Profilometro di superficie a stilo ad alta precisione | Strumento a passi nanometrici per semiconduttori

Profilometro professionale a stilo per la misurazione di altezze di gradino nanometriche, rugosità e topografia 3D. Misurazione a contatto ideale per wafer di semiconduttori, film sottili, MEMS e ottica di precisione. Vendita diretta dalla fabbrica con spedizione in tutto il mondo.


  • Tecnologia di misurazione:Tecnologia di profilatura della sonda
  • Marca:MSK
  • Tensione di ingresso:100 - 240 V CA, 50 - 60 Hz
  • Dettagli del prodotto

    Etichette prodotto

    punte per frese per utensili rotanti

    Istruzioni per l'ordine

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    Profilometro a stilo ad alta precisione: misurazione dell'altezza del gradino e della rugosità superficiale in nanometri.

    Questo profilometro a contatto con stilo è uno strumento di metrologia di precisione progettato per la misurazione ad alta risoluzione di altezza dei gradini, rugosità superficiale e topografia 3D. Utilizzando uno stilo diamantato che scansiona delicatamente la superficie del campione, il sistema traccia con precisione picchi e avvallamenti microscopici per fornire dati affidabili e ripetibili per il controllo qualità, la ricerca e sviluppo e gli ambienti di produzione.

    Come funziona

    Il principio di misurazione si basa su un metodo di contatto con stilo. Quando lo stilo si muove sulla superficie, il suo spostamento verticale ne segue il profilo. Questo movimento viene convertito in un segnale elettrico tramite un ponte di misura, producendo un'uscita modulata in ampiezza proporzionale allo spostamento. Dopo amplificazione, rettificazione sensibile alla fase e filtraggio avanzato (inclusi filtri per rumore e ondulazioni), il sistema emette un segnale pulito e stabile, privo di interferenze esterne ed effetti di ondulazione, garantendo un'analisi di rugosità e altezza dei gradini ad alta precisione.

    Applicazioni chiave

    metrologia dei wafer di semiconduttori

    MEMS e microstrutture

    Spessore del film sottile e del rivestimento

    Profilatura della superficie delle celle solari

    Ottica di precisione e dispositivi medici

    strumento a gradini

    Vantaggi del prodotto:

    Prestazioni stabili, trasmissione veloce, calibrazione automatica, misurazione accurata, risposta rapida e monitoraggio in tempo reale.

    Prestazioni stabili, design da scrivania.

    Il design rivoluzionario del computer desktop raggiunge un equilibrio tra prestazioni elevate, facilità d'uso e convenienza.

    Design compatto e affidabile

    Configurazione hardware ottimizzata, struttura compatta, maggiore precisione e stabilità nei test ed elevata efficienza.

    Materiali di qualità superiore, resistenti e durevoli.

    Lavorazione squisita, maestria artigianale, elevata efficienza e lunga durata.

    Informazioni sul prodotto

    Panoramica del prodotto: Il profilometro a sonda Step Instrument (analizzatore Step) presenta un design da banco rivoluzionario, che combina tecnologia e design all'avanguardia del settore per raggiungere un equilibrio tra elevate prestazioni, facilità d'uso ed economicità, con un controllo di processo migliorato, dalla ricerca e sviluppo al controllo qualità.

    Il dispositivo raggiunge un'eccellente ripetibilità a 4A (0,4 nm) e un aumento del 40% nella velocità di scansione, supportando la tecnologia di misurazione della topografia superficiale su scala nanometrica in settori quali la microelettronica, i semiconduttori, i touchscreen, l'energia solare, i LED ad alta luminosità, il settore medico e la scienza dei materiali.

    Caratteristiche dell'apparecchiatura

    Prestazioni ineguagliabili, riproducibilità dell'altezza del gradino inferiore a 4A

    Design innovativo, accessori completi e software di gestione e analisi ottimizzato consentono allo strumento Step di raggiungere prestazioni superiori e una riproducibilità ottimale dell'altezza del gradino.

    Design ad arco singolo per una stabilità di scansione rivoluzionaria

    Il design ad arco singolo rende lo strumento Step più robusto, riducendo al minimo l'impatto del rumore ambientale. Le sonde di scansione dello strumento Step consentono una scansione simultanea ad ampio raggio verticale e con forza minima.

    Elettronica intelligente aggiornata per una maggiore precisione e stabilità delle misurazioni.

    La tecnologia "Smart Electronics" aggiornata dello strumento Step, che impiega un processore avanzato, riduce i livelli di rumore, rendendolo un sistema più potente in grado di misurare altezze di gradino inferiori a 10 nm.

    La configurazione hardware ottimizzata riduce del 40% i tempi di acquisizione dei dati.

