Højpræcisions pen-overfladeprofiler | Nanometertrininstrument til halvledere
Bestillingsvejledning
På grund af produktets særlige karakter er prisen vist på siden en depositumspris, ikke den faktiske pris. Kontakt venligst kundeservice for et tilbud.
Ordrer afgivet direkte uden forudgående kontakt kan ikke sendes! Tak for dit samarbejde! For mere produktinformation, kontakt venligst kundeservice for at modtage produktbrochurer.
Højpræcisionspen-overfladeprofiler – måling af nanometertrinhøjde og overfladeruhed
Denne kontakttype pen-overfladeprofiler er et præcisionsmetrologiinstrument designet til måling af trinhøjde, overfladeruhed og 3D-topografi med høj opløsning. Ved hjælp af en diamantpen, der forsigtigt scanner prøveoverfladen, sporer systemet nøjagtigt mikroskopiske toppe og dale for at levere pålidelige, repeterbare data til kvalitetskontrol, forskning og udvikling samt produktionsmiljøer.
Sådan fungerer det
Måleprincippet er baseret på en penbaseret kontaktmetode. Når pennen bevæger sig hen over overfladen, følger dens lodrette forskydning overfladeprofilen. Denne bevægelse omdannes til et elektrisk signal via en målebro, hvilket producerer et amplitudemoduleret output, der er proportionalt med forskydningen. Efter forstærkning, fasefølsom ensretning og avanceret filtrering (inklusive støj- og bølgefiltre) udsender systemet et rent, stabilt signal – fri for ekstern interferens og bølgeeffekter – hvilket sikrer en høj nøjagtig ruheds- og trinhøjdeanalyse.
Nøgleapplikationer
Halvlederwafermetrologi
MEMS og mikrostrukturer
Tynd film og belægningstykkelse
Profilering af solcelleoverflader
Præcisionsoptik og medicinsk udstyr
Produktfordele:
Stabil ydeevne, hurtig transmission, automatisk kalibrering, præcis måling, hurtig respons og overvågning i realtid.
Stabil ydeevne, desktop design.
Det revolutionerende design til stationære computere opnår en balance mellem høj ydeevne, brugervenlighed og omkostningseffektivitet.
Kompakt og pålideligt design
Optimeret hardwarekonfiguration, kompakt struktur, forbedret testnøjagtighed og stabilitet samt høj effektivitet.
Overlegne materialer, holdbare og langtidsholdbare.
Udsøgt håndværk, godt håndværk, høj effektivitet og lang levetid.
Produktinformation
Produktoversigt: Step Instrument Probe Profilometer (Step Analyzer) har et revolutionerende borddesign, der kombinerer brancheførende teknologi og design for at opnå en balance mellem høj ydeevne, brugervenlighed og omkostningseffektivitet med forbedret proceskontrol fra forskning og udvikling til kvalitetskontrol.
Enheden opnår fremragende repeterbarhed ved 4A (0,4 nm) og en stigning i scanningshastighed på 40 %, hvilket understøtter nanoskala-overfladetopografi-målingsteknologi i industrier som mikroelektronik, halvledere, berøringsskærme, solenergi, lysstyrke-LED'er, medicin og materialevidenskab.
Udstyrsfunktioner
Uovertruffen ydeevne, trinhøjde reproducerbarhed under 4A
Innovativt design, omfattende tilbehør og optimeret drifts- og analysesoftware gør det muligt for Step-instrumentet at opnå forbedret ydeevne og overlegen reproducerbarhed af trinhøjden.
Enkeltbuedesign for banebrydende scanningsstabilitet
Enkeltbuedesignet gør Step-instrumentet mere robust og minimerer dermed påvirkningen fra omgivende støj. Step-instrumentets scanningsprober muliggør samtidig stor lodret rækkevidde og scanning med lav kraft.
Opgraderet "Smart Electronics" for forbedret målenøjagtighed og stabilitet
Step-instrumentets opgraderede "Smart Electronics", der anvender en avanceret processor, reducerer støjniveauet og gør det til et mere kraftfuldt system, der er i stand til at måle trinhøjder <10 nm.
Optimeret hardwarekonfiguration reducerer dataindsamlingstiden med 40%
Ved at bruge et unikt direktedrevet scanningstrin accelereres måletiden med 40 %, samtidig med at brancheførende ydeevne opretholdes. Step-instrumentets 64-bit parallelle behandling Vision64 færdiggør og behandler store 3D-datafiler på kortere tid.
64-bit Vision64 synkron databehandlingssoftware øger dataanalysehastigheden ti gange.
