesch Dimensioune vun de Sëlwerrasterlinne mellt, fir déi präzis Komponenten ze bestëmmen, déi fir d'Leetfäegkeet erfuerderlech sinn. D'Datenanalysemethoden an d'Automatiséierungsfeatures vu Vision64 droen zur Automatiséierung vun dësem Verifizéierungsprozess bäi.
Mikrofluidiktechnologie - Detektioun vum Design a vun der Leeschtung
D'Step-Instrument ass e Sondeprofilometer, deen fäeg ass, photosensitiv Materialien mat enger Reproduzéierbarkeet op Ångströmniveau iwwer e grousse vertikale Beräich (bis zu 1 mm) ze moossen. Fuerscher an der MEMS- an der Mikrofluidiktechnologieindustrie kënnen d'Step-Instrument fir Qualifikatiounstester benotzen, fir sécherzestellen, datt d'Deeler d'Spezifikatioune entspriechen. Déi niddreg-Kraaft-Miessfunktioun NLite+ beréiert dat photosensitivt Material liicht, fir vertikal Schrëtt a Rauheet ze moossen.
Technesch Parameteren
| Miesstechnologie | Technologie fir d'Profiléierung vu Sonden |
| Miessfunktioun | 2D Uewerflächenprofilmiessung |
| Optional 3D-Miessung/ | |
| Beispill Vue | Auswielbar Vergréisserung, 1 bis 4mm FOV |
| Sond Sensor | Sensor fir niddreg Trägheet (LIS3) |
| Sondendrock | Mat Hëllef vum LIS3-Sensor: 1 bis 15 mg |
| Niddreg Kraaft (Optional) | Mat Hëllef vum N-Lite+ Low-Force Sensor: 0,03 bis 15 mg |
| Sondenoptiounen | Auswielbare Beräich vum Krümmungsradius vun der Sonde: 50 nm bis 25 μm; |
| Héicht-Duerchmiesser-Verhältnis (HAR) Spëtzen: 10μm*2μm an 200μm*20μm; | |
| Benotzerdefinéiert Tipps sinn op Ufro verfügbar. | |
| Beispill X/Y Etapp | Manuell XY-Translatioun: 100 mm (4 Zoll) |
| Motoriséiert XY-Translatioun: 150 mm (6 Zoll) | |
| Beispill Rotatiounsbühn | Manuell, 360° Rotatioun; |
| Motoriséiert: 360° Rotatioun; | |
| Computersystem | 64-Bit Multi-Core-Lineprozessor, Windows* 7.0; Optional 23-Zoll-Flaachbildschierm |
| Software | Vision64 Operatiouns- an Analysesoftware; |
| Spannungsmesssoftware: Kantilever-Auslenkung; | |
| Nähsoftware: 3D-Scan-Bildgebungssoftware | |
| Vibratiounsdämpfungsapparat | Stossdämpfung verfügbar |
| Scanlängtberäich | 55mm (2 Zoll) |
| Datenpunkten pro Scan | Bis zu 120.000 Datenpunkten |
| Maximal Proufdicke | 50mm (2 Zoll) |
| Maximal Wafergréisst | 200mm (8 Zoll) |
| Reproduzéierbarkeet vun der Schrëtthéicht | <4A1σ op engem Schrëtt vun 1μm |
| Vertikal Beräich | 1 mm (0,039 Zoll) |
| Vertikal Opléisung | Maximal 1A (bei enger vertikaler Reechwäit vu 6,55 μm) |
| Inputspannung | 100 - 240 V AC, 50 - 60 Hz |
| Temperaturberäich | Betribsberäich 20 bis 25°C (68 bis 77°F) |
| Fiichtegkeetsberäich | ≤80%, Net-kondenséierend |
| Systemgréisst a Gewiicht | 455 mm B x 550 mm D x 370 mm H |
| (179 Zoll B x 22,6 Zoll D x 14,5 Zoll H); | |
| 34 kg (75 lbs); | |
| Uschloss: 550 mm L x 585 mm B x 445 mm H (216 Zoll L x 23 Zoll B x 175 Zoll H); | |
| 217 kg (48 lbs) |
Iwwer eis
Fabrécksprofil
Firwat eis wielen
FAQ
Q1: Wien si mir?
A1: Gegrënnt am Joer 2015, ass MSK (Tianjin) Cutting Technology CO.Ltd kontinuéierlech gewuess an huet den Rheinland ISO 9001 Zertifikat passéiert.
Authentifikatioun. Mat däitschen SACCKE High-End Fënnef-Achs Schleifzentren, däitschen ZOLLER Sechs-Achs Werkzeuginspektiounszentrum, Taiwan PALMARY Maschinn an aner international fortgeschratt Produktiounsausrüstung, engagéiere mir eis fir d'Produktioun vun héichwäertegen, professionellen an effizienten CNC-Tools.
Q2: Sidd Dir eng Handelsgesellschaft oder e Produzent?
A2: Mir sinn d'Fabréck vun Hartmetall-Tools.
Q3: Kënnt Dir Produkter un eise Spediteur a China schécken?
A3: Jo, wann Dir e Spediteur a China hutt, schécke mir Iech gären Produkter.
Q4: Wéi eng Bezuelungsbedingungen sinn akzeptabel?
A4: Normalerweis akzeptéiere mir T/T.
Q5: Akzeptéiert Dir OEM-Bestellungen?
A5: Jo, OEM a Personnalisatioun si verfügbar, a mir bidden och Etikettendruckservice.
Q6: Firwat sollt Dir eis wielen?
A6:1) Käschtekontroll - Akaf vu qualitativ héichwäertege Produkter zu engem passenden Präis.
2) Schnell Äntwert - bannent 48 Stonnen gëtt Iech professionellt Personal en Devis a beäntwert Är Froen.
3) Héich Qualitéit - D'Firma beweist ëmmer mat oprechter Absicht, datt d'Produkter, déi si liwwert, zu 100% vun héijer Qualitéit sinn.
4) Service nom Verkaf a technesch Berodung - D'Firma bitt Service nom Verkaf a technesch Berodung no de Ufuerderungen a Bedierfnesser vum Client.