    Grazie a un esclusivo stadio di scansione a trasmissione diretta, i tempi di misurazione vengono ridotti del 40%, mantenendo al contempo prestazioni leader del settore. Il sistema di elaborazione parallela a 64 bit Vision64 di Step Instruments elabora file di dati 3D di grandi dimensioni in tempi ridotti.

    Il software di elaborazione dati sincrona Vision64 a 64 bit decuplica la velocità di analisi dei dati.

    Vision64 è il software di Step Instruments per l'elaborazione parallela a 64 bit e l'analisi dei dati, che consente un caricamento più rapido dei dati topografici 3D e un'applicazione più veloce dei filtri e dell'analisi di database multi-regione.

    Interfaccia utente intuitiva Vision64 per un utilizzo più semplice.

    Il software Vision64 offre un'interfaccia utente intuitiva e semplificata, combinando un'architettura intelligente e funzioni di automazione personalizzabili per una raccolta e un'analisi dei dati rapide e complete. Vision64 di Step Instruments semplifica e velocizza notevolmente le operazioni e l'analisi dei dati.

    Sistema di allineamento automatico della punta per una facile sostituzione della sonda

    Il sistema di sonde autoallineanti dello strumento Step consente agli utenti di cambiare sonda in modo rapido e semplice, eliminando potenziali rischi durante il processo di cambio.

    Ampia gamma di modelli di sonde

    Step Instrument offre una vasta gamma di sonde di diverse dimensioni e forme per soddisfare praticamente ogni esigenza applicativa. Step Instrument si distingue per un processo di cambio sonda più rapido e semplice.

    Progettazione a sensore singolo

    Offre una forza ridotta e un ampio campo di scansione su un singolo piano.

    Garantire test ad alta produttività

    Lo strumento Step consente una configurazione e un'esecuzione rapide e semplici di modalità di misurazione automatizzate multi-campione per verificare lo spessore preciso di film sottili sull'intera superficie del wafer con una ripetibilità superiore. Questo monitoraggio efficace consente di risparmiare tempo e denaro preziosi, aumentando la produttività dei test.

    Casi applicativi

    Test dei film sottili: garantire rese elevate

    Nella produzione di semiconduttori, il monitoraggio rigoroso dell'uniformità del rapporto di deposizione e incisione, dello stress del film sottile e della misurazione dello spessore del film sottile di ITO sui pannelli touchscreen può far risparmiare tempo e denaro in modo significativo. L'eterogeneità o uno stress eccessivo nel film sottile possono portare a basse rese e a scarse prestazioni del prodotto finito. Step Instrument consente una configurazione e un'esecuzione facili e veloci di programmi di test multipunto automatizzati per verificare lo spessore preciso dei film sottili sui wafer fino al livello nanometrico. L'elevata riproducibilità di Step Instrument fornisce agli ingegneri test accurati sullo spessore e sullo stress del film sottile per regolare con precisione l'incisione e la deposizione per risultati ottimali.

    Ispezione della rugosità superficiale: garanzia di prestazioni ottimali.

    Lo strumento Step è adatto per la valutazione di routine della rugosità superficiale di componenti meccanici di precisione in molti settori, tra cui quello automobilistico, aerospaziale e dei dispositivi medici. Ad esempio, la rugosità del rivestimento di idrossiapatite sul retro degli impianti ortopedici può influire sull'adesione e sull'efficacia post-impianto. L'analisi rapida della rugosità superficiale con lo strumento Step consente di determinare se la produzione di cristalli soddisfa le aspettative e se gli impianti sono conformi ai requisiti del prodotto. Utilizzando i criteri di superamento/fallimento del database Vision64, i reparti di controllo qualità possono facilmente stabilire se gli impianti necessitano di essere rilavorati o se la loro qualità deve essere garantita.

    Analisi della linea di alimentazione solare - Riduzione dei costi di produzione

    Nel mercato del solare, Step Instrument è ideale per misurare le dimensioni critiche delle linee conduttive della griglia d'argento sui pannelli solari in silicio monocristallino e policristallino. L'altezza, la larghezza e la continuità delle linee d'argento sono strettamente correlate alla conduzione energetica della cella solare. Idealmente, la produzione dovrebbe utilizzare l'argento in modo appropriato per ottenere una migliore conduttività senza sprecare questo costoso materiale. Step Instrument raggiunge questo obiettivo attraverso un'analisi software, segnalando le dimensioni critiche delle linee della griglia d'argento per determinare i componenti precisi necessari per la conduttività. I ​​metodi di analisi dei dati e le funzionalità di automazione di Vision64 contribuiscono ad automatizzare questo processo di verifica.

    Tecnologia microfluidica: progettazione e prestazioni di rilevamento

    Step Instrument è un profilometro a sonda in grado di misurare materiali fotosensibili con una riproducibilità a livello di angstrom su un ampio intervallo verticale (fino a 1 mm). I ricercatori nei settori delle tecnologie MEMS e microfluidica possono utilizzare Step Instrument per i test di qualificazione, al fine di garantire che i componenti soddisfino le specifiche. La funzione di misurazione a bassa forza NLite+ tocca leggermente il materiale fotosensibile per misurare dislivelli verticali e rugosità.