Vision64 er Step Instruments 64-bit parallelle behandlings- og analysesoftware, der muliggør hurtigere indlæsning af 3D-topografidata og hurtigere anvendelse af filtre og analyse af databaser på tværs af flere regioner.
Intuitiv Vision64 brugergrænseflade for nemmere brug.
Vision64-softwaren leverer en intuitiv og forenklet brugergrænseflade, der kombinerer intelligent arkitektur og brugerdefinerede automatiseringsfunktioner til hurtig og omfattende dataindsamling og -analyse. Step Instruments' Vision64 forenkler og accelererer drift og dataanalyse betydeligt.
Automatisk spidsjusteringssystem til nem probeskift
Step-instrumentets selvjusterende probeenhed giver brugerne mulighed for hurtigt og nemt at skifte mellem forskellige prober, hvilket eliminerer potentielle risici under omskiftningsprocessen.
Bredt udvalg af probemodeller
Step Instrument tilbyder en bred vifte af probestørrelser og -former, der opfylder stort set alle applikationsbehov. Step Instrument har en hurtigere og enklere probeskiftsproces.
Design med én sensor
Giver lav kraft og et bredt scanningsområde på et enkelt plan.
Sikring af højkapacitetstestning
Step-instrumentet muliggør hurtig og nem opsætning og udførelse af automatiserede multi-prøve-målingstilstande for at verificere den præcise tykkelse af tynde film på tværs af hele waferoverfladen med overlegen repeterbarhed. Denne effektive overvågning sparer værdifuld tid og penge ved at øge testgennemstrømningen.
Anvendelsessager
Tyndfilmstestning - Sikring af høje udbytter
Inden for halvlederproduktion kan streng overvågning af ensartetheden af aflejrings- og ætsningsforhold, tyndfilmsspænding og ITO-måling af tyndfilmstykkelse på berøringsskærme spare betydelig tid og penge. Inhomogenitet eller overdreven spænding i tyndfilmen kan føre til lave udbytter og dårlig ydeevne for det færdige produkt. Step-instrumentet muliggør nem og hurtig opsætning og udførelse af automatiserede flerpunktstestprogrammer for at verificere den præcise tykkelse af wafertyndfilm ned til nanometerniveau. Step-instrumentets stærke reproducerbarhed giver ingeniører præcis tyndfilmstykkelse og spændingstest for præcist at justere ætsning og aflejring for optimale resultater.
Inspektion af overfladeruhed - Sikring af ydeevne
Step-instrumentet er velegnet til rutinemæssig vurdering af overfladeruhed på præcisionsmaskindele i mange industrier, herunder bilindustrien, luftfart og medicinsk udstyr. For eksempel kan ruheden af hydroxyapatitbelægningen på bagsiden af ortopædiske implantater påvirke vedhæftning og effektivitet efter implantation. Hurtig analyse af overfladeruhed ved hjælp af Step-instrumentet kan bestemme, om krystalproduktionen lever op til forventningerne, og om implantater opfylder produktkravene. Ved hjælp af Vision64-databasens bestået/ikke bestået-kriterier kan kvalitetsstyringsafdelinger nemt afgøre, om implantater skal omarbejdes, eller om deres kvalitet skal sikres.
Analyse af solcelleanlæg - Reduktion af produktionsomkostninger
Inden for solcellemarkedet er Step-instrumentet ideelt til måling af de kritiske dimensioner af ledende sølvgitterlinjer på monokrystallinske og polykrystallinske siliciumsolpaneler. Højden, bredden og kontinuiteten af sølvlinjerne er tæt forbundet med solcellens energiledningsevne. Ideelt set bør produktionen udnytte sølv på passende vis for at opnå bedre ledningsevne uden at spilde dyrt sølv. Step-instrumentet opnår dette gennem softwareanalyse, der rapporterer de kritiske dimensioner af sølvgitterlinjerne for at bestemme de præcise komponenter, der kræves for ledningsevnen. Vision64's dataanalysemetoder og automatiseringsfunktioner bidrager til at automatisere denne verifikationsproces.
Mikrofluidikteknologi - Detektion af design og ydeevne
Step-instrumentet er et probeprofilometer, der er i stand til at måle lysfølsomme materialer med reproducerbarhed på Ångstrøm-niveau over et stort vertikalt område (op til 1 mm). Forskere inden for MEMS- og mikrofluidikteknologiindustrien kan bruge Step-instrumentet til kvalifikationstest for at sikre, at dele opfylder specifikationerne. Lavtryksmålefunktionen NLite+ berører let det lysfølsomme materiale for at måle lodrette trin og ruhed.