    Profilometro di superficie

    Parametri tecnici

    Tecnologia di misurazione Tecnologia di profilatura della sonda
    Funzione di misurazione Misurazione del profilo superficiale 2D
    Misurazione 3D opzionale/
    Visualizzazione di esempio Ingrandimento selezionabile, campo visivo da 1 a 4 mm
    Sensore a sonda Sensore a bassa inerzia (LIS3)
    Pressione della sonda Utilizzo del sensore LIS3: da 1 a 15 mg
    Bassa forza (opzionale) Utilizzo del sensore a bassa forza N-Lite+: da 0,03 a 15 mg
    Opzioni di sonda Intervallo di selezione del raggio di curvatura della sonda: da 50 nm a 25 μm;
    Punte con rapporto altezza-diametro (HAR): 10μm*2μm e 200μm*20μm;
    Su richiesta sono disponibili mance personalizzate.
    Fase di campionamento X/Y Traslazione manuale XY: 100 mm (4 pollici)
    Traslazione motorizzata XY: 150 mm (6 pollici)
    Esempio di piattaforma rotante Rotazione manuale a 360°;
    Motorizzato: rotazione a 360°;
    Sistema informatico Processore multicore a 64 bit, Windows* 7.0; Display a schermo piatto da 23 pollici opzionale
    Software Software di analisi e funzionamento Vision64;
    Software per la misurazione delle sollecitazioni: deflessione del cantilever;
    Software per sutura: software di imaging per scansione 3D
    Dispositivo di smorzamento delle vibrazioni smorzamento degli urti disponibile
    Intervallo di lunghezza di scansione 55 mm (2 pollici)
    Punti dati per scansione Fino a 120.000 punti dati
    Spessore massimo del campione 50 mm (2 pollici)
    Dimensione massima del wafer 200 mm (8 pollici)
    Riproducibilità dell'altezza del gradino <4A1σ su un passo di 1μm
    Gamma verticale 1 mm (0,039 pollici)
    Risoluzione verticale Corrente massima 1A (con intervallo verticale di 6,55 μm)
    Tensione di ingresso 100 - 240 V CA, 50 - 60 Hz
    Intervallo di temperatura Intervallo di funzionamento da 20 a 25 °C (da 68 a 77 °F)
    Intervallo di umidità ≤80%, senza condensa
    Dimensioni e peso del sistema 455 mm L x 550 mm P x 370 mm H
    (452 cm L x 57 cm P x 37 cm H);
    34 kg (75 libbre);
    Accessorio: 550 mm L x 585 mm P x 445 mm H (216 pollici L x 23 pollici P x 175 pollici H);
    217 kg (48 libbre)

    Chi siamo

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    Fondata nel 2015, MSK (Tianjin) International Trading CO.,Ltd è cresciuta continuamente e ha superatoAutenticazione Rheinland ISO 9001Con i centri di rettifica a cinque assi di fascia alta tedeschi SACCKE, il centro di ispezione utensili a sei assi tedesco ZOLLER, la macchina taiwanese PALMARY e altre attrezzature di produzione avanzate internazionali, ci impegniamo a produrredi alta gamma, professionale ed efficienteUtensile CNC.
    La nostra specialità è la progettazione e la produzione di utensili da taglio in metallo duro integrale di ogni tipo:Frese, punte da trapano, alesatori, maschi e utensili speciali.La nostra filosofia aziendale è quella di fornire ai nostri clienti soluzioni complete che migliorino le operazioni di lavorazione, aumentino la produttività e riducano i costi.Servizio + Qualità + PrestazioniIl nostro team di consulenza offre ancheknow-how di produzione, con una gamma di soluzioni fisiche e digitali per aiutare i nostri clienti a navigare in sicurezza nel futuro dell'industria 4.0. Per informazioni più approfondite su qualsiasi area specifica della nostra azienda, si prega diesplora il nostro sito orutilizzare la sezione Contattaciper contattare direttamente il nostro team.

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    FAQ

    D1: Chi siamo?

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    D3: Potete spedire i prodotti al nostro spedizioniere in Cina?

    A3: Sì, se avete uno spedizioniere in Cina, saremo lieti di inviargli i prodotti.

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    A4: Normalmente accettiamo T/T.

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    A5: Sì, sono disponibili servizi OEM e di personalizzazione, e offriamo anche un servizio di stampa di etichette.

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    3) Alta qualità - L'azienda dimostra sempre con sincera intenzione che i prodotti che fornisce sono di altissima qualità.

    4) Assistenza post-vendita e supporto tecnico - L'azienda fornisce assistenza post-vendita e supporto tecnico in base alle esigenze e ai requisiti del cliente.


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