Tekniske parametre
| Måleteknologi | Probeprofileringsteknologi |
| Målefunktion | 2D-overfladeprofilmåling |
| Valgfri 3D-måling/ | |
| Eksempelvisning | Valgbar forstørrelse, 1 til 4 mm synsfelt |
| Sondesensor | Lav inertisensor (LIS3) |
| Sondetryk | Brug af LIS3-sensor: 1 til 15 mg |
| Lav kraft (valgfrit) | Brug af N-Lite+ lavtrykssensor: 0,03 til 15 mg |
| Probeindstillinger | Valgbart område for probekrumningsradius: 50 nm til 25 μm; |
| Højde-til-diameter-forhold (HAR) spidser: 10 μm * 2 μm og 200 μm * 20 μm; | |
| Tilpassede tips er tilgængelige efter anmodning. | |
| Prøve X/Y-fase | Manuel XY-translation: 100 mm (4 tommer) |
| Motoriseret XY-translation: 150 mm (6 tommer) | |
| Eksempel på roterende scene | Manuel, 360° rotation; |
| Motoriseret: 360° rotation; | |
| Computersystem | 64-bit multi-core linjeprocessor, Windows* 7.0; Valgfri 23-tommer fladskærm |
| Software | Vision64 drift- og analysesoftware; |
| Spændingsmålingssoftware: Cantilever-udbøjning; | |
| Sutureringssoftware: 3D-scanningssoftware til billeddannelse | |
| Vibrationsdæmpningsenhed | Støddæmpning tilgængelig |
| Scanningslængdeområde | 55 mm (2 tommer) |
| Datapunkter pr. scanning | Op til 120.000 datapunkter |
| Maksimal prøvetykkelse | 50 mm (2 tommer) |
| Maksimal waferstørrelse | 200 mm (8 tommer) |
| Reproducerbarhed af trinhøjde | <4A1σ på et trin på 1 μm |
| Vertikal rækkevidde | 1 mm (0,039 tommer) |
| Vertikal opløsning | Maksimum 1A (ved 6,55 μm lodret rækkevidde) |
| Indgangsspænding | 100-240 V vekselstrøm, 50-60 Hz |
| Temperaturområde | Driftsområde 20 til 25 °C (68 til 77 °F) |
| Fugtighedsområde | ≤80%, Ikke-kondenserende |
| Systemstørrelse og vægt | 455 mm B x 550 mm D x 370 mm H |
| (473 cm B x 51 cm D x 38 cm H); | |
| 34 kg (75 lbs); | |
| Tilbehør: 550 mm L x 585 mm B x 445 mm H (216 tommer L x 23 tommer B x 175 tommer H); | |
| 217 kg (48 lbs) |
Om os
Fabriksprofil
Hvorfor vælge os
Ofte stillede spørgsmål
Q1: Hvem er vi?
A1: MSK (Tianjin) Cutting Technology CO.Ltd blev grundlagt i 2015 og er vokset kontinuerligt og har bestået Rheinland ISO 9001
autentificering. Med tyske SACCKE high-end fem-aksede slibecentre, tyske ZOLLER seks-aksede værktøjsinspektionscenter, Taiwan PALMARY-maskine og andet internationalt avanceret produktionsudstyr, er vi forpligtet til at producere high-end, professionelt og effektivt CNC-værktøj.
Q2: Er du handelsvirksomhed eller producent?
A2: Vi er fabrikken af hårdmetalværktøjer.
Q3: Kan I sende produkter til vores speditør i Kina?
A3: Ja, hvis du har en speditør i Kina, sender vi gerne produkter til ham/hende.
Q4: Hvilke betalingsbetingelser er acceptable?
A4: Normalt accepterer vi T/T.
Q5: Accepterer I OEM-ordrer?
A5: Ja, OEM og tilpasning er tilgængelige, og vi tilbyder også etiketudskrivningsservice.
Q6: Hvorfor skal du vælge os?
A6:1) Omkostningskontrol - indkøb af produkter af høj kvalitet til en passende pris.
2) Hurtig respons - inden for 48 timer vil professionelt personale give dig et tilbud og besvare dine spørgsmål.
3) Høj kvalitet - Virksomheden beviser altid med oprigtig intention, at de produkter, den leverer, er af 100% høj kvalitet.
4) Eftersalgsservice og teknisk vejledning - Virksomheden tilbyder eftersalgsservice og teknisk vejledning i henhold til kundens krav og behov.